얼라인 및 본딩 기능을 갖는 일체형 패턴 전극 본딩장치 document_id 1020070028569

[청구항 2] 제 1항에 있어서,상기 얼라인 카메라에 의해 상기 제 1 및 제 2 얼라인 마크 간의 얼라인 상태가 확인되는 즉시, 상기 자외선 조사장치에서 자외선이 방출되어 상기 패턴 전극부와 상기 전극탭 간의 본딩이 이루어지는 얼라인 및 본딩 기능갖는일체형 패턴 전극 본딩장치. [청구항 3] 제 1항에 있어서,상기 자외선 조사장치는 상기 자외선 발생장치로부터 공급되는 자외선을 차단하기 위한 셔터를 추가로 구비하여, 상기 자외선 발생장치가 온 상태를 유지하는 경우에도 상기 얼라인 카메라가 상기 제 1 및 제 2 얼라인 마크 간의 얼라인 상태를 확인할 수 있는 얼라인 및 본딩 기능갖는일체형 패턴 전극 본딩장치. [청구항 4] 제 1항 내지 제 3항 중 어느 한 항에 있어서,상기 자외선 조사장치가 상기 전면 글래스 또는 후면 글래스의 하부면을 지지하도록 상기 자외선 조사장치를 상승시키거나 또는 상기 전면 글래스 또는 후면 글래스를 하강시키기 위한 액추에이터를 추가로 포함하는 얼라인 및 본딩 기능갖는일체형 패턴 전극 본딩장치. [청구항 5] 제 1항 내지 제 3항 중 어느 한 항에 있어서,상기 자외선 조사장치는 리플렉터형(reflector-type) 자외선 조사장치, 광화이버형(optical fiber-type) 자외선 조사장치, 및 상기 리플렉터형 자외선 조사장치 또는 광화이버형 자외선 조사장치와 소정의 광학계(optical system)를 조합한 혼합형 자외선 조사장치 중 어느 하나인 얼라인 및 본딩 기능갖는일체형 패턴 전극 본딩장치. [청구항 6] 제 4항에 있어서,상기 자외선 조사장치는 리플렉터형(reflector-type) 자외선 조사장치, 광화이버형(optical fiber-type) 자외선 조사장치, 및 상기 리플렉터형 자외선 조사장치 또는 광화이버형 자외선 조사장치와 소정의 광학계(optical system)를 조합한 혼합형 자외선 조사장치 중 어느 하나인 얼라인 및 본딩 기능갖는일체형 패턴 전극 본딩장치. [청구항 7] 제 1항 또는 제 2항에 있어서,상기 자외선 발생장치와 상기 얼라인 카메라가 서로 바뀐 위치에 위치되는 얼라인 및 본딩 기능갖는일체형 패턴 전극 본딩장치. [청구항 8] 제 3항에 있어서,상기 자외선 발생장치와 상기 얼라인 카메라는 서로 바뀐 위치에 위치되고, 상기 셔터는 상기 자외선 발생장치로부터 공급되는 자외선을 차단하기 위해 상기 홀을 개폐시킬 수 있는 위치에 위치되는 얼라인 및 본딩 기능갖는일체형 패턴 전극 본딩장치. [청구항 10] 제 9항에 있어서,상기 제 1 얼라인 카메라에 의해 상기 제 1 및 제 2 얼라인 마크 간의 얼라인 상태가 확인되고 또한 상기 제 2 얼라인 카메라에 의해 상기 제 3 및 제 4 얼라인 마크 간의 얼라인 상태가 확인되는 즉시, 상기 제 1 자외선 조사장치 및 상기 제 2 자외선 조사장치에서 자외선이 방출되어 상기 제 1 패턴 전극부와 상기 제 1 전극탭 간의 본딩 및 상기 제 2 패턴 전극부와 상기 제 2 전극탭 간의 본딩이 동시에 이루어지는 얼라인 및 본딩 기능갖는듀얼 타입의 일체형 패턴 전극 본딩장치. [청구항 11] 제 9항에 있어서,상기 제 1 자외선 조사장치는 상기 제 1 자외선 발생장치로부터 공급되는 자외선을 차단하기 위한 제 1 셔터를 추가로 구비하고, 상기 제 2 자외선 조사장치는 상기 제 2 자외선 발생장치로부터 공급되는 자외선을 차단하기 위한 제 2 셔터를 추가로 구비하여, 상기 제 1 자외선 발생장치 및 상기 제 2 자외선 발생장치가 각각 온 상태를 유지하는 경우에도 상기 제 1 얼라인 카메라가 상기 제 1 및 제 2 얼라인 마크 간의 얼라인 상태를 확인하고 상기 제 2 얼라인 카메라가 상기 제 3 및 제 4 얼라인 마크 간의 얼라인 상태를 확인할 수 있는 얼라인 및 본딩 기능갖는듀얼 타입의 일체형 패턴 전극 본딩장치. [청구항 12] 제 9항 내지 제 11항 중 어느 한 항에 있어서,상기 제 1 자외선 발생장치 및 상기 제 2 자외선 발생장치가 하나의 일체형 자외선 발생장치인 얼라인 및 본딩 