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미스랜딩 량을 측정하는 방법 및 장치 document_id 1019980039306

출원번호
1019980039306
분류
전기(H섹션)
문맥 (context)
[청구항 1] n(여기선 n은 양의 정수) 색의 형광체가 설치된 형광체 스크린을 포함하는 칼라 수상관의 미스랜딩 양을 측정하는 장치에 있어서 칼라 수상관의 형광체 스크린에 대향하는 위치에 각각 배설되는 n 색들의 필터와, 투과된 광의 강도에 대응하는 수광신호를 발생시키기 위해서 n 색필터들의 각각을 투과한 광을 수광하는 수광기와, 전자빔에 의해서 그 색에 대한 기준 발광 강도에서 그 색의 형광체들이 발광할 때, 각 발광 색에 대해서, 투과된 광에 대응하는 기준 수광 신호를 저장하는 저장장치와, 전자빔의 행로를 변환시키기 위해서, 칼라 수상관에 자기장을 외부적으로 인가하는 외부 자기장 인가기와, 수광기가 각각의 인가된 자기장 강도에서 각 발광 색에 대해서 수광신호를 발생시키도록 여러 가지 강도에서 칼라 수상관에 자기장을 인가하도록 외부 자기장 인가기를 제어하는 제어기와 발생된 수광신호와 저장장치에 저장된 기준 수광신호를 이용하여 색분리를 수행하고, 각각의 인가된 자기장 강도에 따라서 적어도 2 개의 색 형광체들의 각 발광량을 산출하며, 적어도 2 개의 색 형광체들의 발광량과 인가된 자기장 강도 사이의 관계에 의거해서 미스랜딩 양을 산출하는 산출기를 포함하는 미스랜딩 양을 측정하는 장치 [청구항 2] 제 1 항에 있어서,산출기는 각 색의 기준 수광신호로 구성되는 색 행열의 역행열을 얻고 각각의 구해진 발광색에 대해 각각의 인가된 자기장 강도에서 투과된 각 색의 광에 대응하는 수광신호로 구성되는 행열을 역행열과 곱합으로써 적어도 두색의 형광체 각각의 발광량을 산출하는 미스랜딩 양측정하는장치. [청구항 3] 제 1 항에 있어서,제 1 색의 형광체와 제 2 색의 형광체 사이의 위치관계를 제공하는 제공기를 더욱 포함하며, 산출기는 제 1 색의 형과체 발광량과 인가된 자기장 강도 사이의 관계에 의거해서 최대 발광량에 대응하는 제 1 차 인가된 자기장을 산출하고, 제 2 색의 형광체 발광량과 인가된 자기장 강도 사이의 관계에 의거해서 최대 발광량에 대응하는 제 2 차 인가된 자기장 강도를 산출하며, 제 1 차, 제 2 차 인가된 자기장 강도의 차이와 위치 관계에 의거해서 단위 인가 자기장 강도 당 전자빔의 입사 이동을 산출하는 미스랜딩 양측정하는장치. [청구항 4] 제 3 항에 있어서,제 1 색의 형광체와 제 2 색의 형광체 사이의 중점과 제1 색 형광체 사이의 위치관계를 제공하는 제공기를 더욱 포함하며, 산출기는 제 1 색의 형광체 최대 발광량에 대응하는 제 1 차 인가된 자기장 강도를 산출하고, 제 2 색 형광체의 최대 발광량에 대응하는 인가된 자기장 강도와 제 1 차 인가된 자기장 강도 사이의 중점에 대응하는 제 2 차 인가 자기장 강도를 산출하며, 제 1 차, 2 차 인가된 자기장 강도 사이의 차와 위치 관계에 의거해서 단위 인가 자기장 강도 당 전자빔의 입사 이동을 산출하는 미스랜딩 양측정하는장치. [청구항 5] 제 1 항에 있어서,산출기는:단위 인가 자기장 강도 당 전자빔의 입사 이동을 산출하는 입사 이동 산출부와;인가된 자기장과 관련해서 한 색의 형광체 발광 량을 나타내는 특성 곡선의 폭 반을 산출하는 폭 반 산출부와;단위 인가 자기장 강도 당 전자빔의 산출된 입사 이동과 산출된 폭 반에 대한 비율을 산출하는 비율 산출부를 포함하며;제어기는 저장장치에 산출된 비율을 저장되도록 하게 하는 미스랜딩 양측정하는장치. [청구항 6] 제 1 항에 있어서,산출기는 단위 인가 자기장 강도 당 전자빔의 입사 이동을 산출하는 입사 이동 산출부와;인가된 자기장 강도에 응해서 수광 신호에 따라 칼라 수상관의 형광체 스크린에 표시되는 특정한 발광 패턴의 표시 위치를 판별하는 표시 위치 판별부와;발광 패턴의 판별 표시 위치에 의거해서 인가된 자기장 강도와 발광 패턴의 이동 사이의 관계를 산출하는 관계 산출부와;산출된 관계에 의거해서 