문맥 (context)
[청구항 1]
제1도체(4)와,
제2도체(8)와,
상기 제1도체(4) 및 상기 제2도체(8) 사이의 전기 접속을 형성하는데 사용되는 일정량의 솔더(solder,(12))
를 포함하고, 상기 일정량의 솔더는 그 용융 과정동안 수축하는 것을 특징으로 하는 전기 접속기
[청구항 2]
제1항에 있어서,상기 솔더는 주석, 비스무트(bismuth), 안티몬, 갈륨, 및 이들의 합금으로 구성된 그룹으로부터 선택된 금속구성된전기 접속기.
[청구항 3]
제2항에 있어서,상기 비스무트 금속의 중량 비율이 상기 솔더인전기 접속기.
[청구항 4]
제3항에 있어서,상기 솔더는 약 3%이하의 부피 수축 특성갖는전기 접속기.
[청구항 5]
제1항에 있어서,상기 제1도체와 제2도체들 사이에 위치한 유기 봉지재더 포함하는전기 접속기.
[청구항 6]
제5항에 있어서,상기 유기 봉지재는 충전제포함하는전기 접속기.
[청구항 7]
제5항에 있어서,상기 유기 봉지재는상기솔더의수축과정동안상기솔더와결합하는전기 접속기.
[청구항 8]
제5항에 있어서,상기 유기 봉지재는 상기 솔더의 수축과정동안 상기 솔더완벽하게 둘러싸는전기 접속기.
[청구항 9]
기판(2)과,
상기 기판(2)에 실장된 소자(6)와,
상기 소자(6)를 상기 기판(2)에 전기적으로 커플링시키는 솔더중 적어도 하나의 솔더부재(solder member,(12))와,
상기 적어도 하나의 솔더부재(12)의 바로 주변에 위치하고 상기 기판(2)과 상기 소자(6)사이의 물리적 결합을 형성하는 유전체 재료(14)
를 포함하고, 상기 적어도 하나의 솔더부재(12)의 부피는 상기 솔더의 용융과정동안 수축하는것을 특징으로하는 전자 패키지
[청구항 10]
제9항에 있어서,상기 기판은 세라믹, 에폭시 수지, 충전된 에폭시 수지, 액정 폴리머, 열가소성 물질, 충전된 열가소성 물질, 폴리이미드 및 폴리에스테르로 구성된 그룹으로부터 선택된 재료구성된전자 패키지.
[청구항 11]
제9항에 있어서,상기 소자는 반도체 칩, 광전자 부품, 또는 칩 캐리어포함하는전자 패키지.
[청구항 12]
제9항에 있어서,적어도 하나의 솔더부재는 주석, 비스무트, 안티몬, 갈륨, 및 이들의 합금으로 구성된 그룹으로부터 선택된 금속구성된전자 패키지.
[청구항 13]
제12항에 있어서,상기 비스무트 금속의 중량 비율이 상기 솔더부재인전자 패키지.
[청구항 14]
제13항에 있어서,상기 솔더부재는 약 3% 이하의 부피 수축 특성갖는전자 패키지.
[청구항 15]
제9항에 있어서,상기 유전체 재료는 유기 봉지재포함하는전자 패키지.
[청구항 16]
제15항에 있어서,상기 유기 봉지재는 충전제포함하는전자 패키지.
[청구항 17]
제15항에 있어서,상기 유기 봉지재는 상기 적어도 하나의 솔더부재의 수축과정동안 상기 적어도 하나의 솔더부재와결합하는전자 패키지.
[청구항 18]
제15항에 있어서,상기 유기 봉지재는 상기 적어도 하나의 솔더부재의 수축과정동안 상기 적어도 하나의 솔더부재완벽하게 둘러싸는전자 패키지.
