문맥 (context)
[청구항 2]
제 1항에 있어서,상기 접속부의 패턴에 대응하는 상기 관통공의 둘 이상의 패턴을 가지며, 그의 각각의 관통공이 산재되어 중첩된 관통공 패턴의 어느 하나가 접속부의 대향 패턴과의 정렬을 위해 선택될 수 있도록각각의관통공패턴서로겹쳐지는것을특징으로 하는물품
[청구항 3]
제 1항 또는 제 2항에 있어서,그의 접속부 지지면의 주변부가 비 부동성 또는 베어반도체 재료를 포함하는 반도체 칩인 제 1 기판으로 사용되며, 물품이 상기 한쌍의 접속부들 사이에 전기적 접속을 이루었을 때 관통공의 패턴이 칩의 주변부와 전기적으로 접촉하지배치되는것을특징으로 하는물품.
[청구항 5]
제 1항 내지 3항 중 어느 한 항에 있어서,각각의 패턴이 각 쌍의 접속부 사이에 동시적 다중 접속을 이루기 위해 정렬되도록2개이상의도전성관통공의그룹제공하는것을특징으로 하는물품.
[청구항 8]
제 7항에 있어서,상기 관통공에 수용된 금속이칩의배면및히트싱크접속하는것을특징으로 하는조립체.
[청구항 9]
제 7항에 있어서,상기 관통공을 수용된 금속이칩의전면및히트싱크접촉하는것을특징으로 하는조립체.
[청구항 10]
제 9항에 있어서,관통공 내의 다소의 금속들이 다른 금속의 전기적 접속부에칩위의전기적접속부들을전기적접속하는것을특징으로 하는조립체.
[청구항 12]
제 7항 내지 11항 중 어느 한 항의 조립체 또는 물품에 있어서,상기 관공에 도금된금속갖는것을특징으로 하는조립체 또는 물품.
[청구항 13]
제 7항 내지 12항 중 어느 한 항의 조립체 또는 물품에 있어서,상기 금속이판재료의주요표면위돌출하는것을특징으로 하는조립체 또는 물품.
[청구항 19]
제 18항에 있어서,대체로 등방성 전기적 도전성인 것을특징으로 하는물품.
[청구항 20]
제 19항에 있어서,전기적 도전성 재료가 양주요판 표면밑형성된것을특징으로 하는물품.
[청구항 21]
제 18항 내지 20항 중 어느 한 항에 있어서,전기적 도전성 재료가 판표면 아래로적어도10마이크로미터의깊이형성되는것을특징으로 하는물품.
[청구항 22]
제 21항에 있어서,전기적 도전성 물품이 판 표면아래로10내지15마이크미터에서끝나는것을특징으로 하는물품.
[청구항 24]
제 23항에 있어서,본래 관통공 내에 있는 전기적 도전성 재료의 일부를 노출시키도록 상기 접속이 행해진 후, 전기적 도전성 재료가 판재료의주표면들중적어도하나제거되는것을특징으로 하는장치 또는 공정.
[청구항 25]
제 18항 내지 24항 중 어느 한 항에 있어서,상기 관통공 내에 도금된금속갖는것을특징으로 하는물품, 장치 또는 공정.
[청구항 26]
제 6항 내지 17항 중 어느 한 항에 있어서,상기 관통공중적어도 몇 개는 200㎛이하의직경갖는것을특징으로 하는물품, 조립체, 장치, 방법 또는 공정.
[청구항 30]
제 29항에 있어서,관통공들이 10 내지 100㎛의직경갖는것을특징으로 하는물품, 조립체, 장치, 방법 또는 공정.
[청구항 32]
제 31항에 있어서,재료의 제 2 부분이관형인것을특징으로 하는물품, 조립체, 장치, 방법 또는 공정.
[청구항 33]
제 31항 또는 32항에 있어서,상기 제 2 부분의 전기적 도전성 재료가상기제2부분의전기적도전성 재료상이한것을특징으로 하는물품, 조립체, 장치, 방법 또는 공정.
[청구항 34]
제 28항 중, 31항 및 32항 중 어느 한 항에 있어서,전기적 도전성 금속의 용융성 합금 또는 땜납이 관형 전기적 도전성 재료에 의해 제공된관내제공되는것을특징으로 하는물품, 조립체, 장치, 방법 또는 공정.
[청구항 40]
제 38항에 있어서,상기 경사도가 6°이하이하인것을특징으로 하는물품, 조립체, 장치, 방법 또는 공정.
[청구항 42]
제 41항에 있어서,기계적, 바람직하게는 자동적, 공급 수단에 의해 처리되도록 공급되기적합하게된것을특징으로 하는물품.
지시문 (instruction)
주어진 본문을 읽고 관련 정보를 분석하여 질문에 답하라.
질문 (question)
제1항 내지 제3항의 구성을 포함하는 물품에서, 접속부 지지면의 주변부가 제1 기판으로 사용될 때 관통공의 패턴이 칩의 주변부와 전기적으로 접촉하지 않도록 배치되는 조건은 무엇인가?
추론 과정 (compact_reasoning)
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1과제 해석
task_interpretation접속부 지지면의 주변부가 제1 기판으로 사용될 때, 관통공 패턴이 칩의 주변부와 전기적으로 접촉하지 않기 위한 조건을 찾는다.
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2정보 추출
information_extraction청구항 3에서 접속부 지지면의 주변부가 제1 기판으로 사용되는 상황과 관통공 패턴의 배치 조건에 관한 내용을 추출한다.
- 접속부 지지면의 주변부가 비 부동성 또는 베어반도체 재료를 포함하는 반도체 칩인 제 1 기판으로 사용되며, 물품이 상기 한쌍의 접속부들 사이에 전기적 접속을 이루었을 때 관통공의 패턴이 칩의 주변부와 전기적으로 접촉하지배치되는것을특징으로 하는물품
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3근거 선택
evidence_selection질문에서 요구하는 '조건'에 해당하는 구절을 선택한다.
- 물품이 상기 한쌍의 접속부들 사이에 전기적 접속을 이루었을 때 관통공의 패턴이 칩의 주변부와 전기적으로 접촉하지배치되는것
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4논리 통합
logical_integration관통공 패턴이 칩 주변부와 접촉하지 않는 상태는 물품이 한 쌍의 접속부들 사이에 전기적 접속을 이루었을 때 발생한다는 인과 관계를 확인한다.
- 물품이 상기 한쌍의 접속부들 사이에 전기적 접속을 이루었을 때 관통공의 패턴이 칩의 주변부와 전기적으로 접촉하지배치되는것
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5결론 도출
conclusion_formulation질문에 대한 답변으로 '물품이 한 쌍의 접속부들 사이에 전기적 접속을 이루었을 때'를 도출한다.
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6답변 생성
answer_generation추출된 근거를 바탕으로 최종 답변을 작성한다.
최종 답변 (final_answer)
물품이 상기 한쌍의 접속부들 사이에 전기적 접속을 이루었을 때
핵심 해석 (core_interpretation)
반도체 칩이 제1 기판으로 사용되는 물품에서, 한 쌍의 접속부 간에 전기적 접속이 이루어지는 상태에서도 관통공 패턴이 칩의 주변부와 전기적으로 접촉하지 않도록 설계된 기술적 구성을 나타냄.