문맥 (context)
[청구항 1]
반도체기판 상에 배치된 하부 전극
상기 하부 전극 상에 배치된 자기터널접합 패턴
상기 자기터널접합 패턴에 접속하는 비트라인; 및
상기 자기터널접합 패턴의 적어도 한 측벽에 배치되는 자속 가이드막(magnetic flux guide layer)을 구비하는 것을 특징으로 하는 자기 메모리 장치
[청구항 2]
제 1 항에 있어서,상기 자속 가이드막은 강자성을 갖는절연성물질들중적어도하나인것을특징으로 하는자기 메모리 장치.
[청구항 3]
제 2 항에 있어서,상기 자속 가이드막은 ni-zn 페라이트들 및 mn-zn페라이트들중적어도하나인것을특징으로 하는자기 메모리 장치.
[청구항 4]
제 1 항에 있어서,상기 자속 가이드막은10옹스트롬내지200옹스트롬의두께형성되는것을특징으로 하는자기 메모리 장치.
[청구항 5]
제 1 항에 있어서,상기 자기터널접합 패턴과 상기 자속 가이드막 사이에 배치되는 측벽 절연막더 구비하는자기 메모리 장치.
[청구항 6]
제 5 항에 있어서,상기 측벽 절연막은 알루미늄 산화막, 티타늄 산화막, 탄탈륨 산화막, 실리콘 산화막, 실리콘 질화막, 실리콘 산화질화막,하프늄 산화막및마그네슘산화막중의적어도하나포함하는것을특징으로 하는자기 메모리 장치.
[청구항 7]
제 5 항에 있어서,상기 측벽 절연막nan은5옹스트롬내지300옹스트롬의두께갖는것을특징으로 하는자기 메모리 장치.
[청구항 8]
제 5 항에 있어서,상기 자속 가이드막은 강자성을 갖는 도전성 물질들 및 산화물 또는 질화물로 이루어진절연성강자성막들중적어도하나인것을특징으로 하는자기 메모리 장치.
[청구항 9]
제 8 항에 있어서,상기 자속 가이드막은 철(fe), 코발트(co), 니켈(ni), 구리(cu), 마그네슘(mg), 가돌리늄(gd), 디스프로슘(dy), 크롬(cr), 유로피움(eu), 이트륨(y) 및 이들의 화합물 및 이들의 산화물 또는 질화물로 이루어진절연성강자성막들중의적어도하나포함하는것을특징으로 하는자기 메모리 장치.
[청구항 10]
제 1 항에 있어서,상기 자기터널접합 패턴은 차례로 적층된 고정막, 피고정막, 터널 절연막 및 자유막을 포함하되, 상기 고정막은 반강자성막(anti-ferromagnetic layer)들 중의 적어도 한가지이고, 상기 피고정막은 강자성막들 중의 적어도 한가지이고,상기 터널 절연막은 마그네슘 산화막 및 알루미늄 산화막 중의 한가지이고, 상기 자유막은강자성막들중가지인것을특징으로 하는자기 메모리 장치.
[청구항 11]
제 10 항에 있어서,상기 고정막은 ptmn, irmn, mno, mns, mnte, mnf2, fef2, fecl2, feo, cocl2, coo, nicl2, nio 및 cr 중에서 선택된 적어도 한가지이고, 상기 피고정막은 철(fe), 코발트(co), 니켈(ni), 구리(cu), 마그네슘(mg), 가돌리늄(gd), 디스프로슘(dy), 크롬(cr), 유로피움(eu), 이트륨(y), 루세늄 및 이들의 화합물 중에서 선택된 적어도 한가지이고, 상기 자유막은 철(fe), 코발트(co), 니켈(ni), 구리(cu), 마그네슘(mg), 가돌리늄(gd), 디스프로슘(dy), 크롬(cr), 유로피움(eu), 이트륨(y) 및 이들의 화합물 중에서 선택된가지인것을특징으로 하는자기 메모리 장치.
[청구항 12]
제 1 항에 있어서,상기 고정막및 피고정막은 상기 하부 전극에 정렬됨으로써, 상기 하부 전극과 실질적으로 같은 면적을 갖고, 상기 터널 절연막 및 상기 자유막은상기하부 전극의중앙상부배치되는것을특징으로 하는자기 메모리 장치.
[청구항 13]
제 12 항에 있어서,상기 자속 가이드막은 상기 터널 절연막 및 상기 자유막의 측벽에 배치되어, 상기 피고정막의상부면노출시키는것을특징으로 하는자기 메모리 장치.
