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반구조적 블록 저밀도 패리티 검사 부호 부호화/복호 장치및 방법 document_id 1020050052113

출원번호
1020050052113
분류
전기(H섹션)
문맥 (context)
[청구항 9] 제8항에 있어서,상기 제2패리티 검사 행렬은 상기 제1패리티 검사 행렬의 상기 미리 설정된, l개의 순열 행렬들의 지수가 이고, 상기 제1패리티 검사 행렬의 부분 블록들의 크기가 (ns)이고, 상기 제2패리티 검사 행렬의 순열 행렬들중 상기 l개의 순열 행렬들의 지수가 이고, 상기 제2패리티 검사 행렬의 부분 블록들의 크기가 (ns')일 경우 하기 수학식 7의 관계특징으로 하는상기 방법. 단, 상기 수학식 7에서 mod는 modulo 연산을 나타냄. [청구항 17] 제16항에 있어서,상기 정보어를 반구조적 블록ldpc 부호로 생성시 적용할 부호화율이 1/2이고, 상기 반구조적 블록 ldpc 부호의 크기가 24ns이고, 정보어 크기가 12ns일 경우 상기 제1패리티 검사 행렬은 하기 표 1과 같이 표현됨을 특징으로 하는 상기 방법.상기 표 1에서 각 블록들은 상기 부분 블록들을 나타내며, 숫자들은 해당 순열 행렬들의 지수들을 나타내며, 숫자들이 존재하지 않는 블록들은 0 행렬대응되는부분 블록들을 나타내며, ns는 상기 부분 블록의 크기를 나타냄. [청구항 18] 반구조적 블록 저밀도 패리티 검사(ldpc: low density parity check) 부호를 부호화하는 장치에 있어서, 정보어를 반구조적 블록 ldpc 부호로 생성시 적용할 크기에 상응하게 제1패리티 검사 행렬 혹은 제2패리티 검사 행렬에 상응하게 부호화하여 상기 정보어와 제1패리티와, 제2패리티 및 제3패리티를 포함하는 부호어를 생성하고, 상기 정보어 중 미리 설정한 차수 이상의 차수를 가지는 일부분을 천공한 후, 상기 일부분을 천공한 정보어와 상기 제1패리티와, 제2패리티 및 제3패리티를 포함하는 상기 반구조적 블록 ldpc 부호를 생성하는 반구조적 블록 ldpc 부호화기와, 상기 반구조적 블록 ldpc 부호를 미리 설정되어 있는 변조 방식으로 변조하여 변조 심벌로 생성하는 변조기와, 상기 변조 심벌을 송신하는 송신기 포함함을 특징으로 하는 상기 장치 [청구항 19] 제18항에 있어서,상기 제2패리티 검사 행렬은 상기 제1패리티 검사 행렬의 크기를 가변시킨 패리티 검사 행렬특징으로 하는상기 장치. [청구항 20] 제19항에 있어서,상기 제1패리티 검사 행렬은 미리 설정되어 있는 부호화율과, 상기 반구조적 블록 ldpc 부호의 크기가 미리 설정된 크기를 가지도록 생성된 패리티 검사 행렬특징으로 하는상기 장치. [청구항 21] 제20항에 있어서,상기 제1패리티 검사 행렬은 미리 설정된 개수의 부분 블록들을 포함하며, 상기 부분 블록들은 미리 결정된 크기특징으로 하는상기 장치. [청구항 22] 제21항에 있어서,상기 제2패리티 검사 행렬은 상기 제1패리티 검사 행렬의 부분 블록들의 크기를 가변시킨 패리티 검사 행렬특징으로 하는상기 장치. [청구항 23] 제22항에 있어서,상기 부분 블록들중 미리 설정된 부분 블록들 각각에는 미리 설정된 순열 행렬이일대일대응됨을특징으로 하는상기 장치. [청구항 24] 제23항에 있어서,상기 제2패리티 검사 행렬은 상기 제1패리티 검사 행렬의 상기 순열 행렬들의 지수와 상기 제2패리티 검사 행렬의 부분 블록들의 크기에 상응하게 상기 제2패리티 검사 행렬의 상기 순열 행렬들의 지수가 결정되어 생성된 행렬특징으로 하는상기 장치. [청구항 25] 제24항에 있어서,상기 제2패리티 검사 행렬은 상기 제1패리티 검사 행렬의 상기 미리 설정된, l개의 순열 행렬들의 지수가 이고, 상기 제1패리티 검사 행렬의 부분 블록들의 크기가 (ns)이고, 상기 제2패리티 검사 행렬의 순열 행렬들중 상기 l개의 순열 행렬들의 지수가 이고, 상기 제2패리티 검사 행렬의 부분 블록들의 크기가 (ns')일 경우 하기 수학식 8의 관계특징으로 하는상기 장치. 