삽입력이 필요없는 핀 그리드 배열 테스트 소켓 document_id 1019910009306

[청구항 2] 제1항에 있어서,클립 수용 슬롯과 클립잠금 슬롯이 사각형의 뚜껑 부재와 사각형의 베이스 부재 각각의 마주보는측벽가까이배치된것을특징으로 하는삽입력이 필요없는 핀 그리드 배열 테스트 소켓. [청구항 3] 제1항에 있어서,상기 클립의 탄력성있는 평행한 다리부는 하부끝에 배치되어 바깥쪽으로 확장된맞물림발부구성된것을특징으로 하는삽입력이 필요없는 핀 그리드 배열 테스트 소켓. [청구항 4] 제1항에 있어서,베이스 부재는 상기 베이스 부재 모서리에 인접하고 코일 스프링과 원형 플런저가 배치된 원형 공동을 포함하고, 상기 플런저는 원하는 위치에서 상기 작동수단을 유지하도록 상기 뚜껑 부재에 상측으로 작용하는힘장치된것을특징으로 하는삽입력이 필요없는 핀 그리드 배열 테스트 소켓. [청구항 5] 제1항에 있어서,상기 작동 수단은 핸들부와 캠부로 구성되고, 상기 캠부가 간격있게 떨어진 제1및 제2의캠구성된것을특징으로 하는삽입력이 필요없는 핀 그리드 배열 테스트 소켓. [청구항 7] 제6항에 있어서,탄력성있는 제1의 빔은 제2의 빔과 접촉하고 제1및 제2의 빔이 간격을 갖고 떨어진 관계로써 유지되도록 접촉부로 부터 내부로 확정한반원형오목부구성된것을특징으로 하는삽입력이 필요없는 핀 그리드 배열 테스트 소켓. [청구항 8] 제6항에 있어서,리드부는 바깥쪽으로 확장한 긴보강양각부구성된것을특징으로 하는삽이력이 필요없는 핀 그리드 배열 테스트 소켓. [청구항 9] 제6항에 있어서,전기 콘넥터는 접촉부와 긴 리드부로 구성되고, 상기 접촉부가 만곡부로 하부단에 연결된 제1및 제2의 마주보는 탄력성 접촉빔을 포함하고, 상기 제1의 마주보는 빔이 긴 개구를 가지고 있고, 상기 긴 개구부터의 재질이 상기 긴 리드부까지와 같고, 상기 긴 리브부는 상기 접촉부 반대 방향의 만곡부로 부터 확장되고, 상기 제1의 마주보는 탄력성 빔이 상기 제2의 빔과 접촉하고 제1및 제2빔은 서로 간격을 갖고 떨어진 관계로 유지하도록 내부로 확장한반원형오목부구성된것을특징으로 하는삽입력이 필요없는 핀 그리드 배열 테스트 소켓. [청구항 10] 제9항에 있어서,리드부가 바깥쪽으로 확장된 긴보강양각부구성된것을특징으로 하는삽입력이 필요없는 핀 그리드 배열 테스트 소켓. [청구항 13] 제12항에 있어서,클립 수용 슬롯과 상기많은 클립 잠금 슬롯이 사각형의 뚜껑부재와 사각형의 베이스 부재 각각의 마주보는측벽가까이배치된것을특징으로 하는삽입력이 필요없는 핀 그리드 배열 테스트 소켓. [청구항 14] 제12항에 있어서,클립의 탄력성있는 평행 다리부가 하부끝에 배치되어 바깥으로 확장된맞물림발부구성된것을특징으로 하는삽입력이 필요없는 핀 그리드 배열 테스트 소켓. [청구항 15] 제12항에 있어서,상기 베이스 부재는 모서리 가까이에 설치된 원형 공동을 포함하고, 원형 공동에는 코일스프링과 원형의 플런저가 배치되고, 상기 플런저는 원하는 위치에는 작동 수단이 유지되도록 상측으로 작용하는 힘을 뚜껑 부재에 가하도록 설치된 것을 특징으로 하는 삽입력이 필요없는 핀 그리드 배열 테스트 소켓.※ 참고사항 : 최초출원 내용공개하는 것임