문맥 (context)
[청구항 1]
상위 프로세서의 명령을 받아 처리함과 아울러 테스트 벡터의 생성 및 보드 내의 각 구성부를 제어하여 독립적인 테스트 벡터의 루핑 경로를 설정하는 엘씨유(lcu)와
보드 자체의 구동에 필요한 데이터 및 상위 프로세서와의 통신시 필요한 데이터를 저장하기 위한 지역 메모리부 및 공동 메모리부와
버스 데이터를 해석하고 엘씨유가 보드 내의 자원을 관리하는데 필요한 각종 제어신호를 생성하는 버스 인터페이스 및 어드레스 디코더와
각각 버스 데이터, ipc 데이터, shw 데이터를 송수신하기 위한 버스 인터페이스부, ipc 인터페이스부 및 shw 인터페이스부와
타임슬롯 교환 및 상기 엘씨유에서 생성된 테스트 벡터를 버스를 통해 입력받아 해당 구성부에 출력하는 타임 스위치와
중계선 프레임 생성 및 해석을 수행하는 프레이머와
중계선 펄스 생성 및 감지를 수행하는 엘아이유(liu)와
트랜스포머를 포함한 보호 회로인 라인 보호부와
중계선 링크로부터 추출한 클럭을 시스템 동기장치에 공급하는 클럭 처리부로 구성한 것을 특징으로 하는 자체 기능 테스트가 가능한 중계선 보드
[청구항 2]
제1항에 있어서,상기 엘씨유는 테스트 벡터를 생성하여 데이터 버스를 이용해 타임 스위치에 삽입하고, 설정된 시험 경로를 통해 되돌아 온 테스트 벡터를 타임 스위치에서 추출하여 시험 및 진단을 수행하도록 구성한 것을 특징으로 하는 자체 기능 테스트가능한중계선 보드.
[청구항 3]
제1항에 있어서,상기 타임 스위치는 엘씨유로부터 테스트 벡터를 입력받아 해당 경로의 각 구성부에 출력하고, 그 루핑된 테스트 벡터를 다시 엘씨유로 출력하는, 텍스트 벡터의 입/출력 통로 역할을 수행하도록 구성한 것을 특징으로 하는 자체 기능 테스트가능한중계선 보드.
[청구항 4]
제1항에 있어서,상기 엘씨유는 타임 스위치에 테스트 벡터를 루핑시켜 그 이상 유무를 진단하고, 'loop back #1'와 'loop back #2'를 통해 ipc 인터페이스부 및 shw 인터페이스부에 순차로 테스트 벡터를 루핑시켜 그 이상 유무를 진단하고, 프레이머에 ddlb(diagnostic digital loop back) 경로를 만들고, 이를 통해 루프백되는 테스트 벡터를 이용하여 프레이머의 이상 유무를 진단하고, 순차로 엘아이유에 dialb(diagnostic loop back) 경로를 만들어 상기 프레이머와 엘아이유간의 pcb 패턴 이상 유무를 진단하고, 엘아이유에 dmlb(diagnostic metallic loop back) 경로를 만들어 이를 통해 테스트 벡터를 루핑시켜 엘아이유의 이상 유무를 진단하고, 'loop back #3'을 통해 루프백되는 테스트 벡터를 이용하여 라인 보호부의 이상 유무를 진단하도록 이루어진 것을 특징으로 하는 자체 기능 테스트가능한중계선 보드.
지시문 (instruction)
주어진 본문을 읽고 관련 정보를 분석하여 질문에 답하라.
질문 (question)
자체 기능 테스트가 가능한 중계선 보드에서 엘씨유(lcu)가 각 구성부의 이상 유무를 진단하기 위해 수행하는 구체적인 루핑 경로 설정 방식은 무엇인가?
추론 과정 (compact_reasoning)
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1과제 해석
task_interpretation엘씨유(lcu)가 중계선 보드의 각 구성부 이상 유무를 진단하기 위해 수행하는 구체적인 루핑 경로 설정 방식을 추출해야 한다.