단, 상기 수학식 8에서 mod는 modulo 연산을 나타냄. [청구항 26] 제25항에 있어서,상기 반구조적 블록ldpc 부호화기는;상기 크기에 상응하게 상기 제1패리티 검사 행렬 혹은 제2패리티 검사 행렬을 사용할지를 결정하고, 상기 정보어를 상기 부호화율에 상응하게 상기 설정 차수 이상의 차수를 가지는 일부분이 천공되도록 제어하는 제어기와,상기 정보어를 상기 결정된 패리티 검사 행렬의 상기 부분 블록들중 일부의 부분 블록들을 포함하는 제1파트의 제1부분 행렬과 곱셈하는 제1행렬 곱셈기와,상기 정보어를 상기 제1파트의 제2부분 행렬과 곱셈하는 제2행렬 곱셈기와,상기 제1행렬 곱셈기에서 출력한 신호와, 상기 제1파트의 제3부분 행렬과 제4부분 행렬의 역행렬의 행렬곱을 곱셈하는 제3행렬 곱셈기와,상기 제2행렬 곱셈기에서 출력한 신호와 제3행렬 곱셈기에서 출력한 신호를 가산하여 상기 제1패리티로 생성하는 제1가산기와,상기 제1가산기에서 출력한 신호와 상기 제1파트의 제5부분 행렬과 곱셈하는 제4행렬 곱셈기와, 상기 제2행렬 곱셈기에서 출력한 신호와 상기 제4행렬 곱셈기에서 출력한 신호를 가산하는 제2가산기와,상기 제2가산기에서 출력한 신호와 상기 제1파트의 제4부분 행렬의 역행렬의 행렬곱을 곱셈하여 제2패리티로 생성하는 제5행렬 곱셈기와,상기 정보어를 상기 결정된 패리티 검사 행렬에서 상기 제1파트의 부분 블록들을 제외한 부분 블록들을 포함하는 제2파트에 상응하게 부호화하여 상기 제3패리티로 생성하는 부호화기와, 상기 제어기의 제어에 따라 상기 정보어중 상기 설정 차수 이상의 차수를 가지는 일부분을 천공하는 천공기와,상기 일부분을 천공한 정보어와, 상기 제1패리티와, 상기 제2패리티 및 제3패리티를 상기 부호화율에 상응하게 스위칭하여 상기 반구조적 블록 ldpc 부호로 출력하는스위치들포함함을특징으로 하는상기 장치. [청구항 27] 제26항에 있어서,상기 제1부분 행렬 및 제2부분 행렬은 상기 결정된 패리티 검사 행렬에서 상기 정보어와 연관되는 정보 파트에 대응되는 부분 행렬들특징으로 하는상기 장치. [청구항 28] 제27항에 있어서,상기 제3부분 행렬과 제4부분 행렬은 패리티와 연관되는 제1패리티 파트에 대응되는 부분 행렬들이며, 상기 제5부분 행렬과 제6부분 행렬은 상기 패리티와 연관되는 제2패리티 파트에 대응되는 부분 행렬들특징으로 하는상기 장치. [청구항 29] 제28항에 있어서,상기 제1패리티 검사 행렬 혹은 상기 제2패리티 검사 행렬은 상기 정보어와 매핑되는 정보 파트와, 상기 정보어에 상응하는 제1패리티와, 제2패리티 및 제3패리티 각각과 매핑되는 제1패리티 파트와, 제2패리티 파트 및 제3패리티 파트를 포함하며, 상기 정보 파트는 상기 정보 파트로 분류된 부분 블록들중 팩터 그래프상의 상기 설정 차수 이상의 차수를 가지는 변수 노드들에 연결되는 정보어를 포함하는 부분 블록들을 포함하는 제3파트와, 상기 설정 차수 이상의 변수 노드들에 연결되지 않는 정보어를 포함하는 부분 블록들을 포함하는 제4파트를 