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집적된 회로 패드용 정전기 방전 보호장치 document_id 1019910023592

출원번호
1019910023592
분류
전기(H섹션)
문맥 (context)
[청구항 2] 모노크리스탈 반도체상에 형성된 n - 타입 전도도 에피텍셜층에 집적된 한 회로의 외부 전기연결 패드의 과전압으로부터 보호를 위한 집적된 구조가 상기 n - 타입 에픽텍셜층과 상기 패드부 돌출부로부터 일정거리에 있는 반도체 수정기질 공유접촉영역 제1영역내에 형성된 n + 타입으로 묻힌층 상기 패드와 상기 묻힌층 각 영역들 사이 분리거리의 중간 영역내에 형성된 첫 번째 n + 타입의 깊은확산 영역 상기 패드를 항奎 측면에 직각으로 묻힌층의 한 측면을 따라 형성 되고 그 묻힌층과 에피텍셜층 표면 사이에서 연장된 적어도 한 제2n + 타입 깊은 확산영역 제1의 p + 타입 전도도 확산 영역으로서 측면의 한 pnp 트랜지스터 에미터 영역을 구성하고 상기 묻힌층을 향한 제1의 n 타입의 깊은 확산영역에 인접하여 그 측면을 따라 형성되고 그리고 상기 패드의 금속화층에 의해 제1의 n + 타입 깊은확산 영역과 공동으로 전기적 접촉을 이루는 제1의 p + 타입 전도도 확산영역 상기 pnp 트랜지스터의 콜렉터 영역을 구성하는 적어도 하나의 제2의 p 타입 전도도 확산 영역으로서, 그 베이스 영역이 상기 에피텍셜층에 의해 구성되고 상기 제1의 p + 타입 전도도 확산 영역으로부터 기능적으로 분리되는 제2의 p 타입 전도도 확산영역으로, 상기 제2의 p 타입 영역 한 단부에서 기능적으로 형성 되고 한 접지금속화 층에 의해 접촉되는 전도도 확산영역 적어도 하나의 n + 타입 전도도 표면확산 영역으로서 상기 제2의 p 타입 전도도 확산 영역의 표면부에서 전도도 타입을 변환시키고 측면을 가로질러 상기의 묻힌층과 패드의 그속화층이 있는 상기 제1의 n + 깊은 확산영역에서 전기적 접촉통로를 만들기 위해 상기 제2의 n + 타입 깊은 확산 영역으로 측면으로 확산시키므로써 형성되며, 상기 묻힌층의 주변과 제1의 n + 타입 깊은 확산 영역으로 측면으로 확산시키므로써 형성되며, 상기 묻힌층의 주변과 제1의 n + 타입 깊은 확산 영역 베이스 사이 애피텍셜 층에서 분리영역에 의해 구성된 한저항동로를 포함하는 전도도 표면 확산영역 상기 n + 타입 전도도 표면 확산영역과 상기 측면의 pnp 트니스터 콜렉터와 베이스 사이에 연결된 한 제너다이오드를 구성시키는 두 번째의 p 타입 전도도 확산영역 사이의 집합을 포함함을 특징으로 하는 집적회로 패드용 정전기 방전 보호장치 [청구항 3] 제2항에 있어서,타입 전도도 확산 영역이 상기 제2의 p 타입 전도도 확산 영역과 상기 세 번째 p+ 타입 전도도 확산 영역 사이에 존재하며, 적어도 부분적으로 상기 n+ 타입 전도도 표면 확산영역에 의해 겹쳐지고, 그리고 상기 패드의 금속화층이 유전체의 절연층의 제너 접합과 겹치는 부분으로 확장되어제너접합의차단금지시키는집적된구조의 집적회로 패드용 정전기 방전 보호장치. [청구항 4] 제2항에 있어서,타입 표면 확산층과 n+ 타입이 묻힌층의 전기적 접촉통로가 세 번째 n+ 타입 전도로 깊은 확산영역을 포함하고 이같은 깊은확산 영역은 상기 묻힌층의 한 측면을 따라 형성되며 이때의 한 측면은 상기 제2의 n+ 타입 전도도 깊은 확산영역이 형성되는 측면 맞은편에 위치함을특징으로하는집적된회로패드용 정전기 방전 보호장치. [청구항 5] 제2항에 있어서,타입 전도도 표면 확산영역이 상기 제1의 n+ 타입 깊은확산 영역의 표면부에 형성되고 상기 회로 패드의 금속화층에 제1의 p+ 타입 전도도 확산영역과 공동으로 접촉됨을특징으로하는집적된회로 패드용 정전기 방전 보호장치. [청구항 6] 모노크리스탈 반도체상에 형성된 p - 타입 전도도 