데이터 전송 회로, 고체 촬상 소자, 및 카메라 시스템 document_id 1020080036089

[청구항 2] 제1항에 있어서,상기 전송선은,상기 유지 회로의 병렬 배치 방향으로 배선되고, 당해 방향으로 배치된 상기 데이터 검출 회로에 접속되고,상기 복수의 유지 회로의 배치 영역의 양단 측에 배치된 2개의 테스트 패턴 발생 회로 중, 일단측의 테스트 패턴 발생 회로가 상기 데이터 검출 회로의 배치 위치로부터 가장 먼 위치에 배치되고, 타단측의 테스트 패턴 발생 회로가 상기 데이터 검출 회로의 배치 위치로부터 가장 가까운 위치배치되어 있는,데이터 전송 회로. [청구항 3] 제1항에 있어서,상기 전송선은,또한, 상기 유지 회로의 병렬 배치 방향에 직교하는 방향으로 배선되고, 직교하는 방향으로 배선된 당해 전송선의 일단측이 당해 직교하는 방향으로 배치된 상기 데이터 검출 회로접속되어 있는,데이터 전송 회로. [청구항 4] 제3항에 있어서,상기 데이터 검출 회로를 복수 포함하고,상기 유지 회로를 복수 개씩의 소그룹으로 하고, 당해 소그룹을 복수로 대그룹을 그룹화하고, 각 소그룹 및 대그룹마다 데이터 검출 회로배치되어 있는,데이터 전송 회로. [청구항 5] 제4항에 있어서,상기 유지 회로를 복수 개씩의 그룹을 적어도 2개 형성하고, 당해 2개의 그룹인 일측 그룹 및 타측 그룹에 대해 상기 전송선이 비트 단위로 계층화되고, 또한 2개의 그룹을 사이에 두고 양측 각각에, 상기 테스트 패턴 발생 회로, 테스트 열 주사 회로가 배치되고,일측 그룹에 관해서는, 일측의 테스트 패턴 발생 회로 및 테스트 열 주사 회로가 사용되고, 타측 그룹에 관해서는, 타측의 테스트 패턴 발생 회로 및 테스트 열 주사 회로사용되는,데이터 전송 회로. [청구항 6] 제4항에 있어서,상기 유지 회로를 복수 개씩의 그룹을 복수 형성하고, 각 그룹에 대해 상기 전송선이 비트 단위로 계층화되고, 또한 각 그룹을 사이에 두고 각 그룹의 양측에 상기 테스트 패턴 발생 회로, 테스트 열 주사 회로가 각각 배치되고, 각 그룹에 관해서는, 양측의 테스트 패턴 발생 회로 및 테스트 열 주사 회로사용되는,데이터 전송 회로. [청구항 7] 제1항 내지 제6항 중 어느 한 항에 있어서,상기 테스트 패턴 발생 회로는,복수의 테스트 패턴을 출력가능한 데이터 유지부포함하는,데이터 전송 회로. [청구항 9] 제8항에 있어서,상기 전송선은,상기 유지 회로의 병렬 배치 방향으로 배선되고, 당해 방향으로 배치된 상기 데이터 검출 회로에 접속되고,상기 복수의 유지 회로의 배치 영역의 양단 측에 배치된 2개의 테스트 패턴 발생 회로 중, 일단측의 테스트 패턴 발생 회로가 상기 데이터 검출 회로의 배치 위치로부터 가장 먼 위치에 배치되고, 타단측의 테스트 패턴 발생 회로가 상기 데이터 검출 회로의 배치 위치로부터 가장 가까운 위치배치되어 있는,고체 촬상 소자. [청구항 10] 제8항에 있어서,상기 전송선은,또한, 상기 유지 회로의 병렬 배치 방향에 직교하는 방향으로 배선되고, 직교하는 방향으로 배선된 당해 전송선의 일단측이 당해 직교하는 방향에 배치된 상기 데이터 검출 회로접속되어 있는,고체 촬상 소자. [청구항 11] 제10항에 있어서,상기 데이터 검출 회로를 복수 포함하고,상기 유지 회로를 복수 개씩의 소그룹으로 하여, 당해 소그룹을 복수로 대그룹을 그룹화하고, 각 소그룹 및 대그룹마다 데이터 검출 회로배치되어 있는,고체 촬상 소자. [청구항 12] 제11항에 있어서,상기 유지 회로를 복수 개씩의 그룹을 적어도 2개 형성하고, 당해 2개의 그룹인 일측 그룹 및 타측 그룹에 대해 상기 전송선이 비트 단위로 계층화되고, 또한 2개의 그룹을 사이에 두고 양측의 각각에, 상기 테스트 패턴 발생 회로, 테스트 열 주사 회로가 배치되고,일측 그룹에 관해서는, 일측의 테스트 패턴 발생 회로 및 테스트 열 주사 회로가 사용되고, 타측 그룹에 관해서는 타측의 테스트 패턴 발생 회로 및 테스트 열 주사 회로사용되는,고체 촬상 소자. [청구항 13] 제11항에 있어서,상기 유지 회로를 복수 개씩의 그룹을 복수 형성하고, 각 그룹에 대해 상기 전송선이 비트 단위로 계층화되고, 또한 각 그룹을 사이에 두고 각 그룹의 양측에 상기 테스트 패턴 발생 회로, 테스트 열 주사 회로가 각각 배치되고,각 그룹에 관해서는, 양측의 테스트 패턴 발생 회로 및 테스트 열 주사 회로사용되는,고체 촬상 소자.