문맥 (context)
반도체 칩을 테스트하기 위하여 사용되는 DFT(Device for Testability) 기술은 칩의 품질을 유지하기 위해 널리 사용되고 있다. 그 중에서도 스캔 테스트(Scan Test) 기술은 오래된 기술이면서 여전히 칩의 테스트 기술에서 중요한 비중을 차지하고 있다. 또한, 국내에서도 그 사용빈도가 늘어가는 추세이다.
플립플롭은 클럭 신호 또는 펄스 신호에 응답하여 입력된 신호를 저장하고 순차적으로 전달하는 기능을 한다. 스캔 입력을 갖는 플립플롭은 반도체 장치의 DFT를 위해 테스트 스캔 신호를 입력받아 반도체 회로 내의 논리 회로부를 테스트하기 위한 것으로, 논리 회로의 시험을 용이하게 수행하기 위해 설계 초기부터 테스트를 고려하여 설계한 것이다.
한편, DFT는 반도체 칩의 테스트 시간을 최소화하기 위하여 DFT 설계시 내부 스캔 체인 생성시 사용되는 스캔 셀(Scan cell)과 이를 이용한 칩 테스트 장치를 말한다. 일반적으로 이러한 DFT를 위해 스캔 셀 방법 및 BIST(Built-in Self Test) 방법 등이 많이 사용된다. 여기서, 스캔 셀 방법이란 칩의 테스트 가능성을 높이기 위해, 회로 중의 플립플롭을 테스트 목적을 위해 일련의 쉬프트 레지스터로 구성하고, 테스트 시에는 스캔 경로를 통하여 플립플롭으로의 테스트 데이터 인가나 플립플롭의 값을 관측하는 방식을 말한다.
하지만 이러한 스캔 테스트 기술은 플립플롭의 트랜지스터의 스택(stack) 개수를 증가시켜 플립플롭의 고속 동작에 방해한다. 따라서 플립플롭의 성능을 저해하게 된다.
지시문 (instruction)
주어진 원문을 읽고 필요한 정보를 파악하여, 원문에 근거해 질문에 답하라.
질문 (question)
스캔 입력을 갖는 플립플롭을 설계 초기부터 테스트를 고려하여 설계하는 목적은 무엇인가?
추론 과정 (compact_reasoning)
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1과제 해석
task_interpretation스캔 입력을 갖는 플립플롭의 설계 목적을 묻는 질문임을 파악한다.
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2정보 추출
information_extraction스캔 입력을 갖는 플립플롭과 관련된 기술적 설명 부분을 추출한다.
- 스캔 입력을 갖는 플립플롭은 반도체 장치의 DFT를 위해 테스트 스캔 신호를 입력받아 반도체 회로 내의 논리 회로부를 테스트하기 위한 것으로, 논리 회로의 시험을 용이하게 수행하기 위해 설계 초기부터 테스트를 고려하여 설계한 것이다.
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3근거 선택
evidence_selection설계 목적을 직접적으로 명시한 구절을 선별한다.
- 논리 회로의 시험을 용이하게 수행하기 위해
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4논리 통합
logical_integration스캔 입력을 갖는 플립플롭의 기능(테스트 스캔 신호 입력 및 논리 회로부 테스트)과 설계 목적(시험 용이성)을 연결한다.
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5결론 도출
conclusion_formulation논리 회로의 시험을 용이하게 하기 위함이라는 결론을 도출한다.
- 논리 회로의 시험을 용이하게 수행하기 위해
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6답변 생성
answer_generation질문에 대해 문맥에 근거하여 명확한 문장으로 답변을 작성한다.
- 논리 회로의 시험을 용이하게 수행하기 위해
최종 답변 (final_answer)
논리 회로의 시험을 용이하게 수행하기 위해서이다.
핵심 해석 (core_interpretation)
스캔 입력을 갖는 플립플롭은 논리 회로의 시험을 용이하게 수행하기 위하여 설계 초기부터 테스트를 고려하여 설계된다.