문맥 (context)
[청구항 2]
제 1 항에 있어서,상기 테스트회로는클럭신호를 카운팅(counting)하여 다수개의 테스트신호를 출력하기 위한 테스트신호 생성부; 및상기 다수의 테스트신호에 각각 대응하며, 대응하는 테스트신호에 응답하여 상기 노멀회로에 배치되는 다수의 단위소자중 대응되는 단위소자의 전기적 특성을 테스트하기 위한다수의단위테스트회로구비하는것을특징으로 하는반도체 장치.
[청구항 3]
제 2 항에 있어서,상기 테스트회로는상기 다수의 단위 테스트회로에 각각 테스트 입력신호를 제공하기 위한 공통의 테스트신호 입력패드;상기 다수의 단위 테스트회로에서 출력되는 테스트 출력신호를 제공받기 위한 공통의 테스트 패드; 및상기 단위 테스트회로의 인에이블(enable)을 제어하기 위한 제어신호를 입력하기 위한제어신호입력패드더구비하는것을특징으로 하는반도체 장치.
[청구항 4]
제 3 항에 있어서,상기 테스트신호 생성부는상기 클럭신호를 제1 분주비로 분주하기 위해 제1 분주회로; 상기 제1 분주회로의 출력신호를 제2 분주비로 분주하기 위한 제2 분주회로; 및상기 제1 분주회로의 출력신호와 상기 제2 분주회로의 출력신호를 디코딩하여 상기 다수의 테스트 신호를 출력하기 위한 디코더부를구비하는것을특징으로 하는반도체 장치.
[청구항 5]
제 4 항에 있어서,상기 디코더부는상기 제1 분주회로의 출력신호와 상기 제2 분주회로의 출력신호를 논리곱하여 출력하기 위한논리곱수단구비하는것을특징으로 하는반도체 장치.
[청구항 6]
제 4 항에 있어서,상기 단위 테스트회로는일측으로 상기 테스트신호 입력패드를 통해 상기 테스트 입력신호를 입력받고, 게이트로 상기 제어신호 입력패드를 통해 상기 제어신호를 입력받는 테스트용 모스트랜지스터; 및일측이 상기 테스트용 모스트랜지스터의 타측과 접속되고, 게이트로 상기 테스트 신호를 입력받고 타측이 상기 테스트 패드와 접속된스위치용모스트랜지스터구비하는것을특징으로 하는반도체 장치.
[청구항 7]
제 6 항에 있어서,상기 테스트용 모스트랜지스터의 채널길이 및 폭은 상기 노멀회로에 배치되는 모스트랜지스터의 채널길이 및 폭과 같은 것특징으로 하는반도체 장치.
[청구항 8]
제 4 항에 있어서,상기 단위 테스트회로는일측으로 상기 테스트신호 입력패드를 통해 상기 테스트 입력신호를 입력받는 테스트용 저항; 및일측이 상기 테스트용 저항의 타측에 접속되고, 게이트로 상기 테스트 신호를 입력받고 타측이 상기 테스트 패드와 접속된스위치용모스트랜지스터구비하는것을특징으로 하는반도체 장치.
[청구항 9]
제 8 항에 있어서,상기 테스트용 저항은 상기 노멀회로에 배치되는 저항과 같은저항값가지는것을특징으로 하는반도체 장치.
[청구항 11]
제 10 항에 있어서,상기 다수의 단위 테스트회로에 각각 테스트 입력신호를 제공하기 위한 공통의 테스트신호 입력패드;상기 다수의 단위 테스트회로에서 출력되는 테스트 출력신호를 제공받기 위한 공통의 테스트 패드; 및상기 단위 테스트회로의 인에이블을 제어하기 위한 제어신호를 입력하기 위한제어신호입력패드더구비하는것을특징으로 하는반도체 장치.
[청구항 12]
제 3 항에 있어서,상기 테스트신호 생성부는상기 클럭신호를 제1 분주비로 분주하기 위해 제1 분주회로; 상기 제1 분주회로의 출력신호를 제2 분주비로 분주하기 위한 제2 분주회로; 및상기 제1 분주회로의 출력신호와 상기 제2 분주회로의 출력신호를 디코딩하여 상기 다수의 테스트 신호를 출력하기 위한 디코더부를구비하는것을특징으로 하는반도체 장치.