에피텍셜층에 집적된 한 회로의 외부 전기연결 패드의 과전압으로부터 보호를 위한 집적권 구조가 상기 p - 타입 에피텍셜층과 상기 패드부 돌출부로부터 일정거리에 있는 반도체 수정기질 공유접촉영역 제1영역내에 형성된 p + 타입으로 묻힌층 상기 패드와 상기 묻힌층 각 영역들 사이 분리거리의 중간 영역내에 형성된 첫 번째 p + 타입의 깊은확산 영역 상기 패드를 향한 측면에 직각으로 묻힌층의 한 측면을 따라 형성 되고 그 묻힌층과 에피텍셜층 표면 사이에서 연장된 적어도 한 제2p + 타입 깊은 확산영역 제1의 n + 타입 전도도 확산 영역으로서 측면의 한 npn 트랜지스터 에미터 영역을 구성하고 상기 묻힌층을 향한 제1의 p + 타입의 깊은확산 영역에 인접하여 그 측면을 따라 형성되고 그리고 상기 패드의 금속화층에 의해 제1의 p + 타입 깊은확산 영역과 공통으로 전기적 접촉을 이루는 제1의 n + 타입 전도도 확산영역 상기 npn 트랜지스터의 콜렉터 영역을 구성하는 적어도 하나의 제2의 n 타입 전도도 확산 영역으로서, 그 베이스 영역이 상기 에피텍셜층에 의해 구성되고 상기 제1의 n + 타입 전도도 확산영역으로부터 기능적으로 분리되는 제2의 n 타입 전도도 확산영역 적어도 하나의 세 번째 콜렉터 접촉 n + 타입 전도도 확산영역으로, 상기 제2의 n 타입 영역 한 단부에서 기능적으로 형성 되고 한 접지금속화 층에 의해 접촉되는 전도도 확산영역 적어도 하나의 p + 타입 전도도 표면확산 영역으로서 상기 제2의 n 타입 전도도 확산 영역의 표면부에서 전도도 타입을 변환시키고 측면을 가로질러 상기의 묻힌층과 패드의 금속화층이 있는 상기 제1의 p + 깊은 확산영역에서 전기적 접촉통로를 만들기 위해 상기 제2의 p + 타입 깊은 확산 영역으로 측면으로 확산시키므로서 형성되며, 상기 묻힌층의 주면과 제1의 p + 타입 깊은 확산 여역 베이스 사이 에피텍셜 층에서 분리영역에 의해 구성된 한 저항통로를 포함하는 전도도 표면 확산영역 상기 p + 타입 전도도 표면 확산영역과 상기 측면의 npn 트랜지스터 콜렉터와 베이스 사이에 연결된 한 재너다이오드를 구성시키는 제2의 n 타입 전도도 확산영역 사이의 접합을 포함함을 특징으로 하는 집적회로 패드용 정전기 방전 보호장치 [청구항 7] 제6항에 있어서,타입 전도도 확산 영역이 상기 제2의 n 타입 전도도 확산 영역과 상기 세 번째 n+ 타입 전도도 확산 영역 사이에 존재하며, 적어도 부분적으로 상기 p+ 타입 전도도 표면 확산영역에 의해 겹쳐지고, 그리고 상기 패드의 금속화층이 유전체의 제너 접합과 겹치는 부분으로 확정되어제너접합의차단금지시키는집적된구조의 집적회로 패드용 정전기 방지 보호장치. [청구항 8] 제6항에 있어서,타입 표면 확산층과 p+ 타입이 묻힌층의 전기적 접촉통로가 세 번째 p+ 타입 전도도 깊은 확산영역을 포함하고 이같은 깊은확산 영역은 상기 묻힌층의 한 측면을 따라 형성되며 이때의 한 측면은 상기 제2의 p+ 타입 전도도 깊은 확산영역이 형성되는 측면 맞은편에 위치함을특징으로하는집적된회로패드용 정전기 방전 보호장치. [청구항 9] 제6항에 있어서,타입 전도도 표면 확산영역이 상기 제1의 p+ 타입 깊은확산 영역의 표면부에 형성되고 상기 회로 패드의 금속화층에 제1의 n+ 타입 전도도 확산영역과 공동으로 접촉됨을특징으로하는집적된회로 패드용 정전기 방전 보호장치.
지시문 (instruction)
주어진 본문을 읽고 관련 정보를 분석하여 질문에 답하라.
질문 (question)
청구항 2에 기재된 집적회로 패드용 정전기 방전 보호장치에서, pnp 트랜지스터의 에미터 영역을 구성하며 패드의 금속화층에 의해 제1의 n+ 타입 깊은 확산영역과 공동으로 전기적 접촉을 이루는 영역은 무엇인가?
추론 과정 (compact_reasoning)
  1. 1과제 해석task_interpretation