포함하며, 상기 제2파트는제5부분행렬및제6부분행렬포함함을특징으로 하는상기 장치. [청구항 30] 제29항에 있어서,상기 제5부분 행렬은 완전 하삼각 형태로 순열 행렬들이 배열된 행렬특징으로 하는상기 장치. [청구항 31] 제30항에 있어서,형태로 배열된 순열 행렬들은 항등 행렬들특징으로 하는상기 장치. [청구항 32] 제31항에 있어서,상기 제3파트 및 제4파트로 분류된 부분 블록들중 미리 설정된 부분 블록들 각각에 상기 반구조적 블록 ldpc 부호의 팩터 그래프상의 최소 사이클 길이가 미리 설정된 길이가 되고, 웨이트가 불균등하도록순열행렬배열됨을특징으로 하는상기 장치. [청구항 33] 제32항에 있어서,상기 정보어를 반구조적 블록ldpc 부호로 생성시 적용할 부호화율이 1/2이고, 상기 반구조적 블록 ldpc 부호의 크기가 24ns이고, 정보어 크기가 12ns일 경우 상기 제1패리티 검사 행렬은 하기 표 2와 같이 표현됨을 특징으로 하는 상기 장치.상기 표 2에서 각 블록들은 상기 부분 블록들을 나타내며, 숫자들은 해당 순열 행렬들의 지수들을 나타내며, 숫자들이 존재하지 않는 블록들은 0 행렬대응되는부분 블록들을 나타내며, ns는 상기 부분 블록의 크기를 나타냄. [청구항 41] 제40항에 있어서,상기 제2패리티 검사 행렬은 상기 제1패리티 검사 행렬의 상기 미리 설정된, l개의 순열 행렬들의 지수가 이고, 상기 제1패리티 검사 행렬의 부분 블록들의 크기가 (ns)이고, 상기 제2패리티 검사 행렬의 순열 행렬들중 상기 l개의 순열 행렬들의 지수가 이고, 상기 제2패리티 검사 행렬의 부분 블록들의 크기가 (ns')일 경우 하기 수학식 9의 관계특징으로 하는상기 방법. 단, 상기 수학식 9에서 mod는 modulo 연산을 나타냄. [청구항 43] 제42항에 있어서,상기 부호화율이 1/2이고, 상기 반구조적 블록 ldpc 부호의 크기가 24ns이고, 상기 반구조적 블록 ldpc 부호의 정보어 크기가 12ns일 경우 상기 제1패리티 검사 행렬은 하기 표 3과 같이 표현됨을 특징으로 하는 상기 방법.상기 표 3에서 각 블록들은 상기 부분 블록들을 나타내며, 숫자들은 해당 순열 행렬들의 지수들을 나타내며, 숫자들이 존재하지 않는 블록들은 0 행렬대응되는부분 블록들을 나타내며, ns는 상기 부분 블록의 크기를 나타냄. [청구항 44] 가변 길이를 가지는 블록 저밀도 패리티 검사(ldpc: low density parity check) 부호를 복호하는 장치에 있어서, 신호를 수신하고, 소정 제어에 따라 상기 수신 신호에 0을 삽입하는 수신기와, 복호할 반구조적 블록 ldpc 부호의 크기에 상응하게 제1패리티 검사 행렬 혹은 제2패리티 검사 행렬을 사용할지를 결정하고, 상기 결정된 패리티 검사 행렬에 상응하게 상기 0 삽입된 수신 신호를 복호하여 상기 반구조적 블록 ldpc 부호로 검 출하는 복호기를 포함함을 특징으로 하는 상기 장치 [청구항 45] 제44항에 있어서,상기 제2패리티 검사 행렬은 상기 제1패리티 검사 행렬의 크기를 가변시킨 패리티 검사 행렬특징으로 하는상기 장치. [청구항 46] 제45항에 있어서,상기 제1패리티 검사 행렬은 미리 설정되어 있는 부호화율과, 상기 반구조적 블록 ldpc 부호의 크기가 미리 설정된 크기를 가지도록 생성된 패리티 검사 행렬특징으로 하는상기 장치. [청구항 47] 제46항에 있어서,상기 제1패리티 검사 행렬은 미리 설정된 개수의 부분 블록들을 포함하며, 상기 부분 블록들은 미리 결정된 크기특징으로 하는상기 장치. [청구항 48] 