그레이-맵핑된 ＱＡＭ를 위한 고속 소프트 값 계산 방법 document_id 1020067012762

[청구항 32] 제 31 항에 있어서,상기 스케일링 회로는 심벌 샘플의 진폭을 상기 노미널 변조 컨스텔레이션에 대하여 표준화하기 위하여 상기 심벌 샘플을 스케일링하도록구성되는것을특징으로 하는주문형 반도체(asic). [청구항 33] 제 33 항에 있어서,상기 스케일링 회로는 상기 심벌 샘플을 상기 수신된 통신 심벌과 관련되는 필터 및 채널의 이득 및 영향에 대하여 보상함으로써 상기 심벌 샘플 진폭을 상기 노미널 변조 컨스텔레이션에 대하여 표준화하도록구성되는것을특징으로 하는주문형 반도체(asic). [청구항 34] 제 33 항에 있어서,상기 수신된 통신 신호는 트래픽 채널 신호와 관련하여 송신된 기준 신호에 관련된 이득으로 송신되며, 상기 스케일링 회로는 상기 심벌 샘플을 트래픽-대-간섭 채널 이득의 영향에 대해 보상하도록구성되는것을특징으로 하는주문형 반도체(asic). [청구항 35] 제 32 항에 있어서,상기 스케일링 회로는 상기 심벌 샘플의 평균 신호-대-잡음비 및 상기 노미널 변조 컨스텔레이션의 평균 노미널 에너지의 제곱근의 비율로서 스케일링 값을 형성하고, 상기 스케일링 값을 토대로 상기 심벌 샘플을 스케일링함으로써 상기 심벌 샘플의 진폭을 표준화하도록구성되는것을특징으로 하는주문형 반도체(asic). [청구항 36] 제 32 항에 있어서,상기 스케일링 회로는 상기 심벌 샘플의 평균 에너지 및 상기 노미널 변조 컨스텔레이션의 평균 노미널 에너지의 제곱근의 비율로서 스케일링 값을 형성하고, 상기 스케일링 값을 토대로 심벌 샘플을 스케일링함으로써 상기 심벌 샘플의 진폭을 표준화하도록구성되는것을특징으로 하는주문형 반도체(asic). [청구항 37] 제 31 항에 있어서,상기 스케일링 회로는 변조 심벌의 수신된 진폭을 토대로 상기 노미널 변조 컨스텔레이션을 스케일링하도록구성되는것을특징으로 하는주문형 반도체(asic). [청구항 38] 제 31 항에 있어서,상기 스케일링 회로는 상기 심벌 샘플의 평균 신호-대-잡음비를 토대로 상기 노미널 변조 컨스텔레이션을 스케일링하도록구성되는것을특징으로 하는주문형 반도체(asic). [청구항 39] 제 31 항에 있어서,상기 스케일링 회로는 상기 심벌 샘플의 평균 에너지를 토대로 상기 노미널 변조 컨스텔레이션의 노미널 심벌 간격을 스케일링함으로써 상기 노미널 변조 컨스텔레이션을 스케일링하도록구성되는것을특징으로 하는주문형 반도체(asic). [청구항 40] 제 31 항에 있어서,상기 단일화된 식의 세트는 상기 단일화된 식의 세트를 구현하는 디지털 메모리 내에 저장된프로그램명령포함하는것을특징으로 하는주문형 반도체(asic). [청구항 41] 제 31 항에 있어서,상기 단일화된 식의 세트는 그 비트 위치와 관련된 모든 지역적인 식 항을 포함하는 각각의 비트 위치에 대한 하나의 단일화된 식을포함하는것을특징으로 하는주문형 반도체(asic). [청구항 42] 제 31 항에 있어서,단일화된 식의 세트는 상기 심벌 샘플의 부호 비트에 대응하는 비트 소프트 값을 계산하기 위하여 사용될 제1의 단일화된 식을 포함하며, 상기 제1의 단일화된 식은 노미널 심벌 간격 및 심벌 샘플의 실수 또는 허수 성분의 합의 크기를 토대로 제1 항을 발생시키고, 노미널 심벌 간격 및 심벌 샘플의 실수 또는 허수 성분의 차의 크기를 토대로 제2 항을 발생시키며, 4 × 상기 심벌 샘플의 실수 또는 허수 성분 토대로 제3 항을 발생시키고, 상기 제2및제3항을상기제1항감산하는것을특징으로 하는주문형 