가공데이터 · 특허 지식베이스

촬상 장치 document_id 1020080052684

출원번호
1020080052684
분류
전기(H섹션)
문맥 (context)
[청구항 2] 제1항에 있어서,상기 역광 판정부는 상기 촬상 소자에 포함되는 화소들 중 일부를 주목 영역으로 설정하고, 상기 주목 영역의 화소들의 휘도 레벨과 상기 주목 영역의 이외의 배경 영역의 화소들의 휘도 레벨을 비교하여 역광 상태판정하는,촬상 장치. [청구항 3] 제2항에 있어서,상기 역광 판정부는, 상기 주목 영역의 화소들의 휘도 레벨 값들을 평균한중앙 측광값을 산출하고, 상기 배경 영역의 화소들의 휘도 레벨 값들을 평균한 배경 측광값을 산출한 후, 상기 중앙 측광값과 상기 배경 측광값을 비교하여 역광 상태판정하는,촬상 장치. [청구항 4] 제3항에 있어서,상기 역광 판정부는, 상기 촬상 소자의 화소들의 반사광 강도를 독출하기 위해 순차적으로 발생되는 복수 개의 동기 신호들에 대응하는 복수 개의 상기 중앙 측광값들을 평균하여 중앙 평균 측광값을 산출하고, 배경 측광값들을 평균하여 배경 평균 측광값을 산출한 후, 상기 중앙 평균 측광값과 상기 배경 평균 측광값을 비교하여 역광 상태판정하는,촬상 장치. [청구항 5] 제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서,상기 주목 영역은 상기 측광부의 검출 결과 상기 피사체의 어두운 부분에 대응하는 영역설정되는,촬상 장치. [청구항 6] 제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서,상기 발광 제어부는 상기 발광부의 광량을 제어할 수 있고, 상기 측광부에 의해 검출되는 휘도 레벨이 소정값에 도달하거나 상기 발광부에 의해 조사 가능한 최대 광량에 도달할 때까지, 상기 촬상 소자의 화소들의 반사광 강도를 독출하기 위한 동기 신호에 동기하여 상기 발광 제어부가 단계적으로 상기 발광부에 의해 조사되는 광량증가시키는,촬상 장치. [청구항 7] 제1항에 있어서,상기 촬상 장치는, 상기 발광부가 상기 피사체가 제1 광량으로 조사되었을 때 검출되는 제1 휘도 레벨과, 상기 제1 광량보다 작은 제2 광량으로 조사되었을 때 검출되는 제2 휘도 레벨과, 상기 제1 광량보다 큰 제3 광량으로 조사되었을 때 검출되는 제3 휘도 레벨을 비교하는 휘도 비교부를 더 구비하고,상기 발광 제어부는 상기 휘도 비교부에 의한 비교 결과가, 제3 휘도 레벨≤제1 휘도 레벨 또는 제1 휘도 레벨≤제2 휘도 레벨인 경우에, 상기 발광부에 의한 조명을 정지시키거나 광량저감시키는,촬상 장치. [청구항 8] 제7항에 있어서,상기 휘도 비교부는 소정 시간차 이내에 검출된 상기 제1 휘도 레벨 및 상기 제2 휘도 레벨 또는 소정 시간차 이내에 검출된 상기 제1 휘도 레벨 및 상기 제3 휘도 레벨비교하는,촬상 장치. [청구항 9] 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서,상기 발광 제어부는 상기 촬상 소자의 화소들의 반사광 강도를 독출하기 위한 순차적으로 발생하는 동기 신호들의 각각에 동기하여 상기 발광부제어하는,촬상 장치. [청구항 10] 제9항에 있어서,상기 동기 신호들에 대응하여 상기 발광부가 발광하는 중에 최대의 광을 발광했을 때의 상기 휘도 레벨과 최소의 광을 발광했을 때의 상기 휘도 레벨을 비교하여, 상기 발광부를 발광시켜 역광 상태를 보정할 수 있는지를 판정하는 조명 판정부더 구비하는,촬상 장치.
지시문 (instruction)
주어진 본문을 읽고 관련 정보를 분석하여 질문에 답하라.
질문 (question)
촬상 장치의 역광 판정부가 역광 상태를 판정하기 위해 수행하는 구체적인 비교 절차를 중앙 측광값과 배경 측광값의 산출 과정을 포함하여 설명하는가?
추론 과정 (compact_reasoning)
  1. 1과제 해석task_interpretation