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2정보 추출
information_extraction청구항 4를 통해 엘씨유가 각 구성부(타임 스위치, ipc, shw, 인터페이스부, 프레이머, 엘아이유, 라인 보호부)에 대해 수행하는 루핑 경로 설정 방식을 확인한다.
- 엘씨유는 타임 스위치에 테스트 벡터를 루핑시켜 그 이상 유무를 진단하고, 'loop back #1'와 'loop back #2'를 통해 ipc 인터페이스부 및 shw 인터페이스부에 순차로 테스트 벡터를 루핑시켜 그 이상 유무를 진단하고, 프레이머에 ddlb(diagnostic digital loop back) 경로를 만들고, 이를 통해 루프백되는 테스트 벡터를 이용하여 프레이머의 이상 유무를 진단하고, 순차로 엘아이유에 dialb(diagnostic loop back) 경로를 만들어 상기 프레이머와 엘아이유간의 pcb 패턴 이상 유무를 진단하고, 엘아이유에 dmlb(diagnostic metallic loop back) 경로를 만들어 이를 통해 테스트 벡터를 루핑시켜 엘아이유의 이상 유무를 진단하고, 'loop back #3'을 통해 루프백되는 테스트 벡터를 이용하여 라인 보호부의 이상 유무를 진단하도록 이루어진
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3근거 선택
evidence_selection질문에서 요구하는 '구체적인 루핑 경로 설정 방식'에 해당하는 청구항 4의 기술적 내용을 선별한다.
- 타임 스위치에 테스트 벡터를 루핑시켜 그 이상 유무를 진단하고, 'loop back #1'와 'loop back #2'를 통해 ipc 인터페이스부 및 shw 인터페이스부에 순차로 테스트 벡터를 루핑시켜 그 이상 유무를 진단하고, 프레이머에 ddlb(diagnostic digital loop back) 경로를 만들고, 이를 통해 루프백되는 테스트 벡터를 이용하여 프레이머의 이상 유무를 진단하고, 순차로 엘아이유에 dialb(diagnostic loop back) 경로를 만들어 상기 프레이머와 엘아이유간의 pcb 패턴 이상 유무를 진단하고, 엘아이유에 dmlb(diagnostic metallic loop back) 경로를 만들어 이를 통해 테스트 벡터를 루핑시켜 엘아이유의 이상 유무를 진단하고, 'loop back #3'을 통해 루프백되는 테스트 벡터를 이용하여 라인 보호부의 이상 유무를 진단
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4논리 통합
logical_integration추출된 각 구성부별 루핑 방식(타임 스위치, 인터페이스부, 프레이머, 엘아이유, 라인 보호부)을 논리적으로 연결하여 정리한다.
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5결론 도출
conclusion_formulation질문의 요구사항인 'list' 형식에 맞춰 각 구성부별 루핑 경로 설정 방식을 나열한다.
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6답변 생성
answer_generation최종적으로 정리된 루핑 경로 설정 방식을 답변으로 작성한다.
최종 답변 (final_answer)
1. 타임 스위치: 테스트 벡터를 루핑시켜 이상 유무 진단
2. ipc 인터페이스부 및 shw 인터페이스부: 'loop back #1'와 'loop back #2'를 통해 순차적으로 테스트 벡터를 루핑
3. 프레이머: ddlb(diagnostic digital loop back) 경로를 생성하여 루프백되는 테스트 벡터로 이상 유무 진단
4. 엘아이유(liu): dialb(diagnostic loop back) 경로를 만들어 프레이머와 엘아이유 간의 pcb 패턴 이상 유무를 진단하고, dmlb(diagnostic metallic loop back) 경로를 만들어 테스트 벡터를 루핑시켜 엘아이유의 이상 유무를 진단
5. 라인 보호부: 'loop back #3'을 통해 루프백되는 테스트 벡터를 이용하여 이상 유무 진단
핵심 해석 (core_interpretation)
엘씨유(lcu)가 다양한 루핑 경로(loop back #1~#3, ddlb, dialb, dmlb)를 설정함으로써 중계선 보드의 주요 구성부인 타임 스위치, 인터페이스부, 프레이머, 엘아이유, 라인 보호부의 이상 유무를 독립적이고 순차적으로 진단할 수 있는 기술이다.