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상변화 기억 소자 및 그 제조방법 document_id 1020090011330

출원번호
1020090011330
분류
전기(H섹션)
문맥 (context)
[청구항 1] 상변화막; 상변화막과 콘택되는 상부전극 상기 상부전극 상부에 형성되며, 상기 상변화막의 아웃개싱 을 억제하는 방지막; 및 상기 방지막 상부에 형성되는 상부전극 콘택 을 포함하는 것을 특징으로 하는 상변화 기억 소자 [청구항 2] 제 1 항에 있어서,상기 상부전극nan은티타늄막과티타늄질화막의적층막포함하는것을특징으로 하는상변화 기억 소자. [청구항 3] 제 1 항에 있어서,상기 방지막은티타늄막과티타늄질화막의적층막포함하는것을특징으로 하는상변화 기억 소자. [청구항 4] 제 1 항에 있어서,상기 방지막은텅스텐막포함하는것을특징으로 하는상변화 기억 소자. [청구항 5] 제 1 항에 있어서,상기 상부전극 콘택은 티타늄막과 티타늄질화막의 적층막으로 구성된베리어막포함하는것을특징으로 하는상변화 기억 소자. [청구항 6] 제 1 항에 있어서,상기 상부전극 콘택nan은텅스텐막포함하는것을특징으로 하는상변화 기억 소자.
지시문 (instruction)
주어진 본문을 읽고 관련 정보를 분석하여 질문에 답하라.
질문 (question)
상변화 기억 소자에서 상부전극 상부에 형성되어 상변화막의 아웃개싱을 억제하는 구성 요소는 무엇인가?
추론 과정 (compact_reasoning)
  1. 1과제 해석task_interpretation

    상부전극 상부에 위치하며 상변화막의 아웃개싱을 억제하는 구성 요소를 찾는 것이다.

  2. 2정보 추출information_extraction

    청구항 1에서 상부전극 상부에 형성되고 아웃개싱을 억제하는 구성 요소에 대한 정보를 추출한다.

    • 상기 상부전극 상부에 형성되며, 상기 상변화막의 아웃개싱 을 억제하는 방지막
  3. 3근거 선택evidence_selection

    질문의 조건(상부전극 상부 형성, 아웃개싱 억제)과 일치하는 '방지막' 구절을 선택한다.

    • 상기 상부전극 상부에 형성되며, 상기 상변화막의 아웃개싱 을 억제하는 방지막
  4. 4논리 통합logical_integration

    추출된 구성 요소인 '방지막'이 질문에서 요구하는 기능과 위치 조건을 모두 충족함을 확인한다.

    • 상기 상부전극 상부에 형성되며, 상기 상변화막의 아웃개싱 을 억제하는 방지막
  5. 5결론 도출conclusion_formulation

    질문에 대한 직접적인 답변으로 '방지막'을 도출한다.

    • 상기 상부전극 상부에 형성되며, 상기 상변화막의 아웃개싱 을 억제하는 방지막
  6. 6답변 생성answer_generation

    추출된 답변인 '방지막'을 최종 답변으로 생성한다.

    • 상기 상부전극 상부에 형성되며, 상기 상변화막의 아웃개싱 을 억제하는 방지막
최종 답변 (final_answer)
방지막
핵심 해석 (core_interpretation)
상변화 기억 소자에서 상부전극 상부에 방지막을 형성함으로써 상변화막으로부터 발생하는 아웃개싱 현상을 방지하는 기술에 관한 것이다.