인쇄회로기판검사장치및방법 document_id 1019910002943

[청구항 2] 제1항에 있어서,카메라 수단이 조명수단에 관해 4개의 직각배치된pcb검사장치. [청구항 3] 제1항에 있어서,선택적으로 제어가능한 발광소자들이 각기 개별적제어되는pcb 검사장치. [청구항 4] 제3항에 있어서,발광소자가 발광 다이오드인pcb 검사장치. [청구항 5] 제4항에 있어서,발광 다이오드들이 규칙적인 배열을 형성하도록 상호접속된pcb 검사장치. [청구항 6] 제5항에 있어서,규칙적 배열이 조명구조물내에서 다수의 가로, 세로배열되는pcb 검사장치. [청구항 7] 제6항에 있어서,선택된 가로선을 따라 그룹 지어진 발광 다이오드들이 환형광으로 전개되도록 동시작동되는pcb 검사장치. [청구항 8] 제7항에 있어서,일련의 환형광들로 발광되도록 하기위해 선택된 가로선을 따라그룹지어진 발광 다이오드들을 순차적으로 동작시키기 위한 수단이 추가포함된pcb 검사장치. [청구항 9] 제6항에 있어서,4개의 선택적 발광 다이오드들이 지시된 광원을 전개하도록 동시에 작동가능한pcb 검사장치. [청구항 10] 제1항에 있어서,버퍼내에 저장하기 위하여 카메라 수단들로부터온 영상을 획득하기위한 수단이 추가포함된pcb 검사장치. [청구항 11] 제10항에 있어서,발광소자가 다수의 환형광들을 전개하도록 제어가능하고, 영상 획득수단들은 상기한 다수의 환형광들에 해당하는 다수의 영상수용하는pcb 검사장치. [청구항 12] 제11항에 있어서,환형광들이 부속품, 리이드 또는 핀들과 연관된 서로 다른 지형적 영역조명하는pcb 검사장치. [청구항 13] 제12항에 있어서,환형광들이 순차적으로 일렬동작하는pcb 검사장치. [청구항 14] 제12항에 있어서,환형광들이 근본적으로 일정한 수준(조도)의 빛동작하는pcb 검사장치. [청구항 15] 제12항에 있어서,칼라 모니터에 디스플레이하기 위하여 서로 다른 지형적 영역들에 칼라를 할당(부여)하기 위한 수단을 추가포함하는pcb 검사장치. [청구항 16] 제12항에 있어서,지형적 영역이 레벨을 할당하고, 할당된 레벨에 응답하여 체적계산과 중량계산을 수행하는 수단이 추가포함하는pcb 검사장치. [청구항 17] 제16항에 있어서,카메라 수단들이 4개의 직각형상으로 배치되고 계산 수행수단에 카메라 수단들중 다른 하나들에 대해 버퍼내에 저장된 데이터를 상호연관 지우기 위한수단포함하는것을특징으로 하는pcb 검사장치. [청구항 19] 제18항에 있어서,선택적으로 제어가능한 발광소자들이 각기 개별적제어되는pcb 검사장치. [청구항 20] 제18항에 있어서,선택적으로 제어가능한 발광소자들이 각기 개별적제어되는pcb 검사장치. [청구항 21] 제20항에 있어서,발광소자가 바로강 다이오드인pcb 검사장치. [청구항 22] 제21항에 있어서,발광다이오드들이 규칙적인 배열을 형성하도록 상호접속된pcb 검사장치. [청구항 23] 제22항에 있어서,규칙적 배열이 조명구조물내에서 다수의 가로, 세로배열되는pcb 검사장치. [청구항 24] 제23항에 있어서,선택된 가로선을 따라 그룹지어진 발광 다이오들이 환형광으로 전개되도록 동시작동되는pcb 검사장치. [청구항 25] 제24항에 있어서,일련의 환형광들로 발광되도록 하기 위해 선택된 가로선을 따라 그룹지어진 발광 다이오드들을 순차적으로 동작시키기 위한 수단이 추가포함된pcb 검사장치. [청구항 26] 제25항에 있어서,환형광들이 부속품, 리이드 또는 핀들과 연관된 서로 다른 지형적 영역조명하는pcb 검사장치. [청구항 27] 제26항에 있어서,환형광들이 순차적으로 일렬동작하는pcb 검사장치. [청구항 28] 제26항에 있어서,환형광들이 근본적으로 일정한 수준(조도)의 빛동작하는pcb 검사장치. [청구항 29] 제23항에 있어서,4개의 선택된 발광 다이오드들이 지시된 광원을 전개하도록 동시에 작동가능한pcb 검사장치. [청구항 43] 제42항에 있어서,카메라 수단들이 4개의 직각으로 배치되고, 상기한 카메라수단들 가운데 다른 하나들에 대하여 버퍼내에 저장된 데이터를 상호 연관지우는 것을 추가포함하는pcb 검사방법.