문맥 (context)
[청구항 2]
제 1 항에 있어서,상기 제 1 회로수단은, 외부로부터 공급된 테스트 제어신호가 테스트 모드를 지정하는 경우에는 각각 상기 복수의 신호단자중의 대응하는 신호단자를 통하여 상기 인쇄회로 기판상의 대응하는 배선이 가지는 부유용량으로 충전전류를 공급하고, 상기 테스트 제어신호가 비테스트 모드를 지정하는 경우에는 각각 하이ㆍ임피던스 출력을 유지하기 위한복수의논리회로버퍼구비한것을특징으로 하는집적회로.
[청구항 3]
제 1 항에 있어서,상기 집적회로 본래의 기능을 실현하도록 상기 복수의 신호단자에 내부 접속된 내부회로수단과,상기 내부회로수단과 상기 복수의 신호단자 중의 출력단자 사이에 개재하고, 외부로부터 공급된 테스트 제어신호가 테스트 모드를 지정하는 경우에는 하이ㆍ임 피던스 출력을 유지하고, 상기 테스트 제어신호가 비테스트 모드를 지정하는 경우에는 상기 내부회로수단으로부터 상기 출력단자로 신호를 전달하기 위한논리회로버퍼더구비한것을특징으로 하는집적회로.
[청구항 4]
제 1 항에 있어서,상기 제 2 회로수단은, 상기 부유용량의 충전에 필요한 시간의 차로부터, 상기 복수의 신호단자 중 어느 하나의 신호단자의 오픈불량의 납땜 결함을 검지하기 위한수단구비한것을특징으로 하는집적회로.
[청구항 5]
제 1 항에 있어서,상기 제 2 회로수단은, 상기 복수의 신호단자중에 오픈불량의 납땜 결함을 가지는 신호단자가 존재하는지 여부를 나타내는 신호를 출력하기 위한수단구비한것을특징으로 하는집적회로.
[청구항 6]
제 1 항에 있어서,상기 제 2 회로수단은, 상기 복수의 신호단자 중 오픈불량의 납땜 결함을 가지는 신호단자를 특정하는 신호를 출력하기 위한수단구비한것을특징으로 하는집적회로.
[청구항 7]
제 2 항에 있어서,테스트 데이터 신호를 래치하고, 이 래치한 테스트 데이터 신호를 상기 복수의 논리회로 버퍼 각각으로 분배하기 위한입력플립플롭더구비한것을특징으로 하는집적회로.
[청구항 8]
제 2 항에 있어서,각각 테스트 데이터 신호를 래치하고, 각각 이 래치한 테스트 데이터 신호를 상기 복수의 논리회로 버퍼 중의 대응하는 논리회로 버퍼로 공급하기 위한복수의입력플립플롭더구비한것을특징으로 하는집적회로.
[청구항 9]
제 2 항에 있어서,상기 제 2 회로수단은, 각각 상기 복수의 논리회로 버퍼 중의 대응하는 논리회로 버퍼의 입력 천이시각과, 이 논리회로 버퍼의 출력 천이시각의 시간간격을 표시하는 펄스 폭을 가지는 논리신호를 공급하기 위한복수의논리게이트구비한것을특징으로 하는집적회로.
[청구항 10]
제 9 항에 있어서,상기 제 2 회로수단은,상기 복수의 논리게이트 각각으로부터 공급된 논리신호의 논리곱 신호를 공급하기 위한 and 게이트와,상기 and 게이트로부터 공급된 논리곱 신호를 래치하고, 이 래치한 논리곱 신호를 외부로 출력하기 위한출력플립플롭더구비한것을특징으로 하는집적회로.
[청구항 11]
제 9 항에 있어서,상기 제 2 회로수단은, 각각 상기 복수의 논리게이트 중 대응하는 논리게이트로부터 공급된 논리신호를 래치하고, 각각 이 래치한 논리신호를 외부로 출력하기 위한복수의출력플립플롭더구비한것을특징으로 하는집적회로.