반도체(asic). [청구항 43] 제 42 항에 있어서,단일화된 식의 세트는 상기 심벌 샘플이 상기 노미널 변조 컨스텔레이션의 내부 로우에 존재하는지 또는 외부 로우에 존재하는지의 여부를 나타내거나, 상기 심벌 샘플이 상기 노미널 변조 컨스텔레이션의 내부 컬럼에 존재하는지 또는 외부 컬럼에 존재하는지의 여부를 나타내는데 사용되는 비트 위치에 대한 비트 소프트 값을 계산하기 위하여 사용될 제2의 단일화된 식을 더 포함하며, 상기 제2의 단일화된 식은 2 × 상기 심벌 샘플의 실수 또는 허수 성분의 크기를 토대로 제1 항을 발생시키고, 노미널 심벌 간격의 두배를 토대로 제2 항을 발생시키며,상기제2항을상기제1항감산하는것을특징으로 하는주문형 반도체(asic). [청구항 44] 제 31 항에 있어서,단일화된 식의 세트는 실수 및 허수 성분의 부호에 대응하는 비트 위치에 대한 비트 소프트 값을 계산하기 위하여 사용될 제1의 단일화된 식을 포함하며, 상기 심벌 샘플이 상기 노미널 변조 컨스텔레이션의 내부 컬럼에 존재하는지 또는 외부 컬럼에 존재하는지의 여부를 나타내는 비트 위치, 및 상기 심벌 샘플이 상기 노미널 변조 컨스텔레이션의 내부 로우에 존재하는지 또는 외부 로우에 존재하는지의 여부를 나타내는 비트 위치에 대한 비트 소프트 값을 계산하기 위하여 사용될 제2의 단일화된 식을제공하는것을특징으로 하는주문형 반도체(asic). [청구항 45] 제 31 항에 있어서,상기 단일화된 식의 세트는 형태의 단일화된 식을 포함하며, 여기서 는 16qam과 관련된 네 개의 비트 위치에 대응하고, rx 및 ry는 각각 상기 심벌 샘플의 실수 및 허수 성분이며, 2a는 상기 노미널 변조 컨스텔레이션간격인것을특징으로 하는주문형 반도체(asic). [청구항 46] 제 45 항에 있어서,상기 계산 회로는 상기 심벌 샘플의 실수 성분의 부호를 나타내는데 사용되는 비트 위치에 대한 비트 소프트 값을 계산하기 위하여 에 대한 단일화된 식을 사용하고, 상기 심벌 샘플의 허수 성분의 부호를 나타내는데 사용되는 비트 위치에 대한 비트 소프트 값을 계산하기 위하여 에 대한 식을 사용하며, 상기 심벌 샘플이 상기 노미널 변조 컨스텔레이션의 내부 컬럼에 존재하는지 또는 외부 컬럼에 존재하는지의 여부를 나타내는데 사용되는 비트 위치에 대한 비트 소프트 값을 계산하기 위하여 에 대한 식을 사용하고, 상기 비트 심벌이 상기 노미널 변조 컨스텔레이션의 내부 로우에 존재하는지 또는 외부 로우에 존재하는지의 여부를 나타내는데 사용되는 비트 위치에 대한 비트 소프트 값을 계산하기 위하여 에 대한 식을 사용하도록구성되는것을특징으로 하는주문형 반도체(asic). [청구항 47] 제 31 항에 있어서,단일화된 식의 세트는의 형태의 단일화된 식을 포함하며, 여기서 는 64qam과 관련된 여섯 개의 비트 위치에 대응하고, rx 및 ry는 각각 상기 심벌 샘플의 실수 및 허수 성분이며, 2a는 상기 노미널 변조 컨스텔레이션간격인것을특징으로 하는주문형 반도체(asic). [청구항 48] 제 31 항에 있어서,상기asic는 상기 계산된 비트 소프트 값을 상기 심벌 샘플의 신호-대-잡음비만큼 더 스케일링하도록구성되는것을특징으로 하는주문형 반도체(asic). [청구항 49] 제 31 항에 있어서,상기asic는 상기 계산된 비트 소프트 값을 상기 심벌 샘플의 평균 에너지만큼 더 스케일링하도록구성되는것을특징으로 하는주문형 반도체(asic). [청구항 50] 제 31 항에 있어서,상기asic는 상기 계산된 비트 소프트 값을 상기 심벌 샘플 내의 잡음의 함수로서 더 