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다층구조를 갖는 금속-절연체-금속 커패시터 및 그 제조방법 document_id 1020040101183

출원번호
1020040101183
분류
전기(H섹션)
문맥 (context)
[청구항 2] 제1 항에 있어서,상기 유전막 및 제2 금속패턴은 상기 제1 및 제2 트렌치의 바닥과 측벽을 따라형성된것을특징으로 하는반도체 소자. [청구항 3] 제2 항에 있어서,상기 유전막 및 상기 제3 금속패턴 사이에 형성된도전막더포함하는것을특징으로 하는반도체 소자. [청구항 4] 제3 항에 있어서,상기제1 및 제2 금속패턴의 일부가커패시터하부전극형성하는것을특징으로 하는반도체 소자. [청구항 5] 제4 항에 있어서,상기 제1 금속패턴과 제2 금속패턴을 전기적으로 연결하는제1콘택플러그더구비하는것을특징으로 하는반도체 소자. [청구항 6] 제5 항에 있어서,상기 제1 콘택 플러그는상기제2트렌치의바깥측면의제1층간 절연막관통하는것을특징으로 하는반도체 소자. [청구항 7] 제2 항에 있어서,상기 유전막 아래에 위치하며, 상기 제1 및 제2 트렌치 내에 상기 제1 및 제2 층간 절연막의 측벽들과 상기 제1 및 제2 금속패턴 상에 형성된상기도전막더포함하는것을특징으로 하는반도체 소자. [청구항 8] 제7 항에 있어서,상기 도전막이커패시터하부전극형성하는것을특징으로 하는반도체 소자. [청구항 9] 제3항 또는 제7항 중 어느 한 항에 있어서,상기 도전막nan은텅스텐포함하는것을특징으로 하는반도체 소자. [청구항 10] 제1항에 있어서,상기제1 및 제2 금속패턴과 동일한 층에 각각 제1및제2금속배선더형성된것을특징으로 하는반도체 소자. [청구항 11] 제10 항에 있어서,상기 제1 금속배선과 상기 제2 금속배선을 전기적으로 연결하는제2콘택플러그더구비하는것을특징으로 하는반도체 소자. [청구항 12] 제1 항에 있어서,상기 제3 금속패턴과 동일한 층에제3금속배선더형성된것을특징으로 하는반도체 소자. [청구항 13] 제12 항에 있어서,상기 제2 금속배선과 상기 제3 금속배선을 전기적으로 연결하는제3콘택플러그더구비하는것을특징으로 하는반도체 소자. [청구항 14] 제13항에 있어서 상기 제3 콘택 플러그는텅스텐포함하는것을특징으로 하는반도체 소자. [청구항 15] 제1 항에 있어서,상기 금속패턴들은 알루미늄배선인것을특징으로 하는반도체 소자. [청구항 21] 제16 항에 있어서,상기 유전막을 형성하기 전에 상기 상기 제1 및 제2 트렌치 내에 상기 제1 및 제2 층간 절연막의 측벽들과 상기 제1 및 제2 금속패턴 상에 도전막을 형성하는 것을더포함하는것을특징으로 하는반도체 소자.
지시문 (instruction)
주어진 본문을 읽고 관련 정보를 분석하여 질문에 답하라.
질문 (question)
제2항을 인용하는 반도체 소자에서, 유전막 및 제2 금속패턴이 형성되는 위치와 더불어, 제2 항의 구성을 포함하면서 유전막 및 제3 금속패턴 사이에 도전막을 추가로 포함하는 구성 요소는 무엇인가?
추론 과정 (compact_reasoning)
  1. 1과제 해석task_interpretation

    제2항을 인용하면서 유전막 및 제3 금속패턴 사이에 도전막을 추가로 포함하는 구성 요소를 찾는 것이다.

  2. 2정보 추출information_extraction

    제2항은 유전막 및 제2 금속패턴의 위치를 정의하며, 제3항은 제2항을 인용하여 유전막과 제3 금속패턴 사이에 도전막이 포함됨을 명시한다.

    • 제2 항에 있어서,상기 유전막 및 상기 제3 금속패턴 사이에 형성된도전막더포함하는것을특징으로 하는반도체 소자.
  3. 3근거 선택evidence_selection

    질문에서 요구하는 '제2항의 구성을 포함하면서 유전막 및 제3 금속패턴 사이에 도전막을 추가로 포함하는 구성 요소'에 해당하는 청구항 3의 내용을 선택한다.

    • 상기 유전막 및 상기 제3 금속패턴 사이에 형성된도전막더포함하는것을특징으로 하는반도체 소자
  4. 4논리 통합logical_integration

    제2항의 반도체 소자 구성에 '도전막'이 추가된 형태가 제3항의 구성임을 확인한다.

  5. 5결론 도출conclusion_formulation

    추가된 구성 요소는 유전막과 제3 금속패턴 사이에 형성된 도전막이다.

    • 상기 유전막 및 상기 제3 금속패턴 사이에 형성된도전막
  6. 6답변 생성answer_generation

    질문에 대한 직접적인 답변으로 도전막을 추출한다.

    • 도전막
최종 답변 (final_answer)
도전막
핵심 해석 (core_interpretation)
본 발명은 제2항의 반도체 소자 구조에 유전막과 제3 금속패턴 사이의 도전막을 추가함으로써 커패시터의 전기적 특성을 개선하는 구성을 포함한다.