[청구항 14]
제 1 항에 있어서,상기 자속 가이드막은 상기 자기터널접합 패턴의 상부면에 실질적으로 수직한자화방향갖는것을특징으로 하는자기 메모리 장치.
[청구항 15]
제 1 항에 있어서,상기 자속 가이드막은 상기 자기터널접합 패턴의 상부면에 실질적으로 평행한자화방향갖는것을특징으로 하는자기 메모리 장치.
[청구항 16]
제 1 항에 있어서,상기 자속 가이드막은 상기 자기터널접합 패턴의 측벽으로부터 연장되어상기하부 전극의측벽덮는것을특징으로 하는자기 메모리 장치.
[청구항 17]
제 1 항에 있어서,상기 자기터널접합 패턴의 평면적 모양은 짧은 측벽들 및 이들을 연결하는 긴 측벽들을 갖는 직사각형이되, 상기 자속 가이드막은 상기 자기터널접합 패턴의 짧은 측벽에 인접하게배치되는것을특징으로 하는자기 메모리 장치.
[청구항 18]
제 17 항에 있어서,상기 자속 가이드막은 상기 자기터널접합 패턴의 측벽을 둘러싸도록, 상기 자기터널접합 패턴의 짧은 측벽으로부터 연장되어 상기 자기터널접합 패턴의 긴측벽덮는것을특징으로 하는자기 메모리 장치.
지시문 (instruction)
주어진 본문을 읽고 관련 정보를 분석하여 질문에 답하라.
질문 (question)
자기 메모리 장치에서 자속 가이드막이 자기터널접합 패턴의 측벽에 배치될 때, 피고정막의 상부면을 노출시키기 위한 자속 가이드막의 구체적인 배치 관계는 무엇인가?
추론 과정 (compact_reasoning)
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1과제 해석
task_interpretation자속 가이드막이 피고정막의 상부면을 노출시키기 위해 자기터널접합 패턴의 어느 부분에 배치되는지 그 구체적인 관계를 파악해야 한다.
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2정보 추출
information_extraction청구항 13에서 자속 가이드막의 배치 위치와 그에 따른 효과(피고정막 상부면 노출)에 대한 정보를 추출한다.
- 상기 자속 가이드막은 상기 터널 절연막 및 상기 자유막의 측벽에 배치되어, 상기 피고정막의상부면노출시키는것을특징으로 하는
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3근거 선택
evidence_selection자속 가이드막이 배치되는 구체적인 위치인 '터널 절연막 및 자유막의 측벽'을 핵심 근거로 선택한다.
- 상기 자속 가이드막은 상기 터널 절연막 및 상기 자유막의 측벽에 배치되어
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4논리 통합
logical_integration자속 가이드막이 자기터널접합 패턴의 전체 측벽이 아닌, 터널 절연막과 자유막이 위치한 측벽 영역에 배치됨으로써 피고정막의 상부면이 노출된다는 논리를 구성한다.
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5결론 도출
conclusion_formulation자속 가이드막은 터널 절연막 및 자유막의 측벽에 배치됨으로써 피고정막의 상부면을 노출시킨다는 결론을 도출한다.
- 상기 자속 가이드막은 상기 터널 절연막 및 상기 자유막의 측벽에 배치되어, 상기 피고정막의상부면노출시키는것
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6답변 생성
answer_generation추출된 정보를 바탕으로 질문에 대한 직접적인 답변을 작성한다.
- 상기 자속 가이드막은 상기 터널 절연막 및 상기 자유막의 측벽에 배치되어
근거 (evidence)
- 상기 자속 가이드막은 상기 터널 절연막 및 상기 자유막의 측벽에 배치되어, 상기 피고정막의상부면노출시키는것을특징으로 하는
- 상기 자속 가이드막은 상기 터널 절연막 및 상기 자유막의 측벽에 배치되어
- 상기 자속 가이드막은 상기 터널 절연막 및 상기 자유막의 측벽에 배치되어, 상기 피고정막의상부면노출시키는것
최종 답변 (final_answer)
자속 가이드막은 상기 터널 절연막 및 상기 자유막의 측벽에 배치됨으로써 피고정막의 상부면을 노출시킨다.
핵심 해석 (core_interpretation)
자속 가이드막의 배치 위치를 터널 절연막과 자유막의 측벽으로 한정함으로써, 피고정막의 상부면을 외부로 노출시키는 구조적 특징을 나타낸다.