액정표시소자 document_id A220623011399

본 발명은 액정표시소자에 관한 것으로, 특히 점등검사를 위하여 패드부에 트랜지스터를 적용하는 방식에서 게이트패드 및 데이터패드의 단락단자를 AlNd 합금으로 구성하여 점등 검사시에 사이드효과(side effect)의 발생을 방지할 수 있는 액정표시소자에 관한 것이다. 최근 디스플레이소자는 시각정보 전달매체로서 그 중요성이 한층 더 강조되고 있으며, 여러 가지 종류의 경쟁력 있는 디스플레이소자들이 많이 개발되어지고 있다. 그러한 여러 가지 종류의 디스플레이소자 중에서 향후 주요한 위치를 점하기 위해서는 저소비전력화, 박형화, 경량화, 고화질화 등의 요건을 충족시켜야 한다. 현재 평판 디스플레이(FPD: Flat Panel Display)의 주력 제품인 액정표시소자(LCD: Liquid Crystal Display)는 디스플레이의 이러한 조건들을 만족시킬 수 있는 성능뿐만 아니라 양산성까지 갖추었기 때문에, TV나 자동차용 네비게이션시스템 등 여러 응용분야에 널리 사용되고 있으며, 기존의 음극선관(Cathode Ray Tube; CRT)이 지배하고 있던 시장을 대체할 수 있는 핵심 디스플레이소자로서 자리 잡고 있다. 일반적으로, 액정표시소자는 매트릭스(matrix) 형태로 배열된 액정셀들에 화상정보에 따른 데이터신호를 개별적으로 공급하여, 상기 액정셀들의 광투과율을 조절함으로써 원하는 화상을 표시할 수 있도록 한 표시장치이다. 상기 액정표시소자는 복수의 화소가 매트릭스형태로 배열되는 액정패널과, 상기 화소를 구동시키는 게이트구동부와 데이터구동부를 포함하여 이루어진다. 상기 액정패널은 균일한 셀-갭이 유지되도록 합착된 박막트랜지스터 어레이 기판, 컬러필터 기판 및 상기 두 기판 사이에 충진된 액정층으로 구성된다. 그리고, 상기 박막트랜지스터 어레이 기판과 컬러필터기판이 합착된 액정패널에는 공통전극과 화소전극이 형성되어 상기 액정층에 전계를 인가한다. 따라서, 상기 공통전극에 전압이 인가된 상태에서 상기 화소전극에 인가되는 화상정보의 전압을 제어하게 되면, 상기 액정층의 액정은 상기 공통전극과 화소전극 사이의 전계에 따라 유전이방성에 의해 회전함으로써, 화소별로 빛을 선택적으로 투과시키거나 차단시켜 문자나 화상을 표시하게 된다. 상기한 바와 같은 액정표시소자는 상기 게이트구동부 및 데이터구동부가 결합되기 전의 액정패널 상태에서 검사를 실시하여 불량여부를 확인하고 있다. 이와 같은 검사를 통상 오토프로브(auto-probe) 검사라 한다. 도 1은 상기와 같은 액정패널의 개략적인 구조를 나타내는 평면도이다. 도 1에 도시된 바와 같이, 액정패널은 복수의 화소가 매트릭스형태로 배열되는 화상표시부(13)와, 패드영역에 형성되어 상기 화상표시부(13)에 형성된 복수의 게이트배선과 접속되는 복수의 게이트패드(14) 및 복수의 데이터배선과 접속되는 복수의 데이터패드(15)로 구성된다. 이때, 게이트패드(14)와 데이터패드(15)는 컬러필터기판(2)과 중첩되지 않는 박막트랜지스터 어레이 기판(1)의 외곽에 형성되며, 상기 게이트패드(14)는 게이트구동부로부터 공급되는 주사신호를 화상표시부(13)의 게이트배선에 공급하고, 상기 데이터패드(15)는 데이터구동부로부터 공급되는 화상정보를 화상표시부(13)의 데이터배선에 공급한다. 