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템플릿된 클러스터 어셈블링된 와이어 document_id 1020057014581

출원번호
1020057014581
분류
전기(H섹션)
문맥 (context)
[청구항 18] 제 17 항에 있어서,침착 이전에 하기 공정단계 중 하나 이상이 일어날 수 있는 방법:· 입자의 이온화,· 입자의 크기 선택,· 클러스터의 가속화 및 집속,· v형 그루브(또는 다른 템플릿(template))의 표면을 산화시키거나 달리 부동화시켜 입사 입자의 후속 운동을 변화시키는 단계,· 입자가 기판의 일부(예컨대, 표면 개질부 사이의 비개질된 부위)를 바운딩하도록 하여 기판의 상기 부위에 도전 경로가 형성되는 것을 방지하도록 입자 및 기판 재료와 입자의 운동 에너지의 선택, 및· 형성되는와이어의두께조절하기위해표면 개질부의 크기(예컨대, v형 그루브의 폭)의 선택. [청구항 29] 제 28 항에 있어서,침착 이전에 하기 공정단계 중 하나 이상이 일어날 수 있는 방법:· 입자의 이온화,· 입자의 크기 선택,· 클러스터의 가속화 및 집속,· v형 그루브(또는 다른 템플릿)의 표면을 산화시키거나 달리 부동화시켜 입사 입자의 후속 운동을 변화시키는 단계,· 입자가 기판의 일부(예컨대, 표면 개질부 사이의 비개질된 부위)를 바운딩하도록 하여 기판의 상기 부위에 도전 경로가 형성되는 것을 방지하도록 입자 및 기판 재료와 입자의 운동 에너지의 선택, 및· 형성되는와이어의두께조절하기위해표면 개질부의 크기(예컨대, v형 그루브의 폭)의 선택. [청구항 38] 제 37 항에 있어서,침착 이전에 하기 공정단계 중 하나 이상이 일어날 수 있는 방법:· 입자의 이온화,· 입자의 크기 선택,· 클러스터의 가속화 및 집속,· v형 그루브(또는 다른 템플릿)의 표면을 산화시키거나 달리 부동화시켜 입사 입자의 후속 운동을 변화시키는 단계,· 입자가 기판의 일부(예컨대, 표면 개질부 사이의 비개질된 부위)를 바운딩하도록 하여 기판의 상기 부위에 도전 경로가 형성되는 것을 방지하도록 입자 및 기판 재료와 입자의 운동 에너지의 선택, 및· 형성되는와이어의두께조절하기위해표면 개질부의 크기(예컨대, v형 그루브의 폭)의 선택. [청구항 45] 제 44 항에 있어서,침착 이전에 하기 공정단계 중 하나 이상이 일어날 수 있는 방법:· 입자의 이온화,· 입자의 크기 선택,· 클러스터의 가속화 및 집속,· v형 그루브(또는 다른 템플릿)의 표면을 산화시키거나 달리 부동화시켜 입사 입자의 후속 운동을 변화시키는 단계,· 입자가 기판의 일부(예컨대, 표면 개질부 사이의 비개질된 부위)를 바운딩하도록 하여 기판의 상기 부위에 도전 경로가 형성되는 것을 방지하도록 입자 및 기판 재료와 입자의 운동 에너지의 선택, 및· 형성되는와이어의두께조절하기위해표면 개질부의 크기(예컨대, v형 그루브의 폭)의 선택. [청구항 47] a. 기판의 2개 이상의 콘택트, 및 b. 콘택트 사이에 입자의 도전 체인 또는 경로를 형성하는 복수의 입자 를 포함하고, 상기 입자가 불활성 기체 집합체로부터 표면에 침착되고, 상기 입자의 도전 체인의 형성은 침착 전의 입자에 부여된 운동 에너지에 적어도 부분적으로 기인하는 기판 표면을 가로지르는 또는 기판 표면에서의 입자의 이동, 미끄러짐, 바운딩 또는 다른 운동에 의존하는, 기판에 형성된 2개의 콘택트 사이의 도전 경로를 포함하거나 요구하는 나노- 내지 마이크론-스케일의 장치 [청구항 54] 제 53 항에 있어서,침착 이전에 하기 공정단계 중 하나 이상이 일어날 수 있는 방법:· 입자의 이온화,· 입자의 크기 선택,· 클러스터의 가속화 및 집속,· v형 그루브(또는 다른 템플릿)의 표면을 산화시키거나 달리 부동화시켜 입사 입자의 후속 운동을 변화시키는 단계,· 입자가 기판의 일부(예컨대, 표면 개질부 사이의 비개질된 부위)를 바운딩하도록 하여 기판의 상기 부위에 도전 경로가 형성되는 것을 방지하도록 입자 및 기판 재료와 입자의 운동 에너지의 선택, 및· 형성되는와이어의두께조절하기위해표면 개질부의 크기(예컨대, v형 그루브의 폭)의 선택.
지시문 (instruction)
본문의 내용을 파악하고 이를 바탕으로 질문에 답하라.
질문 (question)
침착 전 공정 단계 중, 입자가 기판의 비개질된 부위를 바운딩하게 함으로써 도전 경로가 형성되는 것을 방지하기 위해 수행할 수 있는 방법은 무엇인가?
추론 과정 (compact_reasoning)
  1. 1과제 해석task_interpretation

    침착 전 공정 중 입자가 기판의 비개질된 부위를 바운딩하여 도전 경로 형성을 방지하는 구체적인 방법을 찾는 것이다.

  2. 2정보 추출information_extraction

    청구항 18, 29, 38, 45, 54에서 침착 이전의 공정 단계들을 추출한다.

    • 침착 이전에 하기 공정단계 중 하나 이상이 일어날 수 있는 방법
    • 입자가 기판의 일부(예컨대, 표면 개질부 사이의 비개질된 부위)를 바운딩하도록 하여 기판의 상기 부위에 도전 경로가 형성되는 것을 방지하도록 입자 및 기판 재료와 입자의 운동 에너지의 선택
  3. 3근거 선택evidence_selection

    질문에서 언급한 '비개질된 부위를 바운딩'하고 '도전 경로가 형성되는 것을 방지'하는 목적과 일치하는 구절을 선택한다.

    • 입자가 기판의 일부(예컨대, 표면 개질부 사이의 비개질된 부위)를 바운딩하도록 하여 기판의 상기 부위에 도전 경로가 형성되는 것을 방지하도록 입자 및 기판 재료와 입자의 운동 에너지의 선택
  4. 4논리 통합logical_integration

    선택된 구절에 따르면, 해당 목적을 달성하기 위한 방법은 입자 및 기판 재료와 입자의 운동 에너지를 선택하는 것이다.

    • 입자 및 기판 재료와 입자의 운동 에너지의 선택
  5. 5결론 도출conclusion_formulation

    질문에 대한 직접적인 답변으로 '입자 및 기판 재료와 입자의 운동 에너지의 선택'을 도출한다.

  6. 6답변 생성answer_generation

    추출된 텍스트를 바탕으로 최종 답변을 작성한다.

    • 입자 및 기판 재료와 입자의 운동 에너지의 선택
최종 답변 (final_answer)
입자 및 기판 재료와 입자의 운동 에너지의 선택
핵심 해석 (core_interpretation)
침착 전 공정 단계에서 입자의 운동 에너지와 재료를 조절함으로써, 기판의 비개질된 영역에 원치 않는 도전 경로가 형성되는 것을 방지하는 기술적 수단을 제공한다.