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고-티씨초전도체에 저저항률 접점을 형성하는 방법 및 저접촉면저항률을 갖는 고-티씨초전도유니트와 시스템 document_id 1019880014545

출원번호
1019880014545
분류
전기(H섹션)
문맥 (context)
[청구항 34] 제33항에 있어서,귀금속은 골드, 또는 실버인 것을 특징으로 하는 저접촉면 저항률갖는시스템. [청구항 35] 제33항 또는 제34항에 있어서,커넥터 유니트는 귀금속으로 형성된 접점패드를 포함하는 것을 특징으로 하는 저접촉면 저항률갖는시스템. [청구항 36] 제35항에 있어서,초전도체 표면과 커넥터유니트의 제1부분 사이의 표면저항률은 약 200μω-cm2 이하인 것을 특징으로 하는 저접촉면 저항률갖는시스템. [청구항 37] 제36항에 있어서,초전도체 표면과 상기 커넥터 유니트의 제1부분 사이의 표면저항률은 10-5ω-cm2 이하인 것을 특징으로 하는 저접촉면 저항률갖는시스템. [청구항 38] 제37항에 있어서,상기 커넥터유니트의 제2부분은 제2전기전도수단으로 제2부분에 연결된 최소한 하나의 전기 리이드를 갖는 거을 특징으로 하는 저접촉면저항률갖는시스템. [청구항 39] 제38항에 있어서,전기 리이드는 납땜, 또는 더모소닉 본딩에 의해 귀금속에 연결된 것을 특징으로 하는 저접촉면저항률갖는시스템. [청구항 40] 제39항에 있어서,납땜을 위해 인듐 또는 저온 용융인듐 합금이 사용된 것을 특징으로 하는 저접촉면 저항률갖는시스템. [청구항 41] 최소한 하나의 초전도체 표면을 구비하는 고-tc 초전도 재료로 형성된 초전도체로 구성된 초전도 유니트에 있어서 상기 유니트는 고-tc 초전도체 작동 온도에서 상기 초전도체 표면과 상기 제1표면 부분사이의 표면저항률을 1000μω-cm 2 이하로 유지하도록 상기 초전도체 표면과 접촉하는 상기 제1표면부분과 제2표면부분을 구비하는, 귀금속으로 형성된 전기전도패드와 전류가 상기 전기전도패드와 전기전도수단을 통해 상기 초전도유니트와 제2유니트 사ㅣㅇ로 고전류밀도로 전도될 수 있도록 상기 패드의 상기 제2부분에 연결된 전기전도수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 저접촉면 저항률을 갖는 고-tc초전도유니트 [청구항 42] 제41항에 있어서,초전도체 표면과 패드의 제1부분 사이의 표면저항률은 200μω-cm2이하인 것을 특징으로 하는 저접촉면 저항률갖는고-tc초전도 유니트. [청구항 43] 제42항에 있어서,표면저항률은 10-5 ω-cm2이하인 것을 특징으로 하는 저접촉면저항률갖는고-tc 초전도유니트. [청구항 44] 제41항, 제42항 또는 제43항에 있어서,고전류밀도는 수백암페어의 전류부하의 작용을 포함하는 것을 특징으로 하는 저접촉면저항률갖는고-tc 초전도 유니트. [청구항 45] 제44항에 있어서,초전도재료는 금속산화물 초전도체인 것을 특징으로 하는 저접촉면저항률갖는고-tc 초전도 유니트.
지시문 (instruction)
주어진 본문을 읽고 관련 정보를 분석하여 질문에 답하라.
질문 (question)
고-tc 초전도 유니트에서 전기전도패드의 제2부분에 연결된 전기전도수단은 어떠한 방식으로 귀금속에 연결될 수 있으며, 이때 납땜을 사용하는 경우 어떤 재료가 사용되는가?
추론 과정 (compact_reasoning)
  1. 1과제 해석task_interpretation

    고-tc 초전도 유니트에서 전기전도수단(전기 리이드)이 귀금속에 연결되는 방식과 납땜 시 사용되는 재료를 찾는 것이다.

  2. 2정보 추출information_extraction

    청구항 38, 39, 40을 통해 전기 리이드의 연결 방식과 납땜 재료에 관한 정보를 추출한다.

    • 상기 커넥터유니트의 제2부분은 제2전기전도수단으로 제2부분에 연결된 최소한 하나의 전기 리이드를 갖는 거을 특징으로 하는 저접촉면저항률갖는시스템
    • 전기 리이드는 납땜, 또는 더모소닉 본딩에 의해 귀금속에 연결된 것을 특징으로 하는 저접촉면저항률갖는시스템
    • 납땜을 위해 인듐 또는 저온 용융인듐 합금이 사용된 것을 특징으로 하는 저접촉면 저항률갖는시스템
  3. 3근거 선택evidence_selection

    연결 방식인 '납땜 또는 더모소닉 본딩'과 납땜 재료인 '인듐 또는 저온 용융인듐 합금' 구절을 선택한다.

    • 전기 리이드는 납땜, 또는 더모소닉 본딩에 의해 귀금속에 연결된 것을 특징으로 하는 저접촉면저항률갖는시스템
    • 납땜을 위해 인듐 또는 저온 용융인듐 합금이 사용된 것을 특징으로 하는 저접촉면 저항률갖는시스템
  4. 4논리 통합logical_integration

    전기 리이드가 귀금속에 연결되는 두 가지 방식(납땜, 더모소닉 본딩)을 확인하고, 납땜 시의 구체적 재료를 결합한다.

  5. 5결론 도출conclusion_formulation

    연결 방식은 납땜 또는 더모소닉 본딩이며, 납땜 시 사용되는 재료는 인듐 또는 저온 용융인듐 합금임을 도출한다.

  6. 6답변 생성answer_generation

    질문에 따라 연결 방식과 납땜 재료를 리스트 형식으로 정리하여 답변을 생성한다.

최종 답변 (final_answer)
1. 연결 방식: 납땜 또는 더모소닉 본딩 2. 납땜 시 사용되는 재료: 인듐 또는 저온 용융인듐 합금
핵심 해석 (core_interpretation)
고-tc 초전도 유니트의 전기전도패드와 전기전도수단(전기 리이드) 간의 접합 방식(납땜, 더모소닉 본딩) 및 납땜 시 적용되는 특정 재료(인듐 또는 저온 용융인듐 합금)를 규정한다.