가공데이터 · 특허 지식베이스

반사형X선마스크구조체,X-선노광장치,X-선노광방법및이반사형X선마스크구조체를사용해서제작되는디바이스 document_id 1019970005178

출원번호
1019970005178
분류
전기(H섹션)
문맥 (context)
[청구항 2] 제1항에 있어서,패턴이 전사되어야 할 재료는 양형레지스트로 이루어지고, 상기 전사패턴형성영역외부의 영역의 반사 x선 강도의 이 전사패턴형성영역의 반사x선 강도에 대한 비율 rp는 다음관계;[여기서, epop는 양형레지스트패턴의 형성을 위한 적정한 노광량이고, epo는 레지스트현상시에 막감소의 현상을 일으키는최소노광량만족하는것을특징으로 하는반사형 x선 마스크구조체. [청구항 3] 제2항에 있어서,비율rp가 0.1이하인것을특징으로 하는반사형 x선 마스크구조체. [청구항 4] 제1항에 있어서,패턴이 전사되어야 할 재료는 양형레지스트로 이루어지고,상기 전사패턴형성영역외부의 영역의 반사 x선 강도의 이 전사패턴형성영역의 반사x선 강도에 대한 비율 rp는 다음관계;[여기서, enop는 양형레지스트패턴의 형성을 위한 적정한 노광량이고, eni는 레지스트 현상후 막잔류를 일으키는최소노광량만족하는것을특징으로 하는반사형 x선 마스크구조체. [청구항 5] 제4항에 있어서,비율rn은 0.1이하인것을특징으로 하는반사형 x선 마스크구조체. [청구항 6] 제1항에 있어서,선 반사다층막이전사패턴형성영역형성되어있는것을특징으로 하는반사형 x선 마스크구조체. [청구항 7] 제1항에 있어서,전사패턴형성영역이 이 전사패턴형성영역외부의 영역의 평면과는 다른평면형성되어있는것을특징으로 하는반사형 x선 마스크구조체. [청구항 8] 제1항에 있어서,전사패턴형성영역외부의 부분의 x선 흡수체가 전사패턴형성영역의 x선 흡수체의 막두께보다 큰막두께가진것을특징으로 하는반사형 x선 마스크구조체. [청구항 9] 제1항에 있어서,전사패턴형성영역외부의 영역의 다층막이주기구조않은것을특징으로 하는반사형 x선 마스크구조체. [청구항 10] 제9항에 있어서,전사패턴형성영역에 상당하는 영역외부의 지지기판의 영역이 거친 표면을 가지며, x선 반사다층막은 그 거친표면위형성되어있는것을특징으로 하는반사형 x선 마스크구조체. [청구항 11] 제10항에 있어서,상기 주기구조를 가지지 않은 다층막이 x선 반사다층막의 형성후에 하전입자빔을 조사함형성되는것을특징으로 하는반사형 x선 마스크구조체.
지시문 (instruction)
주어진 본문을 읽고 관련 정보를 분석하여 질문에 답하라.
질문 (question)
양형레지스트를 사용하여 패턴을 전사할 때, 레지스트 현상 시 막감소 현상을 일으키는 최소 노광량(epo)과 적정한 노광량(epop)의 관계를 통해 정의되는 반사 x선 강도 비율 rp의 조건은 무엇인가?
추론 과정 (compact_reasoning)
  1. 1과제 해석task_interpretation

    양형레지스트를 이용한 패턴 전사 시, rp(반사 x선 강도 비율)를 정의하는 노광량(epop, epo) 간의 관계식과 그 조건을 찾는 작업이다.

  2. 2정보 추출information_extraction

    청구항 2에서 rp의 정의와 관련된 변수 epop(적정한 노광량) 및 epo(막감소 현상을 일으키는 최소 노광량)를 추출한다.

    • 패턴이 전사되어야 할 재료는 양형레지스트로 이루어지고, 상기 전사패턴형성영역외부의 영역의 반사 x선 강도의 이 전사패턴형성영역의 반사x선 강도에 대한 비율 rp는 다음관계;[여기서, epop는 양형레지스트패턴의 형성을 위한 적정한 노광량이고, epo는 레지스트현상시에 막감소의 현상을 일으키는최소노광량만족하는것을특징으로 하는반사형 x선 마스크구조체
  3. 3근거 선택evidence_selection

    rp의 관계식과 그 조건이 명시된 청구항 2의 문구를 선택한다.

    • 반사 x선 강도의 이 전사패턴형성영역의 반사x선 강도에 대한 비율 rp는 다음관계;[여기서, epop는 양형레지스트패턴의 형성을 위한 적정한 노광량이고, epo는 레지스트현상시에 막감소의 현상을 일으키는최소노광량만족하는것을특징으로 하는반사형 x선 마스크구조체.
  4. 4논리 통합logical_integration

    질문에서 요구하는 rp의 조건은 청구항 2에 기술된 관계식을 만족하는 것이다. (단, 수식 자체는 텍스트상 생략되어 있으나 관계를 만족해야 함을 명시한다.)

    • rp는 다음관계;[여기서, epop는 양형레지스트패턴의 형성을 위한 적정한 노광량이고, epo는 레지스트현상시에 막감소의 현상을 일으키는최소노광량만족하는것을특징으로 하는반사형 x선 마스크구조체.
  5. 5결론 도출conclusion_formulation

    rp는 전사패턴형성영역 외부의 영역의 반사 x선 강도의 전사패턴형성영역의 반사 x선 강도에 대한 비율이며, epop와 epo의 관계식을 만족해야 한다.

    • 반사 x선 강도의 이 전사패턴형성영역의 반사x선 강도에 대한 비율 rp는 다음관계;[여기서, epop는 양형레지스트패턴의 형성을 위한 적정한 노광량이고, epo는 레지스트현상시에 막감소의 현상을 일으키는최소노광량만족하는것을특징으로 하는반사형 x선 마스크구조체.
  6. 6답변 생성answer_generation

    청구항 2의 내용을 바탕으로 rp의 정의와 노광량 조건이 포함된 관계식을 만족해야 한다는 답변을 생성한다.

    • 반사 x선 강도의 이 전사패턴형성영역의 반사x선 강도에 대한 비율 rp는 다음관계;[여기서, epop는 양형레지스트패턴의 형성을 위한 적정한 노광량이고, epo는 레지스트현상시에 막감소의 현상을 일으키는최소노광량만족하는것을특징으로 하는반사형 x선 마스크구조체.
최종 답변 (final_answer)
반사 x선 강도의 이 전사패턴형성영역의 반사x선 강도에 대한 비율 rp는 다음관계;[여기서, epop는 양형레지스트패턴의 형성을 위한 적정한 노광량이고, epo는 레지스트현상시에 막감소의 현상을 일으키는최소노광량만족하는것을특징으로 하는반사형 x선 마스크구조체.
핵심 해석 (core_interpretation)
양형레지스트를 이용한 패턴 형성 시, 적정 노광량(epop)과 막감소 최소 노광량(epo)의 관계를 통해 반사 x선 강도 비율(rp)을 제어함으로써 반사형 x선 마스크의 구조적 특성을 정의한다.