단위 인가 자기장 강도 당 발광 패턴의 이동을 산출하는 이동 산출부와;단위 인가 자기장 강도 당 전자빔의 산출된 입사 이동과 단위 인가 자기장 강도 당 발광 패턴의 산출된 이동 비율을 산출하는 비율 산출부를 포함하며; 제어기는 산출된 비율이 저장 장치에 저장되도록 하는 미스랜딩 양측정하는장치. [청구항 7] 제 1 항에 있어서,형광체 스크린에는 3 색 적색, 녹색, 청색의 형광체가 설치된 미스랜딩 양측정하는장치. [청구항 8] 제 1 항에 있어서,수광기는 광전 변환 요소들을 포함하는 미스랜딩 양측정하는장치. [청구항 9] 제 1 항에 있어서,칼라 수상관은 어퍼쳐 그릴 형 쉐도우 마스크를 포함하는 미스랜딩 양측정하는장치. [청구항 10] 제 1 항에 있어서,칼라 수상관은 도트 형 쉐도우 마스크를 포함하는 미스랜딩 양측정하는장치. [청구항 11] 3 가지 색 적색, 녹색, 청색의 형광체가 구비된 형광체 스크린을 포함하는 칼라 수상관의 미스랜딩 양을 측정하는 장치에 있어서, 적색, 녹색, 청색 광선을 각각 투과할 수 있는 다수의 필터와 투과된 광의 강도에 대응해서 수광 신호를 발생시키기 위해 각 색 필터를 통해 투과된 광을 수광하는 수광 센서와 각 발광 색에 대해서, 그 색의 발광체가 전자빔에 의해서 그 색에 대한 기준 발광 강도에서 발광 될 때 투과된 광에 대응하는 기준 수광신호를 저장하는 저장 장치와 전자빔 행로를 변환시키기 위해 칼라 수상관에 자기장을 외부에서 인가하는 자기장 인가기와 자기장 인가기를 제어하여 수광 센서가 각 발광 색에 대해서 각각의 인가된 자기장 강도에서 수광 신호를 발생하도록 여러 강도에서 자기장을 칼라 수상관에 인가하도록 하는 제어기와 발생된 수광 신호와 저장 장치에 저장된 기준 수광 신호를 이용하여 색분리를 수행하고, 각각의 인가된 자기장 강도에 대응해서 적어도 2 색의 각 형광체 발광량을 산출하며, 적어도 2 색의 형광체 발광량과 인가된 자기장 강도 사이의 관계에 의거해서 미스랜딩 양을 산출하는 산출기를 포함하는 미스랜딩 양을 측정하는 장치 [청구항 12] 제 11 항에 있어서,산출기는, 각 색의 기준 수광 신호로 구성되는 색 행열의 역행열을 구하고, 각각의 구해진 발광 색에 대해 각각의 인가된 자기장 강도에서 각 색의 투과된 광에 대응하는 수광 신호로 구성되는 행열을 역행열로 곱합으로써 적어도 2 색의 형광체 각 발광량을 산출하는 미스랜딩 양측정하는장치. [청구항 13] 제 11 항에 있어서,제 1 색의 형광체와 제 2 색의 형광체 사이의 위치 관계를 제공하는 제공기를 더욱 포함하며, 산출기는 제 1 색의 형광체 발광량과 인가된 자기장 강도 사이의 관계에 의거해서 최대 발광량에 대응하는 제 1 차 인가 자기장 강도를 산출하며, 제 2 색의 형광체 발광량과 인가된 자기장 강도 사이의 관계에 의거해서 최대 발광량에 대응하는 제 2 차 인가 자기장 강도를 산출하고, 제 1 차, 2 차 인가 자기장 강도의 차이와 그 위치 관계에 의거해서 인가된 단위 자기장 강도 당 전자빔의 입사 이동을 산출하는 미스랜딩 양측정하는장치. [청구항 14] 제 11 항에 있어서,제 1 색의 형광체와 제 2 색의 형광체 사이의 중점과 제1 색 형광체 사이의 위치관계를 제공하는 제공기를 더욱 포함하며, 산출기는 제 1 색의 형광체 발광량과 인가된 자기장 강도 사이의 관계에 의거해서 최대 발광량에 대응하는 제 1 차 인가된 자기장을 산출하고, 제 2 색의 형광체 발광량과 인가된 자기장 강도 사이의 관계에 의거해서 최대 발광량에 대응하는 제 2 차 인가된 자기장 강도를 산출하며, 제 1 차, 제 2 차 인가된 자기장 강도의 차이와 위치 관계에 의거해서 단위 인가 자기장 강도 당 전자빔의 입사 이동을 산출하는 미스랜딩 양측정하는장치.
지시문 (instruction)
주어진 본문을 읽고 관련 정보를 분석하여 질문에 답하라.
질문 (question)
미스랜딩 양을 측정하는 장치에서 산출기가 단위 인가 자기장 강도 당 전자빔의 입사 이동을 산출하기 위해 사용하는 정보는 무엇인가?
추론 과정 (compact_reasoning)
  1. 1과제 해석task_interpretation