스케일링하도록구성되는것을특징으로 하는주문형 반도체(asic). [청구항 51] 제 31 항에 있어서,상기asic는 상기 계산된 비트 소프트 값을 상기 심벌 샘플 내의 잡음 제곱의 역을 토대로 더 스케일링하도록구성되는것을특징으로 하는주문형 반도체(asic). [청구항 52] 제 31 항에 있어서,상기asic는 각각의 심벌 샘플에 대하여, 비트 소프트 값을 상기 노미널 변조 컨스텔레이션 내의 심벌 샘플의 하나 이상의 부가적인 가장 가까운-이웃에 대하여 보상하는 하나 이상의 수정 항을 단일화된 식 각각에 적용하도록구성되는것을특징으로 하는주문형 반도체(asic). [청구항 53] 제 31 항에 있어서,상기asic는 상기 단일화된 식으로부터 계산된 비트 소프트 값을 상기 노미널 변조 컨스텔레이션의 두 개 이상의 지역에 존재하는 컨스텔레이션 포인트의 영향에 대하여 보상하는 하나 이상의 다중-지역적인 보상 항을 사용하여 상기 단일화된 식을 보상하도록구성되는것을특징으로 하는주문형 반도체(asic). [청구항 54] 제 31 항에 있어서,상기 스케일링 회로는 스케일링된 노미널 변조 컨스텔레이션을 얻기 위하여 상기 노미널 변조 컨스텔레이션을 스케일링하도록 구성되며, 상기 단일화된 식의 세트는 i-번째 위치에 대한 비트 소프트 값을 계산하기 위하여 다음의 제1 및 제2의 단일화된 식:, 및을 각각 포함하며,여기서 2a는 스케일링된 노미널 변조 컨스텔레이션의 심벌 간격을 포함하며, rx는 심벌 샘플의 실수 성분을 포함하고, ry는상기심벌샘플의허수성분포함하는것을특징으로 하는주문형 반도체(asic). [청구항 55] 제 54 항에 있어서,상기asic는 상기 심벌 샘플의 실수 성분의 부호를 나타내는데 사용되는 비트 위치에 대한 비트 소프트 값을 계산하기 위하여 상기 심벌 샘플의 실수 성분(rx)과 관련된 제1의 단일화된 식을 사용하고, 상기 심벌 샘플의 허수 성분의 부호를 나타내는데 사용되는 비트 위치에 대한 비트 소프트 값을 계산하기 위하여 상기 심벌 샘플의 허수 성분(ry)과 관련된 제1의 단일화된 식을 사용하며, 상기 심벌 샘플이 상기 노미널 변조 컨스텔레이션의 내부 컬럼에 존재하는지 또는 외부 컬럼에 존재하는지의 여부를 나타내는데 사용되는 비트 위치에 대한 비트 소프트 값을 계산하기 위하여 실수 성분(rx)과 관련된 제2의 단일화된 식을 사용하고, 상기 심벌 샘플이 상기 노미널 변조 컨스텔레이션의 내부 로우에 존재하는지 또는 외부 로우에 존재하는지의 여부를 나타내는데 사용되는 비트 위치에 대한 비트 소프트 값을 계산하기 위하여 허수 성분(ry)과 관련된 제2의 단일화된 식을 사용하도록구성되는것을특징으로 하는주문형 반도체(asic). [청구항 56] 제 54 항에 있어서,상기 노미널 변조 컨스텔레이션을 위해 채택되는 특정 그레이-코드 맵핑을 토대로 i-번째 비트 위치에 대한 비트 소프트 값을 계산하기 위하여 두 개의 단일화된 식 중 특정한 하나, 및 rx 및 ry 성분 중 하나를 선택하는 것을더포함하는것을특징으로 하는주문형 반도체(asic). [청구항 57] 제 31 항에 있어서,단일화된 식의 세트는 i-번째 위치를 계산하기 위하여 다음의 세 개의 식:,, 및 을 포함하며,여기서 2a는 스케일링된 노미널 변조 컨스텔레이션의 간격을 포함하며, rx는 심벌 샘플의 실수 성분을 포함하고, ry는상기심벌샘플의허수성분포함하는것을특징으로 하는주문형 반도체(asic). [청구항 58] 제 57 항에 있어서,각각의 심벌 샘플에 대하여, 상기 asic는 상기 노미널 변조 컨스텔레이션을 위해 채택되는 특정 그레이-코드 맵핑을 토대로 i-번째 비트 