문맥 (context)
[청구항 3]
제1 항에 있어서,피씨비 접촉압력에 의한 형태변형이 방지되도록 상기 접점 패드부와 전극 인터페이스부 합착구조의 양측에 장착되는고정프레임더포함함을특징으로 하는피씨비 검사판.
[청구항 4]
제1 항에 있어서,상기 접점 패드부는 접촉되는 피씨비의 굴곡에 대응되는 요(凹)부갖는것을특징으로 하는피씨비 검사판.
[청구항 6]
제1 항에 있어서,상기 피씨비의 부품 단자별로적어도하나이상의도전성고무접촉됨을특징으로 하는피씨비 검사판.
[청구항 7]
매트릭스 형태로 배열된 다수의 도전성 고무, 상기 다수의 도전성 고무를 둘러싼 절연성 고무로 이루어진 접점 패드부와 상기 접점 패드부의 도전성 고무 각각에 대응되어 전원 및 신호를 공급하기 위한 전극을 구비한 전극 인터페이스부를 포함하는 피씨비 검사판을 이용한 검사장치에 있어서,
상기 전극 인터페이스부의 전극에 각각 연결되는 릴레이들로 이루어진 제1 스위칭부,
상기 제1 스위칭부와 별도로 전극 인터페이스부의 전극에 각각 대응되는 릴레이들로 이루어진 제2 스위칭부,
상기 제1 스위칭부와 제2 스위칭부 각각의 릴레이중 현재 테스트해야할 피씨비의 부품 단자에 대응되는 릴레이를 선택적으로 동작시키기 위한 스위칭 제어부,
기설정된 피씨비 테스트 알고리즘에 따라 상기 스위칭 제어부의 릴레이 선택동작을 제어하고 그에 따라 선택된 제1 스위칭부 및 제2 스위칭부 각각의 릴레이를 통해 부품의 정상여부를 판별하는 기능 검사 모듈을 포함하는 피씨비 검사판을 이용한 검사장치
[청구항 8]
제7 항에 있어서,상기 제1 스위칭부는 일 접점이 각각 상기 전극 메트릭스판의 대응되는 전극에 접촉되고 타 접점이 공통 연결되어 상기 기능 검사 모듈에 연결되며, 코일측 일단이 상기 스위칭 제어부에 연결되는 다수의 릴레이를 포함하는 것을 특징으로 하는 피씨비 검사판이용한검사장치.
[청구항 9]
제7 항에 있어서,상기 제2 스위칭부는 제1 스위칭부와 동일한 구성임을 특징으로 하는 피씨비 검사판이용한검사장치.
지시문 (instruction)
주어진 본문을 읽고 관련 정보를 분석하여 질문에 답하라.
질문 (question)
피씨비 검사판을 이용한 검사장치에서 기능 검사 모듈이 부품의 정상 여부를 판별하기 위해 제어하는 구성 요소들은 무엇인가?
추론 과정 (compact_reasoning)
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1과제 해석
task_interpretation피씨비 검사판을 이용한 검사장치에서 기능 검사 모듈이 부품의 정상 여부를 판별하기 위해 제어하는 구성 요소가 무엇인지 추출해야 한다.
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2정보 추출
information_extraction청구항 7에서 기능 검사 모듈의 역할과 제어 대상을 설명하는 문구를 찾는다.
- 기설정된 피씨비 테스트 알고리즘에 따라 상기 스위칭 제어부의 릴레이 선택동작을 제어하고 그에 따라 선택된 제1 스위칭부 및 제2 스위칭부 각각의 릴레이를 통해 부품의 정상여부를 판별하는 기능 검사 모듈
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3근거 선택
evidence_selection기능 검사 모듈이 제어하는 대상인 '스위칭 제어부의 릴레이 선택동작'과 그 결과로 동작하는 '제1 스위칭부 및 제2 스위칭부 각각의 릴레이'를 근거로 선택한다.
- 상기 스위칭 제어부의 릴레이 선택동작을 제어하고 그에 따라 선택된 제1 스위칭부 및 제2 스위칭부 각각의 릴레이
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4논리 통합
logical_integration기능 검사 모듈은 알고리즘에 따라 스위칭 제어부의 릴레이 선택 동작을 제어하며, 이를 통해 제1 스위칭부와 제2 스위칭부의 릴레이를 통해 판별을 수행하므로 제어 대상은 스위칭 제어부의 릴레이 선택 동작 및 제1, 제2 스위칭부의 릴레이이다.
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5결론 도출
conclusion_formulation질문에서 요구하는 제어 구성 요소는 스위칭 제어부의 릴레이 선택 동작과 제1 스위칭부 및 제2 스위칭부 각각의 릴레이이다.
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6답변 생성
answer_generation추출된 정보를 바탕으로 최종 답변을 작성한다.
최종 답변 (final_answer)
스위칭 제어부의 릴레이 선택동작 및 제1 스위칭부와 제2 스위칭부 각각의 릴레이
핵심 해석 (core_interpretation)
본 발명은 기능 검사 모듈이 스위칭 제어부와 제1, 제2 스위칭부의 릴레이를 제어함으로써 피씨비 부품의 정상 여부를 판별하는 검사 장치 기술에 관한 것이다.