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이온 소스에서 생성된 플라즈마내의 이온 검출용 프로브조립체 document_id 1020037005832

출원번호
1020037005832
분류
전기(H섹션)
문맥 (context)
[청구항 1] 플라즈마내의 이온의 유무를 판단하는 시스템에 있어서, 내부에 이온이 존재하는 플라즈마를 생성하기 위한 크기 및 칫수로 되어 있는 플라즈마 챔버(14)를 구비한 이온 소스(12), 및 이온 소스에 연결되어서 상기 플라즈마의 상기 이온을 검출하는 프로브 조립체(30)를 포함하는, 플라즈마내의 이온의 유무를 판단하는 시스템 [청구항 2] 제1항에 있어서,상기 프로브 조립체(30)는 플라즈마 챔버(14)내에 연장되어서 상기 플라즈마로부터 상기 이온을 추출하는프로브소자포함하는것을특징으로 하는시스템. [청구항 3] 제2항에 있어서,프로브 소자(32)는, 플라즈마 챔버(14)내에 배치된 원뿔형의 팁(tip)(34)을 구비한 프로브 본체(36), 및상기 프로브 본체(36)에 장착되어서, 전압이 인가되면, 여기서 전계를 생성하기에 적합한집속소자포함하는것을특징으로 하는시스템. [청구항 4] 제1항에 있어서,상기 프로브 조립체(30)는, 상기 플라즈마로부터 하나 이상의 상기 이온을 추출하는 프로브 소자(32), 및상기 프로브 소자(32)에 의해서 상기 플라즈마로부터 추출된 상기 하나 이상의 이온을 필터링하는, 상기 프로브 소자(32)에 연결된필터포함하는것을특징으로 하는시스템. [청구항 5] 제4항에 있어서,필터(40)는 윈(wien) 필터와 exb필터중최소한하나포함하는것을특징으로 하는시스템. [청구항 6] 제4항에 있어서,필터(40)는 자계를 필터(40)내에 집중시키는복수의강철스트립포함하는것을특징으로 하는시스템. [청구항 7] 제6항에 있어서,복수의 강철 스트립(46)에는 상이한 전압으로 바이어스가 인가되어서 통로(38)내에 전위 기울기와 균일한전계중하나생성하는것을특징으로 하는시스템. [청구항 8] 제4항에 있어서,필터내에 전계를 생성하여 이온 속도에 따라서 하나 이상의 이온을 분리하는 수단(62)을 추가포함하는시스템. [청구항 9] 제1항에 있어서,상기 프로브 소자(32)에 연결되어서 상기 플라즈마 챔버 (14)로부터 상기 이온의 추출을 용이하게 하는 소정의 압력 조건을 생성하는 진공 소스를 추가포함하는시스템. [청구항 10] 제1항에 있어서,상기 프로브 조립체(30)는, 프로브 본체(36)의 일부가 상기 플라즈마 챔버(14)내로 연장되기에 적합한 프로브 본체(36)를 구비한 프로브 소자(32), 및 상기 프로브 본체(36)에 연결되어서 본체 내부에 전계를 생성하는일군의전극포함하는것을특징으로 하는시스템. [청구항 11] 제1항에 있어서,상기 프로브 조립체(30)는, 상기 플라즈마로부터 하나 이상의 이온을 추출하는 프로브 소자(32), 상기 이온을 필터링하는 필터(40), 및 상기 하나 이상의 이온을 검출하는제어기포함하는것을특징으로 하는시스템. [청구항 12] 이온 소스(12)와 함께 사용하여 이온 소스(12)의 플라즈마 챔버(14)내의 플라즈마에서의 이온을 검출하기에 적합한 프로브 조립체(30)로서, 이온 소스(12)의 플라즈마 챔버(14)내에 최소한 부분적으로 연장되기에 적합한 프로브 본체(36), 상기 프로브 본체(36)에 연결되어서 프로브 본체(36)내에 소정의 전계를 생성하는 집속 소자(60), 및 상기 플라즈마 챔버(14)로부터 추출되어서 상기 프로브 본체(36)를 통과하는 상기 이온을 필터링하는, 상기 프로브 본체(36)에 연결된 필터(40)를 포함하는 프 로브 조립체(30) [청구항 13] 제12항에 있어서,상기 프로브 본체(36)는 이온이 통과할 수 있는 크기 및 칫수로 되어 있는 통로(38)를 포함하고, 또한, 상기 프로브 본체(36)는 플라즈마 챔버(14)내에 연장되는원뿔형단부구비한것을특징으로 하는프로브 조립체 (30). [청구항 14] 제12항에 있어서,일군의 전극(62)이 상기 프로브 본체(36)에 연결되어서 프로브 본체(36) 내부에전계생성하는것을특징으로 하는프로브 조립체(30). [청구항 15] 제14항에 있어서,상기 전극(62)은, 상기 플라즈마 챔버(14)로부터의 상기 이온을 위한 전계를 프로브 본체(36) 내부에 생성하는4극집속소자포함하는것을특징으로 하는프로브 조립체(30). [청구항 16] 제12항에 있어서,상기 필터는 exb필터포함하는것을특징으로 하는프로브 조립체(30).
지시문 (instruction)
주어진 특허 청구항을 읽고 발명의 구성요소와 구성을 파악하여 질문에 답하라. 문맥에 제시된 표현을 중심으로 답하라.
질문 (question)
플라즈마 내의 이온을 검출하기 위한 프로브 조립체(30)의 구성 요소 중, 프로브 본체(36) 내부에 전계를 생성하는 집속 소자(60)와 이온을 필터링하는 필터(40)가 포함된 경우, 프로브 본체(36)는 어떤 구조적 특징을 갖는가?
추론 과정 (compact_reasoning)
  1. 1과제 해석task_interpretation

