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불휘발성 반도체 메모리 document_id 1019990006577

출원번호
1019990006577
분류
전기(H섹션)
문맥 (context)
[청구항 2] 제1항에 있어서,상기 제1 주비트선에 접속되는 선택 트랜지스터와, 상기 제2 주비트선에 접속되는 선택 트랜지스터는, 상기 메모리 셀 어레이를 사이에 두도록 서로 대향하는위치배치되는것을특징으로 하는불휘발성 반도체 메모리. [청구항 3] 제1항에 있어서,하나의 상기 주비트선에2개의분할 비트선접속되는것을특징으로 하는불휘발성 반도체 메모리 장치. [청구항 4] 제1항에 있어서,상기 분할 비트선을 소정 전위에 접속하기 위한방전 트랜지스터구비한것을특징으로 하는불휘발성 반도체 메모리. [청구항 5] 제1항에 있어서,상기 메모리 셀 어레이는, 복수의 블럭으로 분할되고, 상기 선택 트랜지스터는, 각 블럭마다의 분할 비트선의 어느 하나를, 주비트선을 통해 상기 컬럼 디코더에 선택적으로 접속하는 것으로, 상기 선택 트랜지스터, 및 상기 선택 트랜지스터에 제어 신호를 인가하는 전극 배선이 상기 메모리 셀 어레이의 양측에, 배열 방향을 따라 서로 대향하도록 배설되어 하나의 단위 패턴을 구성하고, 상기 단위 패턴을 다수개 나열하고, 나열된 단위 패턴 상에 상기 메모리 셀 어레이의 배열 방향과 교차하도록 상기 주비트선이 연장하여 각패턴의선택트랜지스터접속되는것을특징으로 하는불휘발성 반도체 메모리. [청구항 6] 제4항에 있어서,상기 메모리 셀 어레이의 한쪽 측에 배치한 선택 트랜지스터가 공통의 주비트선에 접속되고, 상기 메모리 셀 어레이의 다른 측에 배치한 선택 트랜지스터가 그 이웃한 주비트선에공통접속되는것을특징으로 하는불휘발성 반도체 메모리. [청구항 7] 제4항에 있어서,상기 메모리 셀 어레이의 서로 대향하는 양측에 배치한 신호선의 적어도 대응하는 한 셋트가, 전기적으로 접속되어 있고, 상기 메모리 셀 어레이를 구성하는 각 메모리 셀에 대해 양측으로부터 동일 제어 신호를 인가 가능하도록구성되는것을특징으로 하는불휘발성 반도체 메모리. [청구항 8] 제4항에 있어서,상기 신호선이, 인접하는 메모리 셀 어레이에 접속할 수 있도록 구성된신호선인접하는것을특징으로 하는불휘발성 반도체 메모리. [청구항 9] 제5항에 있어서,상기 주비트선은, 상기 분할 비트선과는 층간 절연된 전극 배선으로 이루어지고, 상기 선택 트랜지스터의 접속 개소에, 상기 전극 배선의 한쪽 부재를 부분적으로 돌출시킨 볼록부를 배치하고, 하나의 주비트선에 관한 볼록부와, 그 이웃한 주비트선에 관한볼록부가상호배치한것을특징으로 하는불휘발성 반도체 메모리. [청구항 10] 제5항에 있어서,반도체 기판 표면에, 매트릭스형으로 배열 형성된, 스플리트형 메모리 셀로 이루어지는 메모리 셀 어레이 블럭과, 상기 메모리 셀 어레이 블럭의 양측에, 그 배열 방향을 따라 배열된 선택 트랜지스터와, 더욱 그 외측에 배열된 방전 트랜지스터와, 더욱 그 외측에 상기 메모리 셀의 배열 방향과 평행하게 주행시킨 3쌍의 전극 배선으로 이루어지는 단위 패턴이, 여러개배열된것을특징으로 하는불휘발성 반도체 메모리. [청구항 11] 제10항에 있어서,상층에 층간 절연막을 통해, 이들의 배열 방향과 직교하도록비트선배설되는것을특징으로 하는불휘발성 반도체 메모리. [청구항 12] 제11항에 있어서,상기 3쌍의 전극 배선은, 메모리 셀측으로부터 외측을 향해 차례대로, 접지 전위선, 기록 가능 전위선, 기록 금지 전위선을 구성하고 있고, 각 쌍은동일전위인것을특징으로 하는불휘발성 반도체 메모리. [청구항 13] 제12항에 있어서,상기 기록 가능 전위선 및 기록 금지 전위선은 상보 신호 전위에 있도록 한 것특징으로 하는불휘발성 반도체 메모리. [청구항 14] 제10항에 있어서,상기 반도체 기판의 주연부 영역에 하나의 변을 따라 상기 로우 디코더를 배설함과 동시에, 이 변에 직교하는 변을 따라컬럼디코더구비하여이루어지는것을특징으로 하는불휘발성 반도체 메모리. [청구항 15] 제14항에 있어서,상기 컬럼 디코더는 상기 신호선에 직교하는 방향으로 신장하도록형성되어있는것을특징으로 하는불휘발성 반도체 메모리.
지시문 (instruction)
본문에서 필요한 정보를 찾아 질문에 답변하라.
질문 (question)
불휘발성 반도체 메모리에서 단위 패턴을 구성하는 3쌍의 전극 배선은 메모리 셀측으로부터 외측을 향해 어떤 순서로 구성되는가?
추론 과정 (compact_reasoning)
  1. 1과제 해석task_interpretation

    불휘발성 반도체 메모리의 단위 패턴 내 3쌍의 전극 배선이 메모리 셀측에서 외측 방향으로 배치되는 순서를 파악해야 한다.

  2. 2정보 추출information_extraction

    청구항 10에서 단위 패턴이 선택 트랜지스터, 방전 트랜지스터, 그리고 외측의 3쌍의 전극 배선으로 구성됨을 확인하고, 청구항 12에서 전극 배선의 구체적인 구성을 추출한다.

    • 3쌍의 전극 배선으로 이루어지는 단위 패턴, 상기 3쌍의 전극 배선은, 메모리 셀측으로부터 외측을 향해 차례대로, 접지 전위선, 기록 가능 전위선, 기록 금지 전위선을 구성하고 있고
  3. 3근거 선택evidence_selection

    전극 배선의 순서를 직접적으로 명시한 청구항 12의 구절을 선택한다.

    • 메모리 셀측으로부터 외측을 향해 차례대로, 접지 전위선, 기록 가능 전위선, 기록 금지 전위선을 구성하고 있고
  4. 4논리 통합logical_integration

    청구항 12에 따라 메모리 셀에서 외측으로 향하는 순서는 접지 전위선, 기록 가능 전위선, 기록 금지 전위선 순임을 논리적으로 연결한다.

    • 메모리 셀측으로부터 외측을 향해 차례대로, 접지 전위선, 기록 가능 전위선, 기록 금지 전위선을 구성하고 있고
  5. 5결론 도출conclusion_formulation

    질문에서 요구하는 3쌍의 전극 배선 순서를 리스트 형식으로 정리한다.

  6. 6답변 생성answer_generation

    최종 답변을 생성한다.

최종 답변 (final_answer)
접지 전위선, 기록 가능 전위선, 기록 금지 전위선
핵심 해석 (core_interpretation)
불휘발성 반도체 메모리의 단위 패턴을 구성하는 3쌍의 전극 배선이 메모리 셀로부터 외측 방향으로 접지 전위선, 기록 가능 전위선, 기록 금지 전위선 순으로 배치되어 있음을 나타낸다.