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기준전위배선을 구비한 반도체 집적회로

uuid
dffdb127-cac3-5ee0-8753-dc50d2b9a293
출원번호
1019860008240
출원연도
1986
IPC
H01L 27/00
분류
전기(H섹션)
문맥 (context)
[청구항 2] 제1항에 있어서,전원전위배선과 기준전위배선이 추가로 구성되어지되, 적어도 상기 제1, 제2캐패시터 전극중 하나의 전극이 상기 전원전위배선과 접지전위배선중 하나의 배선에 접속되어된것을특징으로 하는반도체 집적회로. [청구항 3] 제2항에 있어서,상기 접속된 상기 전극은 캐패시터부분과 접속부분을 가지며, 상기 접속부분은 상기 캐패시터부분의 길이보다 더 작은폭된것을특징으로 하는반도체 집적회로. [청구항 4] 제2항에 있어서,상기 접속된 전극은 이 접속된 전극에 접속된 상기 전원전위배선 및 접지전위배선하나와 대응하는 배선에 비해 상기 칩내에 따른 크기의 도전층으로 형성되고, 접속홀을 통해서 상기 대응하는배선접속되어진것을특징으로 하는반도체 집적회로. [청구항 5] 제2항에 있어서,상기 접속된 전극과 이 접속된 전극에 연결되는 해당 배선은 상기 칩내에 같은 크기의 도전층으로 형성되어접속된것을특징으로 하는반도체 집적회로. [청구항 6] 제2항에 있어서,상기제1의 캐패시터의 다른 한 전극은 상기 전원전위배선에 접속되고, 상기 제2의 캐패시터의 다른 한 전극은상기접지전위배선접속된것을특징으로 하는반도체 집적회로. [청구항 7] 제1항에 있어서,상기제1, 제2캐패시터 전극중 최소한 하나의 다른 한 전극이상기기준전위배선의아래표면밑배치된것을특징으로 하는반도체 집적회로. [청구항 8] 제7항에 있어서,상기제1, 제2캐패시터의 상기 양 다른 전극이기준전위배선아래표면밑배치된것을특징으로 하는반도체 집적회로. [청구항 9] 제1항에 있어서,기준전위배선과 접지전위배선이 추가로 구성되어 지되, 적어도 상기 전원전위배선과 접지전위배선중 하나의 배선이 상기 기준전위배선과 겹쳐쳐서 상기 제1, 제2캐패시터중 하나의 캐패시터가 형성되어된것을특지으로 하는반도체 집적회로. [청구항 10] 상기 제1항에 있어서,기준전위배선과 접지전위배선 및 복수의 캐패시터전극이 추가로 구성되어지되, 상기 전원전위배선과 접지전위배선중 하나의 배선이 상기 기준전위배선과 겹쳐져서 상기 제1, 제2캐패시터 중 하나의 캐패시터가 형성되고, 상기 제1, 제2의 캐패시터의 다른 전극을 구성하는 상기 복수의 캐패시터 전극은상기전원전위배선과접지전위배선접속된것을특징으로 하는반도체 집적회로. [청구항 11] 제1항에 있어서,적어도 하나이상의 선호배선이 추가로 구성되어지되, 상기 신호배선은 상기 기준전위배선에 인접하게형성되어진것을특징으로 하는반도체 집적회로. [청구항 12] 제3항에 있어서,적어도 하나 이상의 신호배선이 추가로 구성되어지되, 상기 신호배선은 상기 기준전위배선을 따라 상기 접속부분과 교차되어형성된것을특징으로 하는반도체 집적회로. [청구항 13] 제1항에 있어서,상기 기준전위배선은 상기 반도체 집적회로칩내에 설치된 다수의 회로에다기준전위공급하도록된것을특징으로 하는반도체 집적회로. [청구항 14] 제1항에 있어서,적어도 하나의 회로는 상기 전원전위와 접지전위 사이의 전위레벨인 기준전위가 공급되는센서회로인것을특징으로 하는반도체 집적회로. [청구항 15] 제1항에 있어서,상기 반도체집적회로칩nan은다이나믹칩인것을특징으로 하는반도체집적회로. [청구항 16] 제1항제2캐패시터가 상기 칩내에상호교대배열된것을특징으로 하는반도체 집적회로. [청구항 17] 제1항에 있어서,상기제1, 제2캐패시터는 상기 기준전위배선을 따라 극일하게배열된것을특징으로 하는반도체 집적회로. [청구항 18] 제1항에 있어서,상기 복수의 제1, 제2캐패시터는 상기 기준전위 배선을 따라 배열되고, 상기 각 캐패시터 사이에 형성된 틈은 각캐패시터의길이형성된것을특징으로 하는반도체 집적회로. [청구항 19] 제1항에 있어서,각각의 상기제1, 제2캐패시터의 길이는 상기 기준전위배선의 폭보다적어도5배이상의길이형성된것을특징으로 하는반도체 집적회로. [청구항 20] 제1항에 있어서,각각의 상기제1, 제2캐패시터의 길이는 상기 기준전위배선의 폭보다적어도20배이상의길이형성된것을특징으로 하는반도체 집적회로. [청구항 21] 제1항에 있어서,상기제1, 제2캐패시터의 캐패시턴스거의동일한것을특징으로 하는반도체 집적회로.
지시문 (instruction)
주어진 본문을 읽고 관련 정보를 분석하여 질문에 답하라.
질문 (question)
제2항을 인용하는 청구항들 중, 캐패시터 전극의 접속부분이 캐패시터부분의 길이보다 더 작은 폭으로 형성되는 경우, 해당 전극과 연결되는 배선의 크기 및 형성 방식에 따른 구성 차이는 무엇인가?
추론 과정 (compact_reasoning)
  1. 1과제 해석task_interpretation

