문맥 (context)
[청구항 2]
제1항에 있어서,상기 데이터 캐리어 부재가비접촉형데이터캐리어부재인것을특징으로 하는반도체 웨이퍼 처리 테이프 와인딩 바디.
[청구항 3]
제2항에 있어서,상기 비접촉형 데이터 캐리어 부재가 ic 칩과, 이 ic 칩에 접속된 도전성 코일로부터 구성되는메모리인것을특징으로 하는반도체 웨이퍼 처리 테이프 와인딩 바디.
[청구항 4]
제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서,상기 데이터 캐리어 부재가,축심부재의표면설치되어있는것을특징으로 하는반도체 웨이퍼 처리 테이프 와인딩 바디.
[청구항 5]
제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서,상기 데이터 캐리어 부재가, 축심부재에매설상태설치되어있는것을특징으로 하는반도체 웨이퍼 처리 테이프 와인딩 바디.
[청구항 6]
제1항에 있어서,상기 데이터 캐리어 부재가,축심부재의내경측설치되어있는것을특징으로 하는반도체 웨이퍼 처리 테이프 와인딩 바디.
[청구항 7]
제1항에 있어서,상기 데이터 캐리어 부재가,축심부재의외경측설치되어있는것을특징으로 하는반도체 웨이퍼 처리 테이프 와인딩 바디.
[청구항 9]
제8항에 있어서,상기 테이프 데이터읽기/쓰기장치가,피딩축설치되어있는것을특징으로 하는반도체 웨이퍼 처리 테이프 첩착장치.
[청구항 10]
제8항에 있어서,상기 테이프 첩착장치에 의해 반도체 웨이퍼 처리 테이프가 첩착된 반도체 웨이퍼를 수납하는 반도체 웨이퍼 수납 카세트에 대하여,상기 반도체 웨이퍼 수납 카세트에 설치된 데이터 캐리어 부재에, 목적의 처리 데이터를 기입하는카세트데이터기입장치구비하는것을특징으로 하는반도체 웨이퍼 처리 테이프 첩착장치.
[청구항 11]
제8항에 있어서,상기 반도체 웨이퍼 처리 테이프 첩착장치가, 반도체 웨이퍼의 회로면을 보호하기 위한 보호테이프를 첩착하는보호테이프첩착장치인것을특징으로 하는반도체 웨이퍼 처리 테이프 첩착장치.
[청구항 12]
제8항에 있어서,상기 반도체 웨이퍼 처리 테이프 첩착장치가, 반도체 웨이퍼의 바깥주위에 링 프레임을 첩착하는 마운트 테이프를 첩착하는마운트테이프첩착장치인것을특징으로 하는반도체 웨이퍼 처리 테이프 첩착장치.
[청구항 13]
제12항에 있어서,상기 링 프레임에 설치된 데이터 캐리어 부재에, 목적의 처리 데이터를 기입하는링프레임데이터기입장치구비하는것을특징으로 하는반도체 웨이퍼 처리 테이프 첩착장치.
[청구항 14]
제8항에 있어서,상기 반도체 웨이퍼 처리 테이프 첩착장치가,전공정에서 소정의 가공처리가 행하여진 반도체 웨이퍼를 수납하는, 반도체 웨이퍼 수납 카세트에 설치된 데이터 캐리어 부재에 기입된 처리 데이터를 독취하는, 카세트 데이터 독취장치를 구비하고,상기 카세트 데이터 독취장치로 독취된 처리 데이터와, 상기 테이프 데이터 읽기/쓰기장치에 의해 독취된 처리 데이터를 토대로, 테이프 첩착장치에 의해, 반도체 웨이퍼 처리 테이프를, 반도체 웨이퍼에첩구성되어있는것을특징으로 하는반도체 웨이퍼 처리 테이프 첩착장치.
[청구항 16]
제15항에 있어서,제8항의 반도체 웨이퍼 처리 테이프 첩착장치에 의해, 반도체 웨이퍼 처리 테이프가 첩착된 반도체 웨이퍼에 대하여, 상기 링 프레임에 설치된 데이터 캐리어 부재에 기입된 처리 데이터를 토태로,소정의웨이퍼가공처리구성한것을특징으로 하는반도체 웨이퍼 가공처리장치.
[청구항 17]
제15항에 있어서,상기 반도체 웨이퍼 가공처리장치가, 반도체 웨이퍼의 회로면과 반대측의 이면을 연삭하는반도체 웨이퍼연삭장치인것을특징으로 하는반도체 웨이퍼 가공처리장치.