[청구항 19]
제9항에 있어서,적어도 하나의 솔더부재의 부피는 상기 기판과 상기 소자 사이의 상기 물리적 결합 및/또는 상기 전기적 커플링의 파손을 방지하기위해 용융과정동안수축하는전자패키지.
[청구항 20]
제19항에 있어서,적어도 하나의 솔더부재는 주석, 비스무트, 안티몬, 갈륨, 및 이들의 합금으로 구성된 그룹으로부터 선택된 금속구성된전자 패키지.
[청구항 21]
제20항에 있어서,상기 비스무트 금속의 중량 비율이 상기 솔더부재인전자 패키지.
[청구항 22]
제21항에 있어서,상기 솔더부재는 약 3% 이하의 부피 수축 특성갖는전자 패키지.
[청구항 23]
제19항에 있어서,상기 유전체 재료는 유기 봉지재포함하는전자 패키지.
[청구항 24]
제19항에 있어서,상기 유기 봉지재는 충전제포함하는전자 패키지.
[청구항 25]
제23항에 있어서,상기 유기 봉지재는 상기 적어도 하나의 솔더부재의 수축 과정동안 상기 적어도 하나의 솔더부재와결합하는전자 패키지.
[청구항 26]
제23항에 있어서,상기 유기 봉지재는 상기 적어도 하나의 솔더부재의 수축 과정동안 상기 적어도 하나의 솔더부재완벽하게 둘러싸는전자 패키지.
지시문 (instruction)
주어진 본문을 읽고 관련 정보를 분석하여 질문에 답하라.
질문 (question)
전자 패키지에서 적어도 하나의 솔더부재가 용융 과정 동안 수축하는 목적은 무엇인가?
추론 과정 (compact_reasoning)
-
1과제 해석
task_interpretation전자 패키지 내 솔더부재가 용융 과정 중 수축하는 목적을 청구항 문맥에서 찾아 추출해야 한다.
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2정보 추출
information_extraction청구항 19에서 솔더부재의 부피가 용융 과정 동안 수축한다는 사실과 그 목적에 관한 기술을 확인한다.
- 적어도 하나의 솔더부재의 부피는 상기 기판과 상기 소자 사이의 상기 물리적 결합 및/또는 상기 전기적 커플링의 파손을 방지하기위해 용융과정동안수축하는
-
3근거 선택
evidence_selection솔더부재의 수축 목적을 직접적으로 명시한 구절을 선택한다.
- 상기 기판과 상기 소자 사이의 상기 물리적 결합 및/또는 상기 전기적 커플링의 파손을 방지하기위해
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4논리 통합
logical_integration솔더부재의 수축은 기판과 소자 사이의 물리적 결합 또는 전기적 커플링이 파손되는 것을 막기 위한 기능적 수단임을 파악한다.
- 상기 기판과 상기 소자 사이의 상기 물리적 결합 및/또는 상기 전기적 커플링의 파손을 방지하기위해
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5결론 도출
conclusion_formulation질문에 대한 답변으로, 수축의 목적은 물리적 결합 및/또는 전기적 커플링의 파손을 방지하는 것임을 정리한다.
- 상기 기판과 상기 소자 사이의 상기 물리적 결합 및/또는 상기 전기적 커플링의 파손을 방지하기위해
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6답변 생성
answer_generation추출된 근거를 바탕으로 최종 답변을 작성한다.
- 상기 기판과 상기 소자 사이의 상기 물리적 결합 및/또는 상기 전기적 커플링의 파손을 방지하기위해
최종 답변 (final_answer)
솔더부재가 용융 과정 동안 부피가 수축하는 목적은 기판과 소자 사이의 물리적 결합 및/또는 전기적 커플링의 파손을 방지하기 위함이다.
핵심 해석 (core_interpretation)
본 발명은 전자 패키지 내 솔더부재의 용융 시 발생하는 부피 수축을 통해 기판과 소자 간의 물리적 결합 및 전기적 연결의 파손을 방지하는 기술에 관한 것이다.