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비트동기회로 document_id 1020000034286

출원번호
1020000034286
분류
전기(H섹션)
문맥 (context)
[청구항 2] 제 1 항에 있어서,상기 변화점 보유회로와 변화점 검출회로에서의 출력을 계산하여 상기 출력들이 입력된 비트 데이터의 변화점에 비해 진행된 것인지 또는 지연된 것인 지를 결정하는 편이계산회로더 포함하는비트동기회로. [청구항 3] 제 2 항에 있어서,상기 편이계산회로의 출력에 따라 상기 변화점 보유회로의 데이터변화되는비트동기회로. [청구항 4] 제 2 항에 있어서,상기 편이계산회로에서의 출력에 따라 카운트하는 카운터; 및상기 카운터의 값과 소정의 상한치 및 하한치를 비교하는 비교회로더 포함하는비트동기회로. [청구항 5] 제 4 항에 있어서,상기 비교회로의 비교 결과가 상기 카운터의 값이 소정의 상한치 이상 또는 소정의 하한치 이하로 되는 경우에, 상기 변화점 보유회로는 그 비교결과에 따라 그의 값변화시키는비트동기회로. [청구항 6] 제 5 항에 있어서,상기 비교회로의 상한치 및 하한치를 변경할 수있는비트동기회로. [청구항 7] 제 1 항에 있어서,일정 시간 이상의 무신호 상태 후에 신호가 입력되었을때, 상기 변화점 보유회로는 상기 변화점 검출회로의 변화점그대로 보유하는비트동기회로. [청구항 9] 제 1 항에 있어서,상기 데이터샘플회로에서 병렬로 출력된 비트 데이터를, 다단의 d 플립 플롭을 이용하여 단계적으로 타이밍을 시프트함에 의해 동기화하는 동기화회로를 포함하며, 상기 동기화회로에서 출력된 데이터가 상기 데이터선택회로입력되는비트동기회로. [청구항 10] 제 9 항에 있어서,상기 변화점 검출회로 또는 변화점 보유회로에서 출력된 데이터를 상기 동기화회로에서 동기화하기 위한 사이클만큼 지연시키는 변화점 지연회로더 포함하는비트동기회로. [청구항 11] 제 8 항 또는 9 항에 있어서,상기 선택치설정회로에서 출력된 데이터를 상기 동기화회로에서 동기화하기 위한 사이클만큼 지연시키는 선택치 지연회로더 포함하는비트동기회로. [청구항 12] 제 1 항 또는 제 8 항에 있어서,상기 데이터선택회로에서 출력된 데이터를 입력으로 하는 동기식포함하는비트동기회로. [청구항 13] 제 12 항에 있어서,상기 비트데이터의 클록과 수신측의 클록 사이에서 비트 레이트의 시프트가 발생하였을때 데이터의 과부족을 보상하여 상기 동기식 fifo에 기입하는 기입 수단을 갖는 동기식 fifo 기입 회로더 포함하는비트동기회로. [청구항 14] 제 1 항 또는 8 항에 있어서,상기 데이터샘플회로에서, 비트 레이트와 같거나 또는 느린 속도를 가지며 위상이 거의 등간격으로 시프트되는 복수의 클록에 의해 비트 데이터를 오버샘플하는비트동기회로. [청구항 16] 제 15 항에 있어서,상기 데이터샘플회로에서, 상기 비트 레이트와 동일하거나 또는 느린 속도를 가지며 위상이 거의 등간격으로 시프트되는 복수의 클록에 의해 비트 데이터가 오버샘플되는비트동기회로. [청구항 17] 제 15 항에 있어서,상기 변화점검출회로는 상기 데이터샘플회로에서 비트 데이터를 오버 샘플하는 경우에, 상기 비트 데이터가 위상 시프트된 클록들(1,2,..,n-1,n,n+1,...,m-1,m(m,n : 정수))에 의해 이 순서로 오버샘플되며, 클록 1 내지 클록 n에 의해 샘플된 데이터에 비트 레이트의 1 주기의 샘플링이 실행된다고 하면, 상기 동기화회로에서 출력된 데이터가 클록 1에서 클록 n의 순서로 체크되어, 이때 수신된 데이터의 변화점에 따라 상기 오버샘플된 데이터의 변화점이 검출되는 검출 방법갖는비트동기회로. [청구항 18] 제 7 항에 있어서,상기 동기화회로에서 출력된 데이터를 체크함에 있어서, 클록들 1 내지 n에 의해 샘플된 데이터 및 상기 클록들 1 내지 n에서 비트 레이트의 1주기만큼 위상 시프트된 클록들에 의해 샘플된 데이터체크되는비트동기회로. [청구항 19] 제 15 항에 있어서,상기 변화점 검출회로는 상기 데이터샘플회로에서 비트 데이터를 오버 샘플하는 경우에, 상기 비트 데이터가 위상 시프트된 클록들(1,2,..,n-1,n,n+1,...,m-1,m(m,n : 정수))에 의해 이 순서로 오버샘플되며, 클록 1 내지 클록 n에 의해 샘플된 데이터에 비트 레이트의 1 주기의 샘플링이 실행된다고 하면, 클록 1 내지 클록 n에 의해 샘플된 데이터 및 상기 클록들 1 내지 n에서 비트 레이트의 1주기 만큼 위상 시프트된 클록들에 의해 샘플된 데이터를 클록 1 내지 클록 n의 순서로 체크함에 의해 비트 데이터의 변화점을 검출하고, 이때 클록 1 내지 n에 의해 샘플된 데이터를 체크함에 의해 오버샘플된 데이터의 변화점이 검출되는 검출 방법갖는비트동기회로. [청구항 20] 제 15 항에 있어서,상기 변화점 검출회로에서 출력된 데이터는 변화점이 검출될때변화되는비트동기회로. [청구항 21] 제 15 항에 있어서,상기 동기화회로의 출력에서 출력된 샘플된 데이터를 선택하는 데이터 선택회로더 포함하는비트동기회로. [청구항 22] 제 21 항에 있어서,상기 데이터 선택회로는 상기 변화점 검출회로에 의해 검출된 변화점에서 비트 레이트의 대략 절반만큼 시프트된, 동기화회로에서 샘플된 데이터선택하는비트동기회로. [청구항 23] 제 21 항에 있어서,상기 데이터선택회로에서 출력된 데이터가 입력되는 동기식더 포함하는비트동기회로. [청구항 24] 제 23 항에 있어서,비트 레이트의 위상 시프트가 비트동기회로의 클록 및 비트 데이터의 클록 사이에서 발생하는 경우에 데이터의 과부족을 보상하는 기입 수단을 가진 동기식 fifo 기입 회로더 포함하는비트동기회로.
지시문 (instruction)
주어진 본문을 읽고 관련 정보를 분석하여 질문에 답하라.
질문 (question)
비트동기회로에서 카운터의 값이 소정의 상한치 이상 또는 소정의 하한치 이하가 될 경우, 변화점 보유회로는 어떻게 동작하는가?
추론 과정 (compact_reasoning)
  1. 1과제 해석task_interpretation