제47항에 있어서,상기 제2패리티 검사 행렬은 상기 제1패리티 검사 행렬의 부분 블록들의 크기를 가변시킨 패리티 검사 행렬특징으로 하는상기 장치. [청구항 49] 제48항에 있어서,상기 부분 블록들중 미리 설정된 부분 블록들 각각에는 미리 설정된 순열 행렬이일대일대응됨을특징으로 하는상기 장치. [청구항 50] 제49항에 있어서,상기 제2패리티 검사 행렬은 상기 제1패리티 검사 행렬의 상기 순열 행렬들의 지수와 상기 제2패리티 검사 행렬의 부분 블록들의 크기에 상응하게 상기 제2패리티 검사 행렬의 상기 순열 행렬들의 지수가 결정되어 생성된 행렬특징으로 하는상기 장치. [청구항 51] 제50항에 있어서,상기 제2패리티 검사 행렬은 상기 제1패리티 검사 행렬의 상기 미리 설정된, l개의 순열 행렬들의 지수가 이고, 상기 제1패리티 검사 행렬의 부분 블록들의 크기가 (ns)이고, 상기 제2패리티 검사 행렬의 순열 행렬들중 상기 l개의 순열 행렬들의 지수가 이고, 상기 제2패리티 검사 행렬의 부분 블록들의 크기가 (ns')일 경우 하기 수학식 10의 관계특징으로 하는상기 장치. 단, 상기 수학식 10에서 mod는 modulo 연산을 나타냄. [청구항 52] 제51항에 있어서,상기 복호기는;상기 복호할 반구조적 블록 ldpc 부호의 크기에 상응하게 제1패리티 검사 행렬 혹은 제2패리티 검사 행렬을 사용할지를 결정하고, 상기 디인터리빙 방식 및 인터리빙 방식을 상기 결정된 패리티 검사 행렬에 상응하게 제어하는 제어기와,상기 결정된 패리티 검사 행렬을 구성하는 열들 각각의 웨이트에 상응하게 변수 노드들을 연결하여 수신 신호의 확률값들을 검출하여 출력하는 변수 노드 복호기와,상기 변수 노드 복호기에서 출력한 신호에서 이전 복호시 생성된 신호를 감산하여 출력하는 제1가산기와,상기 제1가산기에서 출력한 신호를 입력하여 상기 결정된 패리티 검사 행렬에 상응하게 설정된 디인터리빙 방식으로 디인터리빙하여 출력하는 디인터리버와, 상기 결정된 패리티 검사 행렬을 구성하는 행들 각각의 웨이트에 상응하게 검사 노드들을 연결하여 상기 디인터리버에서 출력한 신호의 확률값들을 검출하여 출력하는 검사 노드 복호기와,상기 검사 노드 복호기에서 출력한 신호에서 상기 디인터리버에서 출력한 신호를 감산하는 제2가산기와,상기 제2가산기에서 출력한 신호를 상기 결정된 패리티 검사 행렬에 상응하게 설정된 인터리빙 방식으로 인터리빙하여 상기 변수 노드 복호기 및 상기 제1가산기로 출력하는인터리버포함함을특징으로 하는상기 장치. [청구항 53] 제52항에 있어서,상기 부호화율이 1/2이고, 상기 반구조적 블록 ldpc 부호의 크기가 24ns이고, 상기 반구조적 블록 ldpc 부호의 정보어 크기가 12ns일 경우 상기 제1패리티 검사 행렬은 하기 표 4와 같이 표현됨을 특징으로 하는 상기 장치.상기 표 4에서 각 블록들은 상기 부분 블록들을 나타내며, 숫자들은 해당 순열 행렬들의 지수들을 나타내며, 숫자들이 존재하지 않는 블록들은 0 행렬대응되는부분 블록들을 나타내며, ns는 상기 부분 블록의 크기를 나타냄.
지시문 (instruction)
주어진 본문을 읽고 관련 정보를 분석하여 질문에 답하라.
질문 (question)
반구조적 블록 LDPC 부호화 장치에서 제1패리티 검사 행렬과 제2패리티 검사 행렬의 관계를 결정할 때, 제2패리티 검사 행렬의 순열 행렬 지수와 부분 블록 크기는 무엇에 상응하여 결정되는가?
추론 과정 (compact_reasoning)
  1. 1과제 해석task_interpretation