    역광 판정부가 중앙 측광값과 배경 측광값을 산출하고 비교하여 역광 상태를 판정하는 구체적인 절차를 추출해야 한다.

  2. 2정보 추출information_extraction

    청구항 3에서 주목 영역의 휘도 레벨 평균인 중앙 측광값과 배경 영역의 휘도 레벨 평균인 배경 측광값의 산출 및 비교 과정을 확인한다.

    • 상기 주목 영역의 화소들의 휘도 레벨 값들을 평균한중앙 측광값을 산출하고, 상기 배경 영역의 화소들의 휘도 레벨 값들을 평균한 배경 측광값을 산출한 후, 상기 중앙 측광값과 상기 배경 측광값을 비교하여 역광 상태판정하는
  3. 3근거 선택evidence_selection

    중앙 측광값과 배경 측광값의 산출 방식 및 비교 절차가 명시된 청구항 3의 구절을 선택한다.

    • 상기 주목 영역의 화소들의 휘도 레벨 값들을 평균한중앙 측광값을 산출하고, 상기 배경 영역의 화소들의 휘도 레벨 값들을 평균한 배경 측광값을 산출한 후, 상기 중앙 측광값과 상기 배경 측광값을 비교하여 역광 상태판정하는
  4. 4논리 통합logical_integration

    주목 영역의 화소 휘도 평균을 통해 중앙 측광값을 구하고, 배경 영역의 화소 휘도 평균을 통해 배경 측광값을 구한 뒤, 이 두 값을 비교하는 순서로 절차를 통합한다.

    • 상기 주목 영역의 화소들의 휘도 레벨 값들을 평균한중앙 측광값을 산출하고, 상기 배경 영역의 화소들의 휘도 레벨 값들을 평균한 배경 측광값을 산출한 후, 상기 중앙 측광값과 상기 배경 측광값을 비교하여 역광 상태판정하는
  5. 5결론 도출conclusion_formulation

    질문에서 요구한 산출 과정과 비교 절차를 포함하여 답변을 구성한다.

    • 상기 주목 영역의 화소들의 휘도 레벨 값들을 평균한중앙 측광값을 산출하고, 상기 배경 영역의 화소들의 휘도 레벨 값들을 평균한 배경 측광값을 산출한 후, 상기 중앙 측광값과 상기 배경 측광값을 비교하여 역광 상태판정하는
  6. 6답변 생성answer_generation

    추출된 정보를 바탕으로 역광 판정의 구체적 절차를 서술형으로 작성한다.

    • 상기 주목 영역의 화소들의 휘도 레벨 값들을 평균한중앙 측광값을 산출하고, 상기 배경 영역의 화소들의 휘도 레벨 값들을 평균한 배경 측광값을 산출한 후, 상기 중앙 측광값과 상기 배경 측광값을 비교하여 역광 상태판정하는
최종 답변 (final_answer)
역광 판정부는 먼저 상기 주목 영역에 포함된 화소들의 휘도 레벨 값들을 평균하여 중앙 측광값을 산출한다. 이와 동시에 상기 배경 영역에 포함된 화소들의 휘도 레벨 값들을 평균하여 배경 측광값을 산출한다. 이후, 산출된 중앙 측광값과 배경 측광값을 서로 비교함으로써 역광 상태 여부를 판정한다.
핵심 해석 (core_interpretation)
본 발명은 주목 영역과 배경 영역의 화소 휘도 레벨 평균값(중앙 측광값 및 배경 측광값)을 비교함으로써 역광 상태를 판정하는 기술적 수단을 제공한다.