    질문은 미스랜딩 양 측정 장치의 산출기가 '단위 인가 자기장 강도 당 전자빔의 입사 이동'을 산출할 때 사용하는 정보를 찾는 것이다.

  2. 2정보 추출information_extraction

    청구항 3 및 13, 14에서 산출기가 단위 인가 자기장 강도 당 전자빔의 입사 이동을 산출하는 과정을 확인한다.

    • 제 1 차, 제 2 차 인가된 자기장 강도의 차이와 위치 관계에 의거해서 단위 인가 자기장 강도 당 전자빔의 입사 이동을 산출하는
  3. 3근거 선택evidence_selection

    산출기가 입사 이동을 산출하기 위해 사용하는 근거인 '제 1 차, 제 2 차 인가된 자기장 강도의 차이'와 '위치 관계'를 선택한다.

    • 제 1 차, 제 2 차 인가된 자기장 강도의 차이와 위치 관계에 의거해서 단위 인가 자기장 강도 당 전자빔의 입사 이동을 산출하는
  4. 4논리 통합logical_integration

    산출기는 제 1 차 및 제 2 차 인가된 자기장 강도의 차이값과 형광체 간의 위치 관계 정보를 결합하여 입사 이동을 계산한다.

    • 제 1 차, 제 2 차 인가된 자기장 강도의 차이와 위치 관계에 의거해서
  5. 5결론 도출conclusion_formulation

    따라서 산출기가 사용하는 정보는 제 1 차 및 제 2 차 인가된 자기장 강도의 차이와 위치 관계이다.

  6. 6답변 생성answer_generation

    추출된 정보를 바탕으로 최종 답변을 작성한다.

최종 답변 (final_answer)
제 1 차, 제 2 차 인가된 자기장 강도의 차이와 위치 관계 정보를 사용한다.
핵심 해석 (core_interpretation)
본 발명은 형광체 발광량과 자기장 강도 사이의 관계를 통해 산출된 두 차례의 자기장 강도 차이 및 형광체 간의 위치 관계를 이용하여 전자빔의 입사 이동량을 정밀하게 산출하는 기술에 관한 것이다.