도면에는 도시하지 않았지만, 상기 박막트랜지스터 어레이 기판(1)과 컬러필터기판(2)은 상기 화상표시부(13)의 외곽에 형성된 실패턴(seal pattern)에 의해 일정한 셀-갭(cell-gap)이 유지되도록 합착되어 액정패널을 형성하게 된다. 전술한 바와 같이, 액정 표시소자는 상기 게이트구동부 및 데이터구동부가 결합되기 전에 액정패널 상태에서 검사를 실시하여 불량발생 여부를 확인해야만 한다. 상기 액정패널을 검사하기 위해서는 모든 게이트패드(14)와 데이터패드(15)를 통해 액정패널의 게이트배선과 데이터배선에 테스트신호를 인가함으로써, 액정패널의 이상 여부를 검사한다. 테스트신호의 인가는 게이트패드(14)와 데이터패드(15)에 연결된 게이트 테스트패드(24)와 데이터 테스트패드(25)를 통해 이루어진다. 상기 게이트 테스트패드(24)와 데이터 테스트패드(25)는 니들(도면표시하지 않음)이 접촉함에 따라 테스트신호(즉, 구동신호)가 인가되며, 이 신호가 각각 게이트패드(14) 및 데이터패드(15)를 통해 게이트배선과 데이터배선에 인가된다. 도 2는 도 1에 도시된 게이트패드 영역의 게이트 테스트패드부의 구조를 나타내는 도면이다. 이때, 액정패널의 불량 검사 방식은 패드부에 트랜지스터가 구비된 방식이다. 도 2에 도시된 바와 같이, 게이트 테스트패드(24)는 게이트패드(14)와 연결되어 있고, 상기 게이트 테스트패드(24)와 게이트패드(14) 사이에는 각각 패드부 트랜지스터(35)가 구비되어 있다. 이때, 상기 패드부 트랜지스터(35)의 소스는 게이트 테스트패드(24)와 연결되고 드레인은 게이트패드(14)와 연결된다. 또한, 패드부 트랜지스터(35)의 게이트는 인에이블패드(30)에 연결되어 있다. 상기 인에이블패드(30)는 니들이 접촉함에 따라 인에이블신호가 입력되어 상기 트랜지스터(35)를 턴온시킴으로써 액정표시소자를 오토프로브로 검사하기 위한 것이다. 상기와 같은 구조의 액정표시소자에서, 니들이 인에이블패드(30) 및 게이트 테스트패드(24)에 접촉하여 인에이블신호와 테스트신호를 공급하면, 상기 인에이블신호에 의해 트랜지스터(35)가 턴온되어 테스트신호가 상기 트랜지스터를 거쳐 게이트패드(14)에 인가되어 게이트배선에 테스트신호가 공급된다. 이 테스트신호가 공급됨에 따라 각 화소의 점등상태를 파악하여 액정패널의 불량여부를 검사하게 된다. 도 2에서는 게이트패드부의 게이트 테스트패드의 구조와 검사방법에 대해서만 설명하였지만, 데이터패드부의 데이터 테스트패드의 구조와 검사방법도 게이트패드부와 동일하므로 그 설명을 생략한다. 그런데, 상기와 같은 구조의 액정패널에서는 점등검사를 포함한 불량 검사를 위하여 상기 게이트패드와 데이터패드의 갯 수만큼의 오토프로브 니들이 필요하다. 이렇게 많은 갯 수의 오토프로브 니들이 사용되게 되면, 검사 장비의 제조비용이 증가하고, 니들이 패드에 접촉하며 패드부에 찍힘 불량이 발생할 확률이 함께 증가하는 문제점을 가지고 있다. 본 발명의 다른 목적 및 특징들은 후술되는 발명의 구성 및 특허청구범위에서 설명될 것이다.