액정표시모듈 document_id A220623014086

본 발명은 액정표시장치에 관한 것으로, 특히 외력으로부터 반사판과 도광판의 손상을 예방하도록 한 액정표시모듈에 관한 것이다. 일반적인 액정표시장치는 액정표시모듈과, 이 액정표시모듈을 구동하기 위한 구동회로부로 구성된다. 액정표시모듈은 두 장의 유리기판 사이에 액정 셀들이 매트릭스 형태로 배열 되어진 액정패널과, 액정패널에 광을 조사하는 백라이트 유닛(Backlight Unit)으로 구성된다. 액정패널과 백라이트 유닛은 광 손실을 방지하기 위하여 일체화된 형태로 체결되어야 함과 아울러 외부의 충격에 의하여 손상되지 않게끔 보호되어야만 한다. 이를 위하여, 액정패널과 백라이트 유닛을 여러 개의 케이스 부재로 조립하고 있다. 여기서, 케이스 부재는 서포트 메인(Support main), 탑 케이스(Top case) 등을 포함한다. 도 1을 참조하면, 종래의 액정표시모듈은 서포트 메인(14)과, 서포트 메인(14)의 내부에 적층되는 백라이트 유닛 및 액정패널(6)과, 액정패널(6)의 가장자리와 서포트 메인(14)의 측면을 감싸기 위한 탑 케이스(2)를 구비한다. 탑 케이스(2)는 사각띠 형태로 액정패널(6)의 가장자리와 서포트 메인(14)을 감싼다. 이러한 탑 케이스(2)는 액정패널(6)의 가장자리를 감싸줌으로써 외부 충격으로부터 액정패널(6)을 보호하고, 서포트 메인(14)의 측면을 보호한다. 서포트 메인(14)은 띠 형상의 "ㅁ"자 형태로 제작되거나 도 2와 같이 무게를 감소시킬 수 있으며 재료를 줄이기 위하여 "ㄷ"자 형태로 제작되기도 한다. 이러한 서포트 메인(14)의 내측면은 백라이트 유닛과 액정패널(6)을 각각 지지할 수 있도록 계단면과 같이 단차를 가지도록 제작된다. 백라이트 유닛은 반사판(12), 프리즘 도광판(10), 다수의 광학 시트들(8), 및 도시되지 않은 램프 어셈블리를 포함한다. 이러한 액정표시모듈에서 반사판(12)과 프리즘 도광판(10)이 노출되어 있다. 따라서, 반사판(12)과 프리즘 도광판(10) 쪽으로 외력이 가해지면 반사판(12)과 프리즘 도광판(10)이 직접 손상 받는 문제점이 있다. 외력은 액정표시모듈에 대하여 신뢰성 검사를 위한 진동 충격, 푸쉬(Push) 충격, 포고(POGO) 충격, 힌지(Hinge), 스커핑(Scuffing)을 가하는 검사 과정에서 발생한다. 예를 들어, 도 1, 3과 같이 푸쉬 테스터(Push Tester)(18)로 액정표시모듈을 포고 테스트하는 경우, 푸쉬 테스터(18)로 액정표시모듈의 배면에 외력을 가하게 되면 푸쉬 테스터(18)와 직접 맞닿는 반사판(12)에 충격이 가해지고 또한, 반사판(12)과 접하는 프리즘 도광판(10)에 충격이 전달된다. 그 결과, 프리즘 도광판(10)의 배면에 형성된 프리즘이 반사판(12)으로부터 전달되는 충격에 의해 손상되고, 더불어 반사판(12)도 프리즘 도광판(10)의 프리즘에 의해 손상된다. 이러한 검사과정에서 가해지는 외력의 충격으로 인하여, 도 4와 같이 반사판(12)과 프리즘 도광판(10)이 불량(NG)이 발생된다. 이와 같이 반사판(12) 및 프리즘 도광판(10)에 결함이 발생되면, 액정표시모듈의 화면에서 밝게 보이는 화이트 스폿(white spot)이 발생하여 화질이 열화되고, 화질 불량으로 인하여 심지어 불량 처분되기도 한다.