가공데이터 · 특허 지식베이스

고집적화를위한불휘발성메모리및그제조방법 document_id 1019980029734

출원번호
1019980029734
분류
전기(H섹션)
문맥 (context)
[청구항 3] 제2항에 있어서,상기 플로팅 게이트는 인접하는 2개 셀 위에서 보았을 때 워드라인 방향의 거리가 비트라인 방향의 거리보다 가까운 것특징으로 하는낸드형 플래시 메모리의 단위셀. [청구항 4] 제2항에 있어서,상기 소오스/드레인 영역은 상기 플로팅 게이트를 이온주입 마스크로 사용하여구성된것을특징으로 하는낸드형 플래시 메모리의 단위셀. [청구항 5] 제2항에 있어서,상기 필드산화막은 인접한 채널영역간의 소자분리 효과를 높이기 위해 필드산화막 아래의 반도체 기판에 구성된 제1 도전형 고농도불순물영역더구비하는것을특징으로 하는낸드형 플래시 메모리의 단위셀. [청구항 6] 제2항에 있어서,상기 플로팅 게이트와 컨트롤 게이트는 서로 다른 식각 마스크를 사용하여구성된것을특징으로 하는낸드형 플래시 메모리의 단위셀. [청구항 7] 제2항에 있어서,상기 제1 절연막nan은산화막또는산질화막재질로하는것을특징으로 하는낸드형 플래시 메모리의 단위셀. [청구항 8] 제2항에 있어서,상기 제2 층간절연막nan은산화막과질화막의복합막재질로하는것을특징으로 하는낸드형 플래시 메모리의 단위셀. [청구항 11] 제10항에 있어서,상기 필드산화막은 인접한 채널영역간의 소자분리 효과를 높이기 위해 필드산화막 아래의 반도체 기판에 구성된 제1 도전형 고농도불순물영역더구비하는것을특징으로 하는낸드형 플래시 메모리의 단위셀. [청구항 12] 제10항에 있어서,상기 플로팅 게이트와 컨트롤 게이트는 서로 다른 식각 마스크를 사용하여구성된것을특징으로 하는낸드형 플래시 메모리의 단위셀. [청구항 13] 제10항에 있어서,상기 제2 절연막nan은산화막과질화막의복합막재질로하는것을특징으로 하는낸드형 플래시 메모리의 단위셀. [청구항 14] 제10항에 있어서,상기 필드산화막 위의 제3 절연막의 두께는 상기 제3 절연막과 인접하고 있는플로팅 게이트의두께동일한것을특징으로 하는낸드형 플래시 메모리의 단위셀. [청구항 15] 제10항에 있어서,상기 제3 절연막nan은산화막재질로하는것을특징으로 하는낸드형 플래시 메모리의 단위셀.
지시문 (instruction)
주어진 본문을 읽고 관련 정보를 분석하여 질문에 답하라.
질문 (question)
낸드형 플래시 메모리의 단위셀에서 필드산화막 아래의 반도체 기판에 제1 도전형 고농도불순물영역을 구비함으로써 얻을 수 있는 효과는 무엇인가?
추론 과정 (compact_reasoning)
  1. 1과제 해석task_interpretation

    낸드형 플래시 메모리 단위셀에서 필드산화막 아래의 제1 도전형 고농도불순물영역이 제공하는 기능적 효과를 찾는 작업이다.

  2. 2정보 추출information_extraction

    청구항 5 및 11에서 필드산화막 아래의 반도체 기판에 구성된 제1 도전형 고농도불순물영역에 관한 내용을 추출한다.

    • 필드산화막 아래의 반도체 기판에 구성된 제1 도전형 고농도불순물영역
  3. 3근거 선택evidence_selection

    해당 영역의 목적과 효과를 명시한 '인접한 채널영역간의 소자분리 효과를 높이기 위해' 구절을 선택한다.

    • 인접한 채널영역간의 소자분리 효과를 높이기 위해
  4. 4논리 통합logical_integration

    제1 도전형 고농도불순물영역을 구비하는 목적이 인접한 채널영역 간의 소자분리 효과를 높이는 것임을 연결한다.

    • 인접한 채널영역간의 소자분리 효과를 높이기 위해 필드산화막 아래의 반도체 기판에 구성된 제1 도전형 고농도불순물영역
  5. 5결론 도출conclusion_formulation

    질문에 대한 답변으로 인접한 채널영역 간의 소자분리 효과를 높인다는 결론을 도출한다.

    • 인접한 채널영역간의 소자분리 효과를 높이기 위해
  6. 6답변 생성answer_generation

    추출된 문구를 바탕으로 최종 답변을 작성한다.

    • 인접한 채널영역간의 소자분리 효과를 높이기 위해
최종 답변 (final_answer)
필드산화막 아래의 반도체 기판에 제1 도전형 고농도불순물영역을 구비하면, 인접한 채널영역 간의 소자분리 효과를 높일 수 있다.
핵심 해석 (core_interpretation)
필드산화막 하부에 제1 도전형 고농도불순물영역을 형성함으로써 인접한 채널영역 사이의 전기적 격리(소자분리) 성능을 향상시키는 기술이다.