위치에 대한 비트 소프트 값을 계산하기 위하여 세 개의 단일화된 식 중 특정한 하나, 및 rx 및 ry 성분 중 하나를 선택하도록구성되는것을특징으로 하는주문형 반도체(asic). [청구항 59] 수신된 통신 신호 내의 그레이-코딩된 변조 심벌로부터 비트 소프트 값을 계산하는 컴퓨터 프로그램을 저장하는 컴퓨터 판독 가능한 매체에 있어서 상기 컴퓨터 프로그램은: 상기 수신된 통신 신호 내의 그레이-코딩된 변조 심벌에 대응하는 심벌 샘플을 스케일링하거나, 노미널 변조 컨스텔레이션을 상기 심벌 샘플에 대하여 스케일링하도록 하는 프로그램 명령으로서, 각각의 심벌 샘플은 실수 및 허수 성분을 포함하는, 상기 스케일링하도록 하는 프로그램 명령 단일화된 식의 세트를 구현하도록 하는 프로그램 명령으로서, 각각의 단일화 된 식은 계산될 비트 소프트 값의 비트 위치에 각각 대응하고, 정확한 솔루션을 그 비트 위치에 대한 노미널 변조 컨스텔레이션과 관련된 지역적인 식의 세트로부터 선택된 적용 가능한 지역적인 식으로서 산출하는, 상기 단일화된 식의 세트를 구현하도록 하는 프로그램 명령; 및 비트 위치에 따라 심벌 샘플의 실수 또는 허수 성분 중 하나를 사용하여 대응하는 단일화된 식을 풂으로써 각각의 비트 위치에 대한 비트 소프트 값을 계산하는 것을 토대로, 각각의 심벌 샘플에 대한 비트 소프트 값을 결정하도록 하는 프로그램 명령을 포함하는 컴퓨터 프로그램을 저장하는 컴퓨터 판독 가능한 매체 [청구항 60] 제 59 항에 있어서,상기 단일화된 식의 세트는 그 비트 위치와 관련된 모든 지역적인 식을 포함하는 각 비트 위치에 대한 하나의 단일화된 식을 포함하는 것을 특징으로 하는 컴퓨터 프로그램을 저장하는 컴퓨터 판독가능한매체. [청구항 61] 제 59 항에 있어서,단일화된 식의 세트는 상기 심벌 샘플의 부호 비트에 대응하는 비트 소프트 값을 계산하기 위하여 사용될 제1의 단일화된 식을 포함하며, 상기 제1의 단일화된 식은 노미널 심벌 간격 및 심벌 샘플의 실수 또는 허수 성분의 합의 크기를 토대로 제1 항을 발생시키고, 노미널 심벌 간격 및 심벌 샘플의 실수 또는 허수 성분의 차의 크기를 토대로 제2 항을 발생시키며, 4 × 상기 심벌 샘플의 실수 또는 허수 성분 토대로 제3 항을 발생시키고, 상기 제2 및 제3 항을 상기 제1 항으로부터 감산하는 것을 특징으로 하는 컴퓨터 프로그램을 저장하는 컴퓨터 판독가능한매체. [청구항 62] 제 61 항에 있어서,단일화된 식의 세트는 상기 심벌 샘플이 상기 노미널 변조 컨스텔레이션의 내부 로우에 존재하는지 또는 외부 로우에 존재하는지의 여부를 나타내거나, 상기 심벌 샘플이 상기 노미널 변조 컨스텔레이션의 내부 컬럼에 존재하는지 또는 외부 컬럼에 존재하는지의 여부를 나타내는데 사용되는 비트 위치에 대한 비트 소프트 값을 계산하기 위하여 사용될 제2의 단일화된 식을 더 포함하며, 상기 제2의 단일화된 식은 2 × 상기 심벌 샘플의 실수 또는 허수 성분의 크기를 토대로 제1 항을 발생시키고, 노미널 심벌 간격의 두배를 토대로 제2 항을 발생시키며, 상기 제2 항을 상기 제1 항으로부터 감산하는 것을 특징으로 하는 컴퓨터 프로그램을 저장하는 컴퓨터 판독가능한매체. [청구항 63] 제 59 항에 있어서,단일화된 식의 세트는 실수 및 허수 성분의 부호에 대응하는 비트 위치에 대한 비트 소프트 값을 계산하기 위하여 사용될 제1의 단일화된 식, 및 상기 심벌 샘플이 상기 노미널 변조 컨스텔레이션의 내부 컬럼에 존재하는지 또는 외부 컬럼에 존재하는지의 여부를 나타내는 비트 위치, 및 상기 심벌 