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다중-칩 패키지들을 위한 컴포넌트, 방법 및 어셈블리 document_id 1020057006246

출원번호
1020057006246
분류
전기(H섹션)
문맥 (context)
[청구항 2] 제1 항에 있어서,상기 탑재 패드들 및 탑재 매스들은따르는 것인,다중-칩 모듈. [청구항 3] 제1 항에 있어서,상기 상면및 하면상에 탑재되어 있는 패키지형 반도체 칩들은 언더필것인,다중-칩 모듈. [청구항 4] 제1 항에 있어서,상기 인터포우저는 75 미크론 이하의 높이갖는 것인,다중-칩 모듈. [청구항 5] 제1 항에 있어서,상기 인터포우저는 40 미크론 이하의 높이갖는 것인,다중-칩 모듈. [청구항 6] 제1 항에 있어서,상기 인터포우저는 25 미크론 이하의 높이갖는 것인,다중-칩 모듈. [청구항 7] 제1 항에 있어서,625 미크론 이하의 높이를갖는다중-칩 모듈. [청구항 8] 제1 항에 있어서,상기 탑재 매스들은 높이가 약 60 미크론 이하인 솔더 범프들인 것인,다중-칩 모듈. [청구항 9] 제1 항에 있어서,상기 인터포우저의 하면은, 회로 보드에 상기 다중-칩 모듈을 본딩하는데 사용하기 위한 대응되는 복수개의 솔더 볼들을 부착하기 위한 복수개의 본딩 패드들더 구비하는 것인,다중-칩 모듈. [청구항 10] 제9 항에 있어서,상기 회로 보드를더 구비하는다중-칩 모듈. [청구항 11] 제1 항에 있어서,상기 패키지형 반도체 장치들 중 하나 이상은, 상기 다중-칩 모듈의 열적 성능을 향상시키기 위해, 상기 패키지형 반도체 장치 내의 베어 칩 상면으로부터 형성된 상면갖는 것인,다중-칩 모듈. [청구항 13] 제12 항에 있어서,625 미크론 미만의 전체적인 높이갖는다중-칩 모듈. [청구항 14] 제12 항에 있어서,상기 인터포우저의 하면은, 상기 다중-칩 모듈을 회로 보드에 본딩하는데 사용하기 위한 대응되는 복수개의 솔더 볼들을 부착하기 위한 복수개의 본딩 패드들더 구비하는 것인,다중-칩 모듈. [청구항 15] 제 12 항에 있어서,상기 패키지형 반도체 장치들 중 하나 이상은, 상기 다중-칩 모듈의 열적 성능을 향상시키기 위해, 상기 패키지형 반도체 장치 내의 베어 칩 상면으로부터 형성된 상면갖는 것인,다중-칩 모듈. [청구항 17] 제16 항에 있어서,상기 탑재 패드들 및 탑재 매스들은따르는 것인,다중-칩 모듈. [청구항 18] 제16 항에 있어서,상기 제 1 다중-칩 모듈은 약 625 미크론 미만의 높이갖는 것인,스택형 다중-칩 모듈. [청구항 19] 제16 항에 있어서,상기 탑재 매스들은 높이가 약 60 미크론 이하인 솔더 범프들인 것인,스택형 다중-칩 모듈. [청구항 20] 제16 항에 있어서,상기 인터포우저의 하면은, 상기 다중-칩 모듈을 회로 보드에 본딩하는데 사용하기 위한 대응되는 복수개의 솔더 볼들을 부착하기 위한 복수개의 본딩 패드들더 구비하는 것인,스택형 다중-칩 모듈. [청구항 21] 제20 항에 있어서,상기 회로 보드를더 구비하는스택형 다중-칩 모듈. [청구항 22] 제16 항에 있어서,상기 패키지형 반도체 장치들 중 하나 이상은, 상기 스택형 다중-칩 모듈의 열적 성능을 향상시키기 위해, 상기 패키지형 반도체 장치 내의 베어 칩 상면으로부터 형성된 상면갖는 것인,스택형 다중-칩 모듈.
지시문 (instruction)
주어진 본문을 읽고 관련 정보를 분석하여 질문에 답하라.
질문 (question)
다중-칩 모듈의 열적 성능을 향상시키기 위해 패키지형 반도체 장치 내의 베어 칩 상면으로부터 형성된 상면을 갖는 구성 요소는 무엇인가?
추론 과정 (compact_reasoning)
  1. 1과제 해석task_interpretation

    다중-칩 모듈의 열적 성능 향상을 위해 베어 칩 상면으로부터 형성된 상면을 갖는 구성 요소가 무엇인지 추출해야 한다.

  2. 2정보 추출information_extraction

    청구항 11, 15, 22에서 열적 성능 향상 및 베어 칩 상면과 관련된 문구를 확인한다.

    • 상기 다중-칩 모듈의 열적 성능을 향상시키기 위해, 상기 패키지형 반도체 장치 내의 베어 칩 상면으로부터 형성된 상면갖는 것인
  3. 3근거 선택evidence_selection

    질문에서 요구하는 '열적 성능 향상'과 '베어 칩 상면으로부터 형성된 상면'을 갖는 주체인 '패키지형 반도체 장치들 중 하나 이상'을 근거로 선택한다.

    • 상기 패키지형 반도체 장치들 중 하나 이상은, 상기 다중-칩 모듈의 열적 성능을 향상시키기 위해, 상기 패키지형 반도체 장치 내의 베어 칩 상면으로부터 형성된 상면갖는 것인
  4. 4논리 통합logical_integration

    청구항의 문맥상 열적 성능을 향상시키기 위해 특정 상면을 갖는 주체는 패키지형 반도체 장치임을 알 수 있다.

    • 상기 패키지형 반도체 장치들 중 하나 이상은
  5. 5결론 도출conclusion_formulation

    질문에 대한 답변으로 '패키지형 반도체 장치들 중 하나 이상'을 도출한다.

  6. 6답변 생성answer_generation

    추출된 정보를 바탕으로 최종 답변을 작성한다.

최종 답변 (final_answer)
패키지형 반도체 장치들 중 하나 이상
핵심 해석 (core_interpretation)
다중-칩 모듈의 열적 성능을 개선하기 위해 패키지형 반도체 장치 내의 베어 칩 상면에 특정 구조(상면)를 형성하는 기술적 구성을 나타냄.