[청구항 13]
제 12 항에 있어서,상기 디코더부는상기 제1 분주회로의 출력신호와 상기 제2 분주회로의 출력신호를 논리곱하여 출력하기 위한논리곱수단구비하는것을특징으로 하는반도체 장치.
[청구항 14]
제 11 항에 있어서,상기 단위 테스트회로는일측으로 상기 테스트신호 입력패드를 통해 상기 테스트 입력신호를 입력받고, 게이트로 상기 제어신호 입력패드를 통해 상기 제어신호를 입력받는 테스트용 모스트랜지스터; 및일측이 상기 테스트용 모스트랜지스터의 타측과 접속되고, 게이트로 상기 테스트 신호를 입력받고 타측이 상기 테스트 패드와 접속된스위치용모스트랜지스터구비하는것을특징으로 하는반도체 장치.
[청구항 15]
제 14 항에 있어서,상기 테스트용 모스트랜지스터의 채널길이 및 폭은 상기 노멀회로에 배치되는 모스트랜지스터의 채널길이 및 폭과 같은 것특징으로 하는반도체 장치.
[청구항 16]
제 11 항에 있어서,상기 단위 테스트회로는일측으로 상기 테스트신호 입력패드를 통해 상기 테스트 입력신호를 입력받는 테스트용 저항; 및일측이 상기 테스트용 저항의 타측에 접속되고, 게이트로 상기 테스트 신호를 입력받고 타측이 상기 테스트 패드와 접속된스위치용모스트랜지스터구비하는것을특징으로 하는반도체 장치.
[청구항 17]
제 16 항에 있어서,상기 테스트용 저항은 상기 노멀회로에 배치되는 저항과 같은저항값가지는것을특징으로 하는반도체 장치.
지시문 (instruction)
주어진 본문을 읽고 관련 정보를 분석하여 질문에 답하라.
질문 (question)
테스트신호 생성부에서 다수의 테스트 신호를 출력하기 위해 제1 분주회로와 제2 분주회로의 출력신호를 처리하는 디코더부는 어떠한 방식으로 구성되는가?
추론 과정 (compact_reasoning)
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1과제 해석
task_interpretation테스트신호 생성부 내의 디코더부가 제1 분주회로와 제2 분주회로의 출력신호를 처리하는 구체적인 구성 방식을 파악해야 한다.
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2정보 추출
information_extraction청구항 4 및 12에서 디코더부가 제1 분주회로의 출력신호와 제2 분주회로의 출력신호를 디코딩하여 다수의 테스트 신호를 출력함을 확인한다.
- 상기 제1 분주회로의 출력신호와 상기 제2 분주회로의 출력신호를 디코딩하여 상기 다수의 테스트 신호를 출력하기 위한 디코더부
- 상기 디코더부는상기 제1 분주회로의 출력신호와 상기 제2 분주회로의 출력신호를 논리곱하여 출력하기 위한논리곱수단구비
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3근거 선택
evidence_selection디코더부의 구체적인 동작 방식인 '논리곱'에 관한 청구항 5 및 13의 내용을 선택한다.
- 상기 디코더부는상기 제1 분주회로의 출력신호와 상기 제2 분주회로의 출력신호를 논리곱하여 출력하기 위한논리곱수단구비
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4논리 통합
logical_integration디코더부는 두 분주회로의 출력신호를 입력받아 디코딩하며, 구체적으로는 논리곱 수단을 통해 두 신호를 논리곱하여 테스트 신호를 출력하는 구조임을 통합한다.
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5결론 도출
conclusion_formulation디코더부는 제1 분주회로의 출력신호와 제2 분주회로의 출력신호를 논리곱하여 다수의 테스트 신호를 출력하기 위한 논리곱 수단을 구비하는 방식으로 구성된다.
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6답변 생성
answer_generation질문에 대해 디코더부의 구성 방식을 논리곱 수단을 이용한 방식으로 기술하여 답변을 생성한다.
최종 답변 (final_answer)
디코더부는 제1 분주회로의 출력신호와 제2 분주회로의 출력신호를 논리곱하여 다수의 테스트 신호를 출력하기 위한 논리곱 수단을 구비하는 방식으로 구성된다.
핵심 해석 (core_interpretation)
테스트신호 생성부의 디코더부가 두 개의 분주회로로부터 나온 출력신호를 논리곱(AND) 연산함으로써 다수의 테스트 신호를 생성하는 구성에 관한 것이다.