기능갖는듀얼 타입의 일체형 패턴 전극 본딩장치. [청구항 13] 제 9항 내지 제 11항 중 어느 한 항에 있어서,상기 제 1 자외선 조사장치 및 상기 제 2 자외선 조사장치가 각각 상기 전면 글래스 또는 후면 글래스의 하부면을 지지하도록 상기 제 1 자외선 조사장치 및 상기 제 2 자외선 조사장치를 상승시키거나 또는 상기 전면 글래스 또는 후면 글래스를 하강시키기 위한 개별 액추에이터 또는 하나의 액추에이터를 추가로 포함하는 얼라인 및 본딩 기능갖는일체형 패턴 전극 본딩장치. [청구항 14] 제 12항에 있어서,상기 제 1 자외선 조사장치 및 상기 제 2 자외선 조사장치가 각각 상기 전면 글래스 또는 후면 글래스의 하부면을 지지하도록 상기 제 1 자외선 조사장치 및 상기 제 2 자외선 조사장치를 상승시키거나 또는 상기 전면 글래스 또는 후면 글래스를 하강시키기 위한 개별 액추에이터 또는 하나의 액추에이터를 추가로 포함하는 얼라인 및 본딩 기능갖는일체형 패턴 전극 본딩장치. [청구항 15] 제 9항 내지 제 11항 중 어느 한 항에 있어서,상기 제 1 자외선 조사장치 및 상기 제 2 자외선 조사장치는 각각 리플렉터형(reflector-type) 자외선 조사장치, 광화이버형(optical fiber-type) 자외선 조사장치, 및 상기 리플렉터형 자외선 조사장치 또는 광화이버형 자외선 조사장치와 소정의 광학계(optical system)를 조합한 혼합형 자외선 조사장치 중 어느 하나인 얼라인 및 본딩 기능갖는듀얼 타입의 일체형 패턴 전극 본딩장치. [청구항 16] 제 12항에 있어서,상기 자외선 조사장치는 리플렉터형(reflector-type) 자외선 조사장치, 광화이버형(optical fiber-type) 자외선 조사장치, 및 상기 리플렉터형 자외선 조사장치 또는 광화이버형 자외선 조사장치와 소정의 광학계(optical system)를 조합한 혼합형 자외선 조사장치 중 어느 하나인 얼라인 및 본딩 기능갖는듀얼 타입의 일체형 패턴 전극 본딩장치. [청구항 17] 제 9항 또는 제 10항에 있어서,상기 제 1 자외선 발생장치와 상기 제 1 얼라인 카메라 및 상기 제 2 자외선 발생장치와 상기 제 2 얼라인 카메라가 각각 서로 바뀐 위치에 위치되는 얼라인 및 본딩 기능갖는일체형 패턴 전극 본딩장치. [청구항 18] 제 11항에 있어서,상기 제 1 자외선 발생장치와 상기 제 1 얼라인 카메라는 서로 바뀐 위치에 위치되고, 상기 제 1 셔터는 상기 제 1 자외선 발생장치로부터 공급되는 자외선을 차단하기 위해 상기 제 1 홀을 개폐시킬 수 있는 위치에 위치되며,상기 제 2 자외선 발생장치와 상기 제 2 얼라인 카메라는 서로 바뀐 위치에 위치되고, 상기 제 2 셔터는 상기 제 2 자외선 발생장치로부터 공급되는 자외선을 차단하기 위해 상기 제 2 홀을 개폐시킬 수 있는 위치에 위치되는얼라인 및 본딩 기능갖는일체형 패턴 전극 본딩장치. [청구항 19] 제 17항에 있어서,상기 제 1 자외선 발생장치 및 상기 제 2 자외선 발생장치가 하나의 일체형 자외선 발생장치인 얼라인 및 본딩 기능갖는듀얼 타입의 일체형 패턴 전극 본딩장치. [청구항 20] 제 18항에 있어서,상기 제 1 자외선 발생장치 및 상기 제 2 자외선 발생장치가 하나의 일체형 자외선 발생장치인 얼라인 및 본딩 기능갖는듀얼 타입의 일체형 패턴 전극 본딩장치. [청구항 22] 제 21항에 있어서,상기 제 1 얼라인 카메라에 의해 상기 제 1 및 제 2 얼라인 마크 간의 얼라인 상태가 확인되는 즉시, 상기 제 1 자외선 조사장치에서 자외선이 방출되어 상기 제 1 패턴 전극부와 상기 제 1 전극탭 간의 본딩이 이루어지고, 그 후 상기 제 2 얼라인 카메라에 의해 상기 제 3 및 제 4 얼라인 마크 간의 얼라인 상태가 확인되는 즉시, 상기 제 2 자외선 조사장치에서 자외선이 방출되어 상기 제 2 패턴 전극부와 상기 제 2 전극탭 간의 본딩이 이루어지는 얼라인 및 본딩 기능갖는듀얼 타입의 일체형 패턴 전극 본딩장치. [청구항 23] 제 21항에 있어서,상기 제 1 자외선 조사장치는 상기 제 1 자외선 발생장치로부터 공급되는 자외선을 차단하기 위한 제 