샘플이 상기 노미널 변조 컨스텔레이션의 내부 로우에 존재하는지 또는 외부 로우에 존재하는지의 여부를 나타내는 비트 위치에 대한 비트 소프트 값을 계산하기 위하여 사용될 제2의 단일화된 식을 포함하는 것을 특징으로 하는 컴퓨터 프로그램을 저장하는 컴퓨터 판독가능한매체. [청구항 64] 제 59 항에 있어서,상기 단일화된 식의 세트는 형태의 단일화된 식을 포함하며, 여기서 는 16qam과 관련된 네 개의 비트 위치에 대응하고, rx 및 ry는 각각 상기 심벌 샘플의 실수 및 허수 성분이며, 2a는 상기 노미널 변조 컨스텔레이션의 간격인 것을 특징으로 하는 컴퓨터 프로그램을 저장하는 컴퓨터 판독가능한매체. [청구항 65] 제 64 항에 있어서,비트 소프트 위치를 결정하도록 하는 상기 프로그램 명령은 상기 심벌 샘플의 실수 성분의 부호를 나타내는데 사용되는 비트 위치에 대한 비트 소프트 값을 계산하기 위하여 에 대한 단일화된 식을 사용하고, 상기 심벌 샘플의 허수 성분의 부호를 나타내는데 사용되는 비트 위치에 대한 비트 소프트 값을 계산하기 위하여 에 대한 식을 사용하며, 상기 심벌 샘플이 상기 노미널 변조 컨스텔레이션의 내부 컬럼에 존재하는지 또는 외부 컬럼에 존재하는지의 여부를 나타내는데 사용되는 비트 위치에 대한 비트 소프트 값을 계산하기 위하여 에 대한 식을 사용하고, 상기 비트 심벌이 상기 노미널 변조 컨스텔레이션의 내부 로우에 존재하는지 또는 외부 로우에 존재하는지의 여부를 나타내는데 사용되는 비트 위치에 대한 비트 소프트 값을 계산하기 위하여 에 대한 식을 사용하도록 하는 컴퓨터 프로그램 명령을 포함하는 것을 특징으로 하는 컴퓨터 프로그램을 저장하는 컴퓨터 판독가능한매체. [청구항 66] 제 59 항에 있어서,단일화된 식의 세트는의 형태의 단일화된 식을 포함하며, 여기서 는 64qam과 관련된 여섯 개의 비트 위치에 대응하고, rx 및 ry는 각각 상기 심벌 샘플의 실수 및 허수 성분이며, 2a는 상기 노미널 변조 컨스텔레이션의 간격인 것을 특징으로 하는 컴퓨터 프로그램을 저장하는 컴퓨터 판독가능한매체. [청구항 67] 제 59 항에 있어서,상기 컴퓨터 프로그램은 각각의 심벌 샘플에 대하여, 비트 소프트 값을 상기 노미널 변조 컨스텔레이션 내의 심벌 샘플의 하나 이상의 부가적인 가장 가까운-이웃에 대하여 보상하는 하나 이상의 수정 항을 단일화된 식 각각에 구현하도록 하는 프로그램 명령을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 컴퓨터 프로그램을 저장하는 컴퓨터 판독가능한매체. [청구항 68] 제 59 항에 있어서,상기 컴퓨터 프로그램은 상기 단일화된 식으로부터 계산된 비트 소프트 값을 상기 노미널 변조 컨스텔레이션의 두 개 이상의 지역에 존재하는 컨스텔레이션 포인트의 영향에 대하여 보상하는 하나 이상의 다중-지역적인 보상 항을 사용하여 상기 단일화된 식을 보상하도록 하는 프로그램 명령을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 컴퓨터 프로그램을 저장하는 컴퓨터 판독가능한매체. [청구항 69] 제 59 항에 있어서,심벌 샘플 또는 노미널 변조 컨스텔레이션을 스케일링하도록 하는 프로그램 명령은 스케일링된 노미널 변조 컨스텔레이션을 얻기 위하여 상기 노미널 변조 컨스텔레이션을 스케일링하도록 하는 프로그램 명령을 포함하는 것을 특징으로 하는 컴퓨터 프로그램을 저장하는 컴퓨터 판독가능한매체. [청구항 70] 제 69 항에 있어서,단일화된 식의 세트를 제공하는 것은 i-번째 위치에 대한 비트 