    비트동기회로 내에서 카운터 값이 상한치 이상 또는 하한치 이하가 될 때 변화점 보유회로가 수행하는 동작을 찾는 것이다.

  2. 2정보 추출information_extraction

    청구항 5에서 카운터의 값과 상한치/하한치를 비교하는 비교회로의 결과에 따른 변화점 보유회로의 동작을 확인할 수 있다.

    • 상기 비교회로의 비교 결과가 상기 카운터의 값이 소정의 상한치 이상 또는 소정의 하한치 이하로 되는 경우에, 상기 변화점 보유회로는 그 비교결과에 따라 그의 값변화시키는
  3. 3근거 선택evidence_selection

    질문 조건인 '카운터의 값이 소정의 상한치 이상 또는 소정의 하한치 이하가 될 경우'와 직접 대응하는 구절을 선택한다.

    • 상기 비교회로의 비교 결과가 상기 카운터의 값이 소정의 상한치 이상 또는 소정의 하한치 이하로 되는 경우에, 상기 변화점 보유회로는 그 비교결과에 따라 그의 값변화시키는
  4. 4논리 통합logical_integration

    비교회로의 결과가 상한치 이상 또는 하한치 이하일 때, 변화점 보유회로는 해당 비교 결과에 따라 자신의 값을 변화시킨다는 논리를 도출한다.

    • 상기 비교회로의 비교 결과가 상기 카운터의 값이 소정의 상한치 이상 또는 소정의 하한치 이하로 되는 경우에, 상기 변화점 보유회로는 그 비교결과에 따라 그의 값변화시키는
  5. 5결론 도출conclusion_formulation

    변화점 보유회로는 비교 결과에 따라 그 값을 변화시킨다는 결론을 내린다.

    • 상기 변화점 보유회로는 그 비교결과에 따라 그의 값변화시키는
  6. 6답변 생성answer_generation

    추출된 정보를 바탕으로 질문에 대한 답변을 작성한다.

    • 상기 변화점 보유회로는 그 비교결과에 따라 그의 값변화시키는
최종 답변 (final_answer)
상기 변화점 보유회로는 그 비교결과에 따라 그의 값을 변화시킨다.
핵심 해석 (core_interpretation)
비트동기회로에서 카운터 값이 설정된 상한 또는 하한 범위를 벗어날 경우, 비교회로의 결과에 따라 변화점 보유회로의 값을 조정하여 동기화를 유지한다.