1 셔터를 추가로 구비하고, 상기 제 2 자외선 조사장치는 상기 제 2 자외선 발생장치로부터 공급되는 자외선을 차단하기 위한 제 2 셔터를 추가로 구비하여, 상기 제 1 자외선 발생장치 및 상기 제 2 자외선 발생장치가 각각 온 상태를 유지하는 경우에도 상기 제 1 얼라인 카메라가 상기 제 1 및 제 2 얼라인 마크 간의 얼라인 상태를 확인하고 상기 제 2 얼라인 카메라가 상기 제 3 및 제 4 얼라인 마크 간의 얼라인 상태를 확인할 수 있는 얼라인 및 본딩 기능갖는듀얼 타입의 일체형 패턴 전극 본딩장치. [청구항 24] 제 21항 내지 제 23항 중 어느 한 항에 있어서,상기 제 1 자외선 발생장치 및 상기 제 2 자외선 발생장치가 하나의 일체형 자외선 발생장치인 얼라인 및 본딩 기능갖는듀얼 타입의 일체형 패턴 전극 본딩장치. [청구항 25] 제 21항 내지 제 23항 중 어느 한 항에 있어서,상기 제 1 자외선 조사장치 및 상기 제 2 자외선 조사장치가 각각 상기 전면 글래스 또는 후면 글래스의 하부면을 지지하도록 상기 제 1 자외선 조사장치 및 상기 제 2 자외선 조사장치를 상승시키거나 또는 상기 전면 글래스 또는 후면 글래스를 하강시키기 위한 개별 액추에이터 또는 하나의 액추에이터를 추가로 포함하는 얼라인 및 본딩 기능갖는일체형 패턴 전극 본딩장치. [청구항 26] 제 24항에 있어서,상기 제 1 자외선 조사장치 및 상기 제 2 자외선 조사장치가 각각 상기 전면 글래스 또는 후면 글래스의 하부면을 지지하도록 상기 제 1 자외선 조사장치 및 상기 제 2 자외선 조사장치를 상승시키거나 또는 상기 전면 글래스 또는 후면 글래스를 하강시키기 위한 개별 액추에이터 또는 하나의 액추에이터를 추가로 포함하는 얼라인 및 본딩 기능갖는일체형 패턴 전극 본딩장치. [청구항 27] 제 21항 내지 제 23항 중 어느 한 항에 있어서,상기 제 1 자외선 조사장치 및 상기 제 2 자외선 조사장치는 각각 리플렉터형(reflector-type) 자외선 조사장치, 광화이버형(optical fiber-type) 자외선 조사장치, 및 상기 리플렉터형 자외선 조사장치 또는 광화이버형 자외선 조사장치와 소정의 광학계(optical system)를 조합한 혼합형 자외선 조사장치 중 어느 하나인 얼라인 및 본딩 기능갖는듀얼 타입의 일체형 패턴 전극 본딩장치. [청구항 28] 제 24항에 있어서,상기 자외선 조사장치는 리플렉터형(reflector-type) 자외선 조사장치, 광화이버형(optical fiber-type) 자외선 조사장치, 및 상기 리플렉터형 자외선 조사장치 또는 광화이버형 자외선 조사장치와 소정의 광학계(optical system)를 조합한 혼합형 자외선 조사장치 중 어느 하나인 얼라인 및 본딩 기능갖는듀얼 타입의 일체형 패턴 전극 본딩장치. [청구항 29] 제 21항 또는 제 22항에 있어서,상기 제 1 자외선 발생장치와 상기 제 1 얼라인 카메라 및 상기 제 2 자외선 발생장치와 상기 제 2 얼라인 카메라가 각각 서로 바뀐 위치에 위치되는 얼라인 및 본딩 기능갖는일체형 패턴 전극 본딩장치. [청구항 30] 제 23항에 있어서,상기 제 1 자외선 발생장치와 상기 제 1 얼라인 카메라는 서로 바뀐 위치에 위치되고, 상기 제 1 셔터는 상기 제 1 자외선 발생장치로부터 공급되는 자외선을 차단하기 위해 상기 제 1 홀을 개폐시킬 수 있는 위치에 위치되며,상기 제 2 자외선 발생장치와 상기 제 2 얼라인 카메라는 서로 바뀐 위치에 위치되고, 상기 제 2 셔터는 상기 제 2 자외선 발생장치로부터 공급되는 자외선을 차단하기 위해 상기 제 2 홀을 개폐시킬 수 있는 위치에 위치되는얼라인 및 본딩 기능갖는일체형 패턴 전극 본딩장치. [청구항 31] 제 29항에 있어서,상기 제 1 자외선 발생장치 및 상기 제 2 자외선 발생장치가 하나의 일체형 자외선 발생장치인 얼라인 및 본딩 기능갖는듀얼 타입의 일체형 패턴 전극 본딩장치. [청구항 32] 제 30항에 있어서,상기 제 1 자외선 발생장치 및 상기 제 2 자외선 발생장치가 하나의 일체형 자외선 발생장치인 얼라인 및 본딩 기능갖는듀얼 타입의 일체형 패턴 전극 본딩장치.