소프트 값을 계산하기 위하여 다음의 제1 및 제2의 단일화된 식:, 및을 각각 포함하며,여기서 2a는 스케일링된 노미널 변조 컨스텔레이션의 심벌 간격을 포함하며, rx는 심벌 샘플의 실수 성분을 포함하고, ry는 상기 심벌 샘플의 허수 성분을 포함하는 것을 특징으로 하는 컴퓨터 프로그램을 저장하는 컴퓨터 판독가능한매체. [청구항 71] 제 70 항에 있어서,비트 소프트 값을 결정하도록 하는 상기 프로그램 명령은 상기 심벌 샘플의 실수 성분의 부호를 나타내는데 사용되는 비트 위치에 대한 비트 소프트 값을 계산하기 위하여 상기 심벌 샘플의 실수 성분(rx)과 관련된 제1의 단일화된 식을 사용하고, 상기 심벌 샘플의 허수 성분의 부호를 나타내는데 사용되는 비트 위치에 대한 비트 소프트 값을 계산하기 위하여 상기 심벌 샘플의 허수 성분(ry)과 관련된 제1의 단일화된 식을 사용하며, 상기 심벌 샘플이 상기 노미널 변조 컨스텔레이션의 내부 컬럼에 존재하는지 또는 외부 컬럼에 존재하는지의 여부를 나타내는데 사용되는 비트 위치에 대한 비트 소프트 값을 계산하기 위하여 실수 성분(rx)과 관련된 제2의 단일화된 식을 사용하고, 상기 심벌 샘플이 상기 노미널 변조 컨스텔레이션의 내부 로우에 존재하는지 또는 외부 로우에 존재하는지의 여부를 나타내는데 사용되는 비트 위치에 대한 비트 소프트 값을 계산하기 위하여 허수 성분(ry)과 관련된 제2의 단일화된 식을 사용하도록 하는 프로그램 명령을 포함하는 것을 특징으로 하는 컴퓨터 프로그램을 저장하는 컴퓨터 판독가능한매체. [청구항 72] 제 71 항에 있어서,비트 소프트 값을 결정하도록 하는 상기 프로그램 명령은 상기 노미널 변조 컨스텔레이션을 위해 채택되는 특정 그레이-코드 맵핑을 토대로 i-번째 비트 위치에 대한 비트 소프트 값을 계산하기 위하여 두 개의 단일화된 식 중 특정한 하나, 및 rx 및 ry 성분 중 하나를 선택하도록 하는 프로그램 명령을 포함하는 것을 특징으로 하는 컴퓨터 프로그램을 저장하는 컴퓨터 판독가능한매체. [청구항 73] 제 59 항에 있어서,단일화된 식의 세트는 i-번째 위치를 계산하기 위하여 다음의 세 개의 식:,, 및 을 포함하며,여기서 2a는 스케일링된 노미널 변조 컨스텔레이션의 간격을 포함하며, rx는 심벌 샘플의 실수 성분을 포함하고, ry는 상기 심벌 샘플의 허수 성분을 포함하는 것을 특징으로 하는 컴퓨터 프로그램을 저장하는 컴퓨터 판독가능한매체. [청구항 74] 제 73 항에 있어서,비트 소프트 값을 결정하도록 하는 상기 프로그램 명령은 상기 노미널 변조 컨스텔레이션을 위해 채택되는 특정 그레이-코드 맵핑을 토대로 i-번째 비트 위치에 대한 비트 소프트 값을 계산하기 위하여 세 개의 단일화된 식 중 특정한 하나, 및 rx 및 ry 성분 중 하나를 선택하도록 하는 프로그램 명령을 포함하는 것을 특징으로 하는 컴퓨터 프로그램을 저장하는 컴퓨터 판독가능한매체. [청구항 76] 제 75 항에 있어서,단일화된 식의 세트는 상기 심벌 샘플의 부호 비트에 대응하는 비트 소프트 값을 계산하기 위하여 사용될 제1의 단일화된 식을 포함하며, 상기 제1의 단일화된 식은 노미널 심벌 간격 및 심벌 샘플의 실수 또는 허수 성분의 합의 크기를 토대로 제1 항을 발생시키고, 노미널 심벌 간격 및 심벌 샘플의 실수 또는 허수 성분의 차의 크기를 토대로 제2 항을 발생시키며, 4 × 상기 심벌 샘플의 실수 또는 허수 성분 토대로 제3 항을 발생시키고, 상기 제2 및 제3 항을 상기 제1 항으로부터 감산하는 것을 특징으로 하는 무선 통신 네트워크사용하기 