촬상장치, 결함 보상 디바이스 및 결함 보상방법 document_id A220623047692

전하 결합 소자(CCD, Charge Coupled Devices) 이미지 센서 또는 상보형 금속-산화 반도체(CMOS, complementary metal-oxide semiconductor) 이미지 센서 등의 촬상소자에서, 광전 변환을 각각 행하는 복수의 화소가 제공된다. 화상 신호는 각 화소에 의해 생성된 화소 신호에 근거하여 생성된다. 이러한 촬상소자에서, 화소마다 생성된 화소 신호가 소자 특성의 불균일성에 의해서 미리 설정되어 있는 레벨보다 큰 오프셋을 일으키는 결함 화소(이하, '제 1결함 화소'라고 한다)를 일으키는 경우가 있다. 또한, 각 화소마다 생성된 화소 신호가 격자 결함 등에 의해서 입사 광선에 의존하지 않는 레벨을 가지는 신호가 되는 다른 결함 화소(이하, '제 2결함 화소'라고 한다)를 일으키는 경우도 있다. 따라서, 이러한 촬상소자를 갖춘 촬상장치에서는, 이들 결함 화소에 의한 화질의 열화를 방지하기 위해, 이들 결함 화소에 각각에 대응하는 화상 신호를 보상하기 위한 어떠한 결함보상은 이들 결함 화소가 화상에서 거의 눈에 띄지 않도록 화상 신호에 행해진다. 제 1결함 화소에 관한 화소 신호의 결함 보상의 경우, 제 1결함 화소에 관한 화소 신호의 오프셋의 양은, 제 1결함 화소에 관한 화소 신호의 오프셋에 상응하는 보상신호를 사용함으로써 화소 신호로부터 제거된다. 예를 들면, 제 1결함 화소에 관한 화소 신호가 촬상소자에 의해 생성된 화소 신호(A)의 오프셋(OS)(도 1에서 사선으로 나타냄)을 일으키면, 도 1에 나타낸 화소 신호(B)가 생성될 수 있도록 오프셋(OS)은 화소 신호(A)로부터 오프셋(OS)의 오프셋 량(FL1)과 동일한 레벨을 가지는 보상 신호(HC)를 감산함으로써 화소 신호(A)로부터 제거될 수 있다. 그러나, 제 1결함 화소에 관한 화소 신호의 오프셋(OS)이 촬상소자의 온도 특성에서 어떠한 기능에 근거하여 오프셋 량(FL1)으로부터 도 1에 나타낸 화소 신호(C)로서 오프셋 량(FL2)까지 증가하면, 화소 신호(C)로부터 오프셋(OS)의 오프셋 량(FL1)과 동일한 레벨을 가지는 보상 신호(HC)를 감산해도 도 1에 나타낸 바와 같이 오프셋(OSR)은 화소 신호(D)에 남는다. 도 1 및 후술하는 도 2의 신호 레벨(LB)은 흑레벨을 나타내는 것에 주목한다. 일본 특허번호 제3104098호에는, 보상 신호의 신호 레벨이 이러한 변경된 보상 신호를 사용함으로써 화상 신호의 신호 레벨을 보상하기 위한 촬상소자의 온도 변화에 근거하여 변화되고, 어떠한 결함이 보상된 화상 신호에서 검출될 때, 결함이 소정의 샘플 전의 화상 신호에 의해 숨겨지는 촬상소자의 자동 결함 보상회로가 기재되어 있다. 결함 화소에 관한 화소 신호가 소정의 레벨보다 증가된 레벨을 갖는다면, 보상 신호를 사용하는 신호 레벨의 어떠한 보상은 종료한다. 일본 특허번호 제3104098호 및 일본 특허 출원공보 제H06-113211에는, 메모리에 결함 화소에 관한 정보를 저장하고 이 정보를 사용함으로써 결함 화소가 보상되는 것이 기재되어 있다.