    청구항 2에서 pnp 트랜지스터의 에미터 영역을 구성하며, 패드의 금속화층을 통해 제1의 n+ 타입 깊은 확산영역과 공동으로 전기적 접촉을 이루는 영역을 찾는 것이다.

  2. 2정보 추출information_extraction

    청구항 2의 내용을 분석하여 pnp 트랜지스터의 에미터 영역, 금속화층, 제1의 n+ 타입 깊은 확산영역과 관련된 구성 요소를 추출한다.

    • 제1의 p + 타입 전도도 확산 영역으로서 측면의 한 pnp 트랜지스터 에미터 영역을 구성하고 상기 묻힌층을 향한 제1의 n 타입의 깊은 확산영역에 인접하여 그 측면을 따라 형성되고 그리고 상기 패드의 금속화층에 의해 제1의 n + 타입 깊은확산 영역과 공동으로 전기적 접촉을 이루는 제1의 p + 타입 전도도 확산영역
  3. 3근거 선택evidence_selection

    질문에서 요구하는 조건(pnp 트랜지스터 에미터 구성, 금속화층을 통한 제1의 n+ 타입 깊은 확산영역과의 공동 접촉)을 모두 만족하는 구절을 선택한다.

    • 제1의 p + 타입 전도도 확산 영역으로서 측면의 한 pnp 트랜지스터 에미터 영역을 구성하고 상기 묻힌층을 향한 제1의 n 타입의 깊은 확산영역에 인접하여 그 측면을 따라 형성되고 그리고 상기 패드의 금속화층에 의해 제1의 n + 타입 깊은확산 영역과 공동으로 전기적 접촉을 이루는 제1의 p + 타입 전도도 확산영역
  4. 4논리 통합logical_integration

    추출된 구절에 따르면, pnp 트랜지스터의 에미터 영역을 구성하면서 제1의 n+ 타입 깊은 확산영역과 금속화층을 통해 공동으로 전기적 접촉을 이루는 영역은 '제1의 p+ 타입 전도도 확산 영역'임을 알 수 있다.

    • 제1의 p + 타입 전도도 확산 영역으로서 측면의 한 pnp 트랜지스터 에미터 영역을 구성하고 상기 묻힌층을 향한 제1의 n 타입의 깊은 확산영역에 인접하여 그 측면을 따라 형성되고 그리고 상기 패드의 금속화층에 의해 제1의 n + 타입 깊은확산 영역과 공동으로 전기적 접촉을 이루는 제1의 p + 타입 전도도 확산영역
  5. 5결론 도출conclusion_formulation

    질문에 대한 직접적인 답변으로 '제1의 p+ 타입 전도도 확산 영역'을 도출한다.

  6. 6답변 생성answer_generation

    추출된 답변을 최종 형식에 맞춰 작성한다.

최종 답변 (final_answer)
제1의 p + 타입 전도도 확산 영역
핵심 해석 (core_interpretation)
본 발명은 집적회로 패드의 과전압으로부터 보호하기 위해 pnp 트랜지스터의 에미터 영역을 포함하는 정전기 방전 보호장치에 관한 것이며, 특히 금속화층을 통해 n+ 타입 확산영역과 전기적으로 연결되는 p+ 타입 확산 영역의 구조를 특징으로 한다.