위한이동 단말기. [청구항 77] 제 76 항에 있어서,단일화된 식의 세트는 상기 심벌 샘플이 상기 노미널 변조 컨스텔레이션의 내부 로우에 존재하는지 또는 외부 로우에 존재하는지의 여부를 나타내거나, 상기 심벌 샘플이 상기 노미널 변조 컨스텔레이션의 내부 컬럼에 존재하는지 또는 외부 컬럼에 존재하는지의 여부를 나타내는데 사용되는 비트 위치에 대한 비트 소프트 값을 계산하기 위하여 사용될 제2의 단일화된 식을 더 포함하며, 상기 제2의 단일화된 식은 2 × 상기 심벌 샘플의 실수 또는 허수 성분의 크기를 토대로 제1 항을 발생시키고, 노미널 심벌 간격의 두배를 토대로 제2 항을 발생시키며, 상기 제2 항을 상기 제1 항으로부터 감산하는 것을 특징으로 하는 무선 통신 네트워크사용하기 위한이동 단말기. [청구항 78] 제 75 항에 있어서,단일화된 식의 세트는 실수 및 허수 성분의 부호에 대응하는 비트 위치에 대한 비트 소프트 값을 계산하기 위하여 사용될 제1의 단일화된 식, 및 상기 심벌 샘플이 상기 노미널 변조 컨스텔레이션의 내부 컬럼에 존재하는지 또는 외부 컬럼에 존재하는지의 여부를 나타내는 비트 위치, 및 상기 심벌 샘플이 상기 노미널 변조 컨스텔레이션의 내부 로우에 존재하는지 또는 외부 로우에 존재하는지의 여부를 나타내는 비트 위치에 대한 비트 소프트 값을 계산하기 위하여 사용될 제2의 단일화된 식을 포함하는 것을 특징으로 하는 무선 통신 네트워크사용하기 위한이동 단말기. [청구항 79] 제 75 항에 있어서,상기 단일화된 식의 세트는 형태의 단일화된 식을 포함하며, 여기서 는 16qam과 관련된 네 개의 비트 위치에 대응하고, rx 및 ry는 각각 상기 심벌 샘플의 실수 및 허수 성분이며, 2a는 상기 노미널 변조 컨스텔레이션의 간격인 것을 특징으로 하는 무선 통신 네트워크사용하기 위한이동 단말기. [청구항 80] 제 79 항에 있어서,상기 처리 회로는 상기 심벌 샘플의 실수 성분의 부호를 나타내는데 사용되는 비트 위치에 대한 비트 소프트 값을 계산하기 위하여 에 대한 단일화된 식을 사용하고, 상기 심벌 샘플의 허수 성분의 부호를 나타내는데 사용되는 비트 위치에 대한 비트 소프트 값을 계산하기 위하여 에 대한 식을 사용하며, 상기 심벌 샘플이 상기 노미널 변조 컨스텔레이션의 내부 컬럼에 존재하는지 또는 외부 컬럼에 존재하는지의 여부를 나타내는데 사용되는 비트 위치에 대한 비트 소프트 값을 계산하기 위하여 에 대한 식을 사용하고, 상기 비트 심벌이 상기 노미널 변조 컨스텔레이션의 내부 로우에 존재하는지 또는 외부 로우에 존재하는지의 여부를 나타내는데 사용되는 비트 위치에 대한 비트 소프트 값을 계산하기 위하여 에 대한 식을 사용하도록 구성되는 것을 특징으로 하는 무선 통신 네트워크사용하기 위한이동 단말기. [청구항 81] 제 75 항에 있어서,단일화된 식의 세트는의 형태의 단일화된 식을 포함하며, 여기서 는 64qam과 관련된 여섯 개의 비트 위치에 대응하고, rx 및 ry는 각각 상기 심벌 샘플의 실수 및 허수 성분이며, 2a는 상기 노미널 변조 컨스텔레이션의 간격인 것을 특징으로 하는 무선 통신 네트워크사용하기 위한이동 단말기. [청구항 82] 제 75 항에 있어서,상기 처리 회로는 각각의 심벌 샘플에 대하여, 비트 소프트 값을 상기 노미널 변조 컨스텔레이션 내의 심벌 샘플의 하나 이상의 부가적인 가장 가까운-이웃에 대하여 보상하는 하나 이상의 수정 항을 단일화된 식 각각에 구현하도록 구성되는 것을 특징으로 하는 무선 통신 네트워크사용하기 위한이동 단말기. [청구항 83] 제 75 항에 