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메모리 소자 테스트 장치 document_id 1020010004848

출원번호
1020010004848
분류
전기(H섹션)
문맥 (context)
[청구항 1] 쇼크 시간보다 테스트 시간이 긴 메모리 소자 테스트용 테스트 장치로서, 복수개의 메모리 소자들을 각각 수납한 복수개의 테스트 트레이들을 이송하는 이송 레일과 상기 이송 레일에 테스트 트레이를 로딩하기 위한 로딩부와 상기 이송 레일로부터 상기 테스트 트레이를 언로딩하기 위한 언로딩부와 상기 이송 레일로 로딩된 테스트 트레이에 수납된 메모리 소자들과 전기적으로 접속하여 테스트 공정을 진행하는 테스트 헤드; 및 상기 이송 레일 및 테스트 헤드를 둘러싸도록 형성되며, 내부를 소정의 테스트 온도로 예열 또는 예냉하는 쇼크/테스트 챔버 를 포함하며, 상기 쇼크/테스트 챔버는, 상기 로딩부에 근접한 이송 레일로 공급된 테스트 트레이에 대한 쇼크 공정이 진행되는 쇼크 영역과 상기 쇼크 영역과 상기 언로딩부 사이의 상기 이송 레일로 공급된 쇼크 공정이 완료된 테스트 트레이의 메모리 소자에 대한 테스트 공정이 진행되는 테스트 영역 을 포함하며, 상기 테스트 헤드는 상기 테스트 영역으로 로딩된 테스트 트레이에 수납된 메모리 소자들과 전기적으로 접속하여 테스트 공정을 진행하고 동시에 상기 쇼크 영역에 공급된 테스트 트레이에 대한 쇼크 공정이 진행되는 것을 특징으로 하는 메 모리 소자 테스트 장치 [청구항 2] 제 1항에 있어서,상기 메모리 소자 테스트 장치는,상기 테스트 헤드들과 전기적으로 연결되어 테스트 공정을 제어하고 테스트 신호를 입출력하는메모리 테스터더포함하는것을특징으로 하는메모리 소자 테스트 장치. [청구항 3] 제 2항에 있어서,상기 메모리 소자 테스트 장치는,상기 언로딩부에서 언로딩된 테스트 트레이에 수납된 메모리 소자를 테스트 결과에 따라서 테스트 트레이에서 이송/분류하고, 테스트할 새로운 메모리 소자를 테스트 트레이에 수납하는분류부포함하는것을특징으로 하는메모리 소자 테스트 장치.
지시문 (instruction)
주어진 본문을 읽고 관련 정보를 분석하여 질문에 답하라.
질문 (question)
메모리 소자 테스트 장치에서 테스트 헤드가 수행하는 두 가지 공정의 대상과 위치 관계는 어떠한가?
추론 과정 (compact_reasoning)
  1. 1과제 해석task_interpretation

    테스트 헤드가 수행하는 두 가지 공정(쇼크 공정, 테스트 공정)의 대상과 그들 사이의 위치 관계를 파악해야 한다.

  2. 2정보 추출information_extraction

    테스트 헤드는 테스트 영역의 메모리 소자와 전기적으로 접속하여 테스트 공정을 수행하며, 동시에 쇼크 영역의 테스트 트레이에 대한 쇼크 공정이 진행되는 것을 관리한다.

    • 상기 테스트 헤드는 상기 테스트 영역으로 로딩된 테스트 트레이에 수납된 메모리 소자들과 전기적으로 접속하여 테스트 공정을 진행하고 동시에 상기 쇼크 영역에 공급된 테스트 트레이에 대한 쇼크 공정이 진행되는 것
  3. 3근거 선택evidence_selection

    테스트 헤드의 동작과 관련된 쇼크 영역 및 테스트 영역의 정의와 테스트 헤드의 역할을 명시한 구절을 선택한다.

    • 상기 쇼크/테스트 챔버는, 상기 로딩부에 근접한 이송 레일로 공급된 테스트 트레이에 대한 쇼크 공정이 진행되는 쇼크 영역과 상기 쇼크 영역과 상기 언로딩부 사이의 상기 이송 레일로 공급된 쇼크 공정이 완료된 테스트 트레이의 메모리 소자에 대한 테스트 공정이 진행되는 테스트 영역 을 포함하며
  4. 4논리 통합logical_integration

    테스트 헤드는 테스트 영역에 있는 메모리 소자에 대해 테스트 공정을 수행하고, 동시에 쇼크 영역에 있는 테스트 트레이에 대해 쇼크 공정이 진행되도록 한다. 위치적으로 쇼크 영역은 로딩부에 근접해 있고, 테스트 영역은 쇼크 영역과 언로딩부 사이에 위치한다.

    • 상기 테스트 헤드는 상기 테스트 영역으로 로딩된 테스트 트레이에 수납된 메모리 소자들과 전기적으로 접속하여 테스트 공정을 진행하고 동시에 상기 쇼크 영역에 공급된 테스트 트레이에 대한 쇼크 공정이 진행되는 것
  5. 5결론 도출conclusion_formulation

    테스트 헤드는 테스트 영역의 메모리 소자를 대상으로 테스트 공정을 수행하고, 쇼크 영역의 테스트 트레이를 대상으로 쇼크 공정이 진행되는 것을 동시에 수행한다.

  6. 6답변 생성answer_generation

    질문에 따라 테스트 헤드가 수행하는 두 공정의 대상과 위치 관계를 정리하여 답변을 생성한다.

최종 답변 (final_answer)
테스트 헤드는 테스트 영역에 위치한 테스트 트레이 내의 메모리 소자를 대상으로 테스트 공정을 수행하며, 동시에 쇼크 영역에 공급된 테스트 트레이에 대한 쇼크 공정이 진행되는 것을 수행한다.
핵심 해석 (core_interpretation)
테스트 헤드가 쇼크 영역과 테스트 영역에서 각각 쇼크 공정과 테스트 공정을 동시에 처리함으로써, 쇼크 공정이 완료된 트레이가 테스트 영역으로 이동하는 동안 공정의 연속성을 확보하는 기술이다.