    질문은 제2패리티 검사 행렬의 순열 행렬 지수가 무엇에 상응하여 결정되는지 묻고 있다.

  2. 2정보 추출information_extraction

    청구항 24항과 50항에서 제2패리티 검사 행렬의 순열 행렬 지수 결정 조건에 관한 내용을 추출한다.

    • 상기 제2패리티 검사 행렬은 상기 제1패리티 검사 행렬의 상기 순열 행렬들의 지수와 상기 제2패리티 검사 행렬의 부분 블록들의 크기에 상응하게 상기 제2패리티 검사 행렬의 상기 순열 행렬들의 지수가 결정되어 생성된 행렬
  3. 3근거 선택evidence_selection

    질문에 직접적으로 대응하는 '상기 제1패리티 검사 행렬의 상기 순열 행렬들의 지수'와 '상기 제2패리티 검사 행렬의 부분 블록들의 크기' 구절을 선택한다.

    • 상기 제1패리티 검사 행렬의 상기 순열 행렬들의 지수와 상기 제2패리티 검사 행렬의 부분 블록들의 크기에 상응하게 상기 제2패리티 검사 행렬의 상기 순열 행렬들의 지수가 결정
  4. 4논리 통합logical_integration

    제2패리티 검사 행렬의 지수는 제1패리티 검사 행렬의 순열 행렬 지수 및 제2패리티 검사 행렬의 부분 블록 크기와 상응하여 결정됨을 확인한다.

    • 상기 제1패리티 검사 행렬의 상기 순열 행렬들의 지수와 상기 제2패리티 검사 행렬의 부분 블록들의 크기에 상응하게 상기 제2패리티 검사 행렬의 상기 순열 행렬들의 지수가 결정
  5. 5결론 도출conclusion_formulation

    따라서 제2패리티 검사 행렬의 순열 행렬 지수는 제1패리티 검사 행렬의 순열 행렬 지수와 제2패리티 검사 행렬의 부분 블록 크기에 상응한다.

  6. 6답변 생성answer_generation

    추출된 정보를 바탕으로 질문에 대한 최종 답변을 작성한다.

최종 답변 (final_answer)
상기 제1패리티 검사 행렬의 상기 순열 행렬들의 지수와 상기 제2패리티 검사 행렬의 부분 블록들의 크기
핵심 해석 (core_interpretation)
반구조적 블록 LDPC 부호화/복호 장치에서 제2패리티 검사 행렬을 생성할 때, 제1패리티 검사 행렬의 순열 행렬 지수와 제2패리티 검사 행렬의 부분 블록 크기 사이의 상관관계를 통해 제2패리티 검사 행렬의 순열 행렬 지수를 결정한다.