[청구항 13]
제 12 항에 있어서,상기 집적회로 본래의 기능을 실현하도록 상기 복수의 신호단자에 내부 접속된 내부회로수단과,상기 내부회로수단과 상기 복수의 신호단자 중의 출력단자 사이에 개재하고, 상기 테스트 제어신호가 테스트 모드를 지정하는 경우에는 하이·임피던스 출력을 유지하며, 상기 테스트 제어신호가 비테스트 모드를 지정하는 경우에는 상기 내부회로수단으로부터 상기 출력단자로 신호를 전달하기 위한논리회로버퍼더구비한것을특징으로 하는집적회로.
[청구항 14]
제 12 항에 있어서,상기 테스트 제어신호가 비테스트 모드를 지정하는 경우에는 상기 입력 플립플롭과 상기 출력 플립플롭을 서로 직렬로 접속하기 위한회로수단더구비한것을특징으로 하는집적회로.
[청구항 16]
제 15 항에 있어서,상기 집적회로 본래의 기능을 실현하도록 상기 복수의 신호단자에 내부 접속된 내부회로수단과,상기 내부회로수단과 상기 복수의 신호단자 중 출력단자 사이에 개재하고, 상기 테스트 제어신호가 테스트 모드를 지정하는 경우에는 하이·임피던스 출력을 유지하며, 상기 테스트 제어신호가 비테스트 모드를 지정하는 경우에는 상기 내부회로 수단으로부터 상기 출력단자로 신호를 전달하기 위한논리회로버퍼더구비한것을특징으로 하는집적회로.
[청구항 17]
제 15 항에 있어서,상기 복수의 플립플롭은, 각각 상기 래치한 신호의 반전신호를 상기 자기 생성된 테스트 데이터 신호로서 상기 복수의 셀렉터 중 대응하는 셀렉터로 공급하는기능더구비한것을특징으로 하는집적회로.
[청구항 18]
제 15 항에 있어서,상기 테스트 제어신호가 비테스트 모드를 지정하는 경우에는 상기 복수의 플립플롭을 서로 직렬로 접속하기 위한회로수단더구비한것을특징으로 하는집적회로.
지시문 (instruction)
주어진 본문을 읽고 관련 정보를 분석하여 질문에 답하라.
질문 (question)
테스트 제어신호가 테스트 모드를 지정할 때, 제 1 회로수단이 인쇄회로 기판상의 대응하는 배선이 가지는 부유용량으로 충전전류를 공급하는 방식은 무엇인가?
추론 과정 (compact_reasoning)
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1과제 해석
task_interpretation테스트 제어신호가 테스트 모드일 때, 제 1 회로수단이 인쇄회로 기판상의 부유용량으로 충전전류를 공급하는 구체적인 방식을 찾는 것이다.
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2정보 추출
information_extraction청구항 2에서 제 1 회로수단의 동작 조건과 충전전류 공급 방식에 관한 내용을 추출한다.
- 상기 제 1 회로수단은, 외부로부터 공급된 테스트 제어신호가 테스트 모드를 지정하는 경우에는 각각 상기 복수의 신호단자중의 대응하는 신호단자를 통하여 상기 인쇄회로 기판상의 대응하는 배선이 가지는 부유용량으로 충전전류를 공급하고
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3근거 선택
evidence_selection질문에서 요구하는 '충전전류를 공급하는 방식'에 직접적으로 대응하는 구절을 선택한다.
- 각각 상기 복수의 신호단자중의 대응하는 신호단자를 통하여 상기 인쇄회로 기판상의 대응하는 배선이 가지는 부유용량으로 충전전류를 공급
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4논리 통합
logical_integration테스트 모드 지정 시, 제 1 회로수단은 복수의 신호단자 중 대응하는 신호단자를 통해 부유용량으로 충전전류를 공급한다는 논리를 연결한다.
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5결론 도출
conclusion_formulation추출된 근거를 바탕으로 질문에 대한 답변을 구성한다.
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6답변 생성
answer_generation문맥에 명시된 방식 그대로 답변을 생성한다.
최종 답변 (final_answer)
각각 상기 복수의 신호단자중의 대응하는 신호단자를 통하여 상기 인쇄회로 기판상의 대응하는 배선이 가지는 부유용량으로 충전전류를 공급한다.
핵심 해석 (core_interpretation)
테스트 모드 시 제 1 회로수단이 신호단자를 통해 인쇄회로 기판 배선의 부유용량으로 충전전류를 공급함으로써 테스트를 수행하는 기술적 구성에 관한 것이다.