문맥 (context)
[청구항 2]
제1항에 있어서,전선관의 어떤것이 전기적으로 절연된 재료포함하는구성의 웨이퍼시험시스템의 시험헤드와 시험카드의 결합장치.
[청구항 3]
제1항에 있어서,의 판과 제2의 판이 인쇄회로기판포함하는구성의 웨이퍼시험시스템의 시험헤드와 시험카드의 결합장치.
[청구항 4]
제1항에 있어서,의 판이 유전체재료포함하는구성의 웨이퍼시험시스템의 시험헤드와 시험카드의 결합장치.
[청구항 6]
제1항에 있어서,도전부재의 제1의 단말이 하나의 제1의 소켓내에 고정되고, 각 도전부재의 제2의 단말이 하나의 제2의 소켓내고정된구성의 웨이퍼시험시스템의 시험헤드와 시험카드의 결합장치.
[청구항 7]
제1항에 있어서,도전부재와 소켓은 일반적으로 열로 배열되고, 각 전선관의 열내의 다른 도전부재는 공통접지전위에 결합하기 위해 구성되어 있으며, 다른 도전부재간의 어떤 도전부재는 데이터신호를 반송하도록 구성되고, 어떤 전선관의 열간에 배치된 전기적차폐부재와 어떤 전기적차폐부재는 접지전위를 반송하도록 구성된 어떤 다른 도전부재에 전기적결합된구성의 웨이퍼시험시스템의 시험헤드와 시험카드의 결합장치.
[청구항 8]
제6항에 있어서,도전부재와 소켓의 열이 실제적으로 직각의 패턴배열되어 있는구성의 웨이퍼시험시스템의 시험헤드와 시험카드의 결합장치.
[청구항 9]
제6항에 있어서,의 판은 고리상이고, 일반적으로 모양이 원형이며, 도전부재와 소켓의 열은 실제적으로 방사상패턴배열되어 있는구성의 웨이퍼시험시스템의 시험헤드와 시험카드의 결합장치.
[청구항 10]
제1항에 있어서,도전부재와 소켓은 일반적으로 열로 배열되고, 각 제1과 제2의 판은 열간에 배치되며, 실제적으로 평행인 방향의 홈을 포함하고, 인접하는 열내에 배치된 전선관내의 도전부재간의 전기적 루화를 감소시키기 위해 제1과 제2의 판간에 뻗어 있는 홈내에 장착된 차폐부재구성된웨이퍼시험시스템의 시험헤드와 시험카드의 결합장치.
[청구항 11]
제1항에 있어서,도전부재는 각 도전부재의 제1과 제2의 단말에 가해진 힘에 응답해서 탄성적으로 압축가능한구성의 웨이퍼시험시스템의 시험헤드와 시험카드의 결합장치.
[청구항 13]
제1의 소켓을 갖는 제1의 유전체판과,
제2의 소켓을 갖는 제2의 유전체판과,
제1의 판과 제2의 판간을 뻗어 있는 금속전선관과, 각 전선관은 하나의 제1의 소켓에 장착된 제1의 단말과, 하나의 제2의 소켓에 장착된 제2의 단말을 갖고, 연장된 전선관은 일반적으로 열로 배열되어 있으며, 전선관의 인접하는 열간에 배치된 전기적 차폐부재와, 전기적 루화를 감소시키고, 전선관내에 배치된 전기적 도전부재와, 각 전기적 도전부재가 하나의 제1의 소켓을 거쳐서 도달할수 있는 제1의 단말과, 하나의 제2의 소켓을 거쳐서 도달할수 있는 제2의 단말을 갖는 구성의 웨이퍼시험시스템의 시험헤드와 시험카드의 결합장치
[청구항 14]
제13항에 있어서,전선관이 전기적으로 절연재료포함하는구성의 웨이퍼시험시스템의 시험헤드와 시험카드의 결합장치.
[청구항 15]
제13항에 있어서,의 판이 인쇄회로기판포함하는구성의 웨이퍼시험시스템의 시험헤드와 시험카드의 결합장치.