    캐패시터 접속부분의 폭이 캐패시터 부분의 길이보다 작은 경우(청구항 3의 조건), 연결되는 배선의 크기와 형성 방식의 차이를 비교 분석해야 한다.

  2. 2정보 추출information_extraction

    청구항 3은 접속부분이 캐패시터 부분의 길이보다 작은 폭임을 정의하며, 청구항 4와 5는 이 전극과 연결되는 배선의 구성을 각각 다르게 설명한다.

    • 상기 접속부분은 상기 캐패시터부분의 길이보다 더 작은폭된것
    • 상기 접속된 전극과 이 접속된 전극에 연결되는 해당 배선은 상기 칩내에 같은 크기의 도전층으로 형성되어접속된것
  3. 3근거 선택evidence_selection

    청구항 4에서는 전극이 대응 배선보다 작은 크기의 도전층으로 형성되어 접속홀을 통해 연결됨을, 청구항 5에서는 전극과 배선이 같은 크기의 도전층으로 형성됨을 추출한다.

    • 상기 접속된 전극과 이 접속된 전극에 연결되는 해당 배선은 상기 칩내에 같은 크기의 도전층으로 형성되어접속된것
  4. 4논리 통합logical_integration

    두 구성의 차이는 전극의 크기가 대응 배선보다 작은지(청구항 4), 아니면 배선과 동일한 크기인지(청구항 5)에 있다.

  5. 5결론 도출conclusion_formulation

    전극이 배선보다 작은 크기로 형성되어 접속홀을 통해 연결되는 방식과, 전극과 배선이 동일한 크기로 형성되어 접속되는 방식의 차이로 결론을 도출한다.

  6. 6답변 생성answer_generation

    추출된 정보를 바탕으로 질문에 대한 비교 답변을 작성한다.

근거 (evidence)
  • 상기 접속부분은 상기 캐패시터부분의 길이보다 더 작은폭된것
  • 상기 접속된 전극과 이 접속된 전극에 연결되는 해당 배선은 상기 칩내에 같은 크기의 도전층으로 형성되어접속된것
최종 답변 (final_answer)
캐패시터 접속부분의 폭이 캐패시터 부분의 길이보다 작은 경우, 연결되는 배선의 구성은 두 가지로 나뉜다. 첫째, 접속된 전극이 대응하는 배선보다 작은 크기의 도전층으로 형성되어 접속홀을 통해 배선에 접속되는 방식이 있으며, 둘째, 접속된 전극과 연결되는 해당 배선이 칩 내에서 동일한 크기의 도전층으로 형성되어 접속되는 방식이 있다.
핵심 해석 (core_interpretation)
캐패시터 전극의 접속부 구조에 따라, 전극을 배선보다 작은 크기로 형성하여 접속홀로 연결하거나 전극과 배선을 동일한 크기의 도전층으로 형성하여 연결하는 구성적 차이를 나타낸다.