있어서,상기 처리 회로는 상기 단일화된 식으로부터 계산된 비트 소프트 값을 상기 노미널 변조 컨스텔레이션의 두 개 이상의 지역에 존재하는 컨스텔레이션 포인트의 영향에 대하여 보상하는 하나 이상의 다중-지역적인 보상 항을 사용하여 상기 단일화된 식을 보상하도록 구성되는 것을 특징으로 하는 무선 통신 네트워크사용하기 위한이동 단말기. [청구항 84] 제 75 항에 있어서,상기 처리 회로는 스케일링된 노미널 변조 컨스텔레이션을 얻기 위하여 상기 노미널 변조 컨스텔레이션을 스케일링하도록 구성되는 것을 특징으로 하는 무선 통신 네트워크사용하기 위한이동 단말기. [청구항 85] 제 84 항에 있어서,단일화된 식의 세트는 i-번째 위치에 대한 비트 소프트 값을 계산하기 위하여 다음의 제1 및 제2의 단일화된 식:, 및을 각각 포함하며,여기서 2a는 스케일링된 노미널 변조 컨스텔레이션의 심벌 간격을 포함하며, rx는 심벌 샘플의 실수 성분을 포함하고, ry는 상기 심벌 샘플의 허수 성분을 포함하는 것을 특징으로 하는 무선 통신 네트워크사용하기 위한이동 단말기. [청구항 86] 제 85 항에 있어서,상기 처리 회로는 상기 심벌 샘플의 실수 성분의 부호를 나타내는데 사용되는 비트 위치에 대한 비트 소프트 값을 계산하기 위하여 상기 심벌 샘플의 실수 성분(rx)과 관련된 제1의 단일화된 식을 사용하고, 상기 심벌 샘플의 허수 성분의 부호를 나타내는데 사용되는 비트 위치에 대한 비트 소프트 값을 계산하기 위하여 상기 심벌 샘플의 허수 성분(ry)과 관련된 제1의 단일화된 식을 사용하며, 상기 심벌 샘플이 상기 노미널 변조 컨스텔레이션의 내부 컬럼에 존재하는지 또는 외부 컬럼에 존재하는지의 여부를 나타내는데 사용되는 비트 위치에 대한 비트 소프트 값을 계산하기 위하여 실수 성분(rx)과 관련된 제2의 단일화된 식을 사용하고, 상기 심벌 샘플이 상기 노미널 변조 컨스텔레이션의 내부 로우에 존재하는지 또는 외부 로우에 존재하는지의 여부를 나타내는데 사용되는 비트 위치에 대한 비트 소프트 값을 계산하기 위하여 허수 성분(ry)과 관련된 제2의 단일화된 식을 사용하도록 구성되는 것을 특징으로 하는 무선 통신 네트워크사용하기 위한이동 단말기. [청구항 87] 제 85 항에 있어서,상기 처리 회로는 상기 노미널 변조 컨스텔레이션을 위해 채택되는 특정 그레이-코드 맵핑을 토대로 i-번째 비트 위치에 대한 비트 소프트 값을 계산하기 위하여 두 개의 단일화된 식 중 특정한 하나, 및 rx 및 ry 성분 중 하나를 선택하도록 구성되는 것을 특징으로 하는 무선 통신 네트워크사용하기 위한이동 단말기. [청구항 88] 제 75 항에 있어서,상기 처리 회로는 스케일링된 노미널 변조 컨스텔레이션을 얻기 위하여 상기 노미널 변조 컨스텔레이션을 스케일링하도록 구성되며, 64 qam에 대하여, 단일화된 식의 세트는 i-번째 위치를 계산하기 위하여 다음의 세 개의 식:,, 및 을 포함하며,여기서 2a는 스케일링된 노미널 변조 컨스텔레이션의 간격을 포함하며, rx는 심벌 샘플의 실수 성분을 포함하고, ry는 상기 심벌 샘플의 허수 성분을 포함하는 것을 특징으로 하는 무선 통신 네트워크사용하기 위한이동 단말기. [청구항 89] 제 88 항에 있어서,상기 처리 회로는 상기 노미널 변조 컨스텔레이션을 위해 채택되는 특정 그레이-코드 맵핑을 토대로 i-번째 비트 위치에 대한 비트 소프트 값을 계산하기 위하여 세 개의 단일화된 식 중 특정한 하나, 및 rx 및 ry 성분 중 하나를 선택하도록 구성되는 것을 특징으로 하는 무선 통신 네트워크사용하기 위한이동 단말기.