[청구항 18]
제15항에 있어서,상기 반도체 웨이퍼 가공처리장치가, 반도체 웨이퍼를 주사위 크기의 작은 정육면체형상으로 절단하는다이싱장치인것을특징으로 하는반도체 웨이퍼 가공처리장치.
[청구항 19]
제15항에 있어서,상기 반도체 웨이퍼 가공처리장치가, 주사위 크기의 작은 정육면체형상으로 절단된 반도체칩을 픽업하여, 전자부품의 전자부품 실장부에 장착하는 다이본딩장치인 것을특징으로 한는 반도체 웨이퍼 가공처리장치.
지시문 (instruction)
주어진 본문을 읽고 관련 정보를 분석하여 질문에 답하라.
질문 (question)
반도체 웨이퍼 처리 테이프 첩착장치에서 카세트 데이터 독취장치로 독취된 처리 데이터와 테이프 데이터 읽기/쓰기장치로 독취된 처리 데이터는 각각 무엇을 위해 사용되는가?
추론 과정 (compact_reasoning)
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1과제 해석
task_interpretation카세트 데이터 독취장치와 테이프 데이터 읽기/쓰기장치로부터 각각 독취된 처리 데이터의 용도를 파악해야 한다.
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2정보 추출
information_extraction청구항 14에서 카세트 데이터 독취장치로 독취된 데이터와 테이프 데이터 읽기/쓰기장치로 독취된 데이터가 언급된다.
- 상기 카세트 데이터 독취장치로 독취된 처리 데이터와, 상기 테이프 데이터 읽기/쓰기장치에 의해 독취된 처리 데이터
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3근거 선택
evidence_selection두 데이터가 결합되어 사용되는 목적을 설명하는 구절을 선택한다.
- 상기 카세트 데이터 독취장치로 독취된 처리 데이터와, 상기 테이프 데이터 읽기/쓰기장치에 의해 독취된 처리 데이터를 토대로, 테이프 첩착장치에 의해, 반도체 웨이퍼 처리 테이프를, 반도체 웨이퍼에첩구성되어있는것을특징으로 하는
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4논리 통합
logical_integration카세트 데이터와 테이프 데이터가 모두 '토대로' 사용된다는 것은, 두 데이터를 기반으로 테이프 첩착 공정이 수행됨을 의미한다.
- 상기 카세트 데이터 독취장치로 독취된 처리 데이터와, 상기 테이프 데이터 읽기/쓰기장치에 의해 독취된 처리 데이터를 토대로, 테이프 첩착장치에 의해, 반도체 웨이퍼 처리 테이프를, 반도체 웨이퍼에첩구성되어있는것을특징으로 하는
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5결론 도출
conclusion_formulation두 데이터는 테이프 첩착장치가 반도체 웨이퍼에 반도체 웨이퍼 처리 테이프를 첩착(구성)하기 위한 기초 정보로 사용된다.
- 상기 카세트 데이터 독취장치로 독취된 처리 데이터와, 상기 테이프 데이터 읽기/쓰기장치에 의해 독취된 처리 데이터를 토대로, 테이프 첩착장치에 의해, 반도체 웨이퍼 처리 테이프를, 반도체 웨이퍼에첩구성되어있는것을특징으로 하는
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6답변 생성
answer_generation질문에 대해 두 데이터의 공통된 사용 목적을 기술하여 답변을 생성한다.
- 상기 카세트 데이터 독취장치로 독취된 처리 데이터와, 상기 테이프 데이터 읽기/쓰기장치에 의해 독취된 처리 데이터를 토대로, 테이프 첩착장치에 의해, 반도체 웨이퍼 처리 테이프를, 반도체 웨이퍼에첩구성되어있는것을특징으로 하는
최종 답변 (final_answer)
카세트 데이터 독취장치로 독취된 처리 데이터와 테이프 데이터 읽기/쓰기장치로 독취된 처리 데이터는 모두 테이프 첩착장치가 반도체 웨이퍼에 반도체 웨이퍼 처리 테이프를 첩착(구성)하기 위한 토대로 사용된다.
핵심 해석 (core_interpretation)
카세트와 테이프에 저장된 처리 데이터를 통합적으로 활용하여 반도체 웨이퍼에 적절한 처리 테이프를 첩착하는 제어 메커니즘을 나타낸다.