[청구항 16]
제13항에 있어서,의 판이 고리상의구성인웨이퍼시험시스템의 시험헤드와 시험카드의 결합장치.
[청구항 17]
제13항에 있어서,도전부재의 제1의 단말은 하나의 제1의 소켓내에 고정되고, 각 도전부재의 제2의 단말은 하나의 제2의 소켓내고정된구성의 웨이퍼시험시스템의 시험헤드와 시험카드의 결합장치.
[청구항 18]
제13항에 있어서,전선관의 각 열내의 다른 도전부재는 공통접지전위에 결합하기 위해 구성되어 있고, 다른 도전부재간의 어떤 도전부재는 데이터신호를 반송하도록 구성되어 있으며, 어떤 다른 도전부재에 전기적으로 결합된 어떤 전기적 차폐부재는접지전위반송하도록구성된웨이퍼시험시스템의 시험헤드와 시험카드의 결합장치.
[청구항 19]
제18항에 있어서,의 판은 열간에 배치되고, 실제적으로 평행인 방향의 구멍을 포함하며, 인접하는 열내에 배치된 전선관내의 도전부재간의 전기적 루화를 감소시키기 위해 제1과 제2의 판간에 뻗어 있고 구멍내에 장착된차폐부재포함하는구성인웨이퍼시험시스템의 시험헤드와 시험카드의 결합장치.
[청구항 20]
제13항에 있어서,도전부재는 도전부재의 제1과 제2의 단말에 가해진 힘에 응답해서 탄성적으로압축가능한구성인웨이퍼시험시스템의 시험헤드와 시험카드의 결합장치.
지시문 (instruction)
주어진 본문을 읽고 관련 정보를 분석하여 질문에 답하라.
질문 (question)
웨이퍼시험시스템의 시험헤드와 시험카드의 결합장치에서, 인접하는 열 내에 배치된 전선관 내의 도전부재 간 전기적 루화를 감소시키기 위해 제1의 판과 제2의 판 사이에 배치되는 구성 요소는 무엇인가?
추론 과정 (compact_reasoning)
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1과제 해석
task_interpretation질문은 인접하는 열 내 전선관 내 도전부재 간의 전기적 루화를 감소시키기 위해 제1의 판과 제2의 판 사이에 배치되는 구성 요소를 찾는 것이다.
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2정보 추출
information_extraction청구항 10과 청구항 19에서 '전기적 루화를 감소시키기 위해'라는 목적과 '제1과 제2의 판간에' 배치되는 구성 요소에 대한 설명을 추출한다.
- 인접하는 열내에 배치된 전선관내의 도전부재간의 전기적 루화를 감소시키기 위해 제1과 제2의 판간에 뻗어 있는 홈내에 장착된 차폐부재
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3근거 선택
evidence_selection전기적 루화 감소를 위해 제1과 제2의 판 사이에 배치되는 구체적인 구성 요소인 '차폐부재'를 근거로 선택한다.
- 인접하는 열내에 배치된 전선관내의 도전부재간의 전기적 루화를 감소시키기 위해 제1과 제2의 판간에 뻗어 있는 홈내에 장착된 차폐부재
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4논리 통합
logical_integration청구항 10에 따르면, 제1의 판과 제2의 판 사이의 홈 내에 장착된 차폐부재가 도전부재 간의 전기적 루화를 감소시키는 역할을 수행함을 알 수 있다.
- 인접하는 열내에 배치된 전선관내의 도전부재간의 전기적 루화를 감소시키기 위해 제1과 제2의 판간에 뻗어 있는 홈내에 장착된 차폐부재
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5결론 도출
conclusion_formulation따라서 질문에서 요구하는 구성 요소는 차폐부재이다.
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6답변 생성
answer_generation추출된 답변인 '차폐부재'를 최종 답변으로 생성한다.
최종 답변 (final_answer)
차폐부재
핵심 해석 (core_interpretation)
본 발명은 제1의 판과 제2의 판 사이에 배치된 차폐부재를 통해 전선관 내 도전부재 간의 전기적 루화를 방지하는 결합장치 기술에 관한 것이다.