    집속 소자(60)와 필터(40)를 포함하는 프로브 조립체(30)의 구성 요소 중, 프로브 본체(36)가 갖는 구조적 특징을 추출하는 과업이다.

  2. 2정보 추출information_extraction

    청구항 12항에서 집속 소자(60)와 필터(40)를 포함하는 프로브 조립체(30)의 구성을 확인하고, 청구항 13항에서 해당 구성의 프로브 본체(36)에 대한 상세 구조를 확인한다.

    • 상기 프로브 본체(36)에 연결되어서 프로브 본체(36)내에 소정의 전계를 생성하는 집속 소자(60), 및 상기 플라즈마 챔버(14)로부터 추출되어서 상기 프로브 본체(36)를 통과하는 상기 이온을 필터링하는, 상기 프로브 본체(36)에 연결된 필터(40)
  3. 3근거 선택evidence_selection

    프로브 본체(36)의 구조적 특징을 명시한 청구항 13항의 구절을 선택한다.

    • 상기 프로브 본체(36)는 이온이 통과할 수 있는 크기 및 칫수로 되어 있는 통로(38)를 포함하고, 또한, 상기 프로브 본체(36)는 플라즈마 챔버(14)내에 연장되는 원뿔형 단부 구비한 것을 특징으로 하는 프로브 조립체 (30)
  4. 4논리 통합logical_integration

    청구항 12항의 조건(집속 소자 및 필터 포함)을 만족하는 프로브 조립체에서, 청구항 13항에 기술된 프로브 본체(36)의 구조적 특징인 '통로(38)'와 '원뿔형 단부'를 결합한다.

  5. 5결론 도출conclusion_formulation

    프로브 본체(36)는 이온 통과용 통로(38)를 포함하며, 플라즈마 챔버 내로 연장되는 원뿔형 단부를 갖는 구조이다.

  6. 6답변 생성answer_generation

    추출된 정보를 바탕으로 질문에 대한 최종 답변을 작성한다.

최종 답변 (final_answer)
상기 프로브 본체(36)는 이온이 통과할 수 있는 크기 및 칫수로 되어 있는 통로(38)를 포함하고, 플라즈마 챔버(14) 내에 연장되는 원뿔형 단부를 구비한다.
핵심 해석 (core_interpretation)
이온 검출용 프로브 조립체에서 프로브 본체는 이온의 통과를 위한 통로와 플라즈마 챔버 내부로 연장되는 원뿔형 단부라는 구조적 특징을 가진다.