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프로브 기판 및 이를 구비하는 프로브 카드 document_id 1020090039468

출원번호
1020090039468
분류
전기(H섹션)
문맥 (context)
[청구항 2] 제 1 항에 있어서,상기 콘택 패드로부터 연장되어 상기 콘택홈 하부면의 일부영역에 배치된 보조 콘택 패드더 포함하는프로브 기판. [청구항 3] 제 1 항에 있어서,상기 세라믹 적층체는 저온 동시 소성 세라믹(ltcc) 적층체 또는 고온 소성 세라믹적층체인프로브 기판. [청구항 4] 제 1 항에 있어서,상기 콘택 패드는 상기 패드의 상면과 전기적접촉하는프로브 기판. [청구항 5] 제 1 항에 있어서,상기 콘택 패드는 상기 패드의 측면과 전기적접촉하는프로브 기판. [청구항 7] 제 6 항에 있어서,상기 포고핀은 상기 콘택 패드를 향해 굴곡진 형태갖는프로브 카드. [청구항 8] 제 6 항에 있어서,상기 콘택 패드로부터 연장되어 상기 콘택홈 하부면의 일부영역에 배치된 보조 콘택패드더 포함하는프로브 카드. [청구항 9] 제 6 항에 있어서,상기 세라믹 적층체는 저온 동시 소성 세라믹(ltcc) 적층체 또는 고온 소성 세라믹적층체인프로브 카드. [청구항 10] 제 6 항에 있어서,상기 콘택 패드는 상기 패드의 상면과 전기적접촉하는프로브 카드. [청구항 11] 제 6 항에 있어서,상기 콘택 패드는 상기 패드의 측면과 전기적접촉하는프로브 카드.
지시문 (instruction)
주어진 본문을 읽고 관련 정보를 분석하여 질문에 답하라.
질문 (question)
프로브 카드에서 보조 콘택 패드는 어느 위치에 배치되는가?
추론 과정 (compact_reasoning)
  1. 1과제 해석task_interpretation

    질문은 프로브 카드 내 보조 콘택 패드의 구체적인 배치 위치를 묻는다.

  2. 2정보 추출information_extraction

    청구항 8에서 보조 콘택 패드의 위치와 연결 관계에 대한 정보를 추출한다.

    • 상기 콘택 패드로부터 연장되어 상기 콘택홈 하부면의 일부영역에 배치된 보조 콘택패드
  3. 3근거 선택evidence_selection

    보조 콘택 패드의 위치를 직접적으로 명시한 청구항 8의 구절을 선택한다.

    • 상기 콘택 패드로부터 연장되어 상기 콘택홈 하부면의 일부영역에 배치된 보조 콘택패드
  4. 4논리 통합logical_integration

    보조 콘택 패드는 콘택 패드로부터 연장되어 콘택홈 하부면의 일부 영역에 위치함을 확인한다.

    • 상기 콘택 패드로부터 연장되어 상기 콘택홈 하부면의 일부영역에 배치된 보조 콘택패드
  5. 5결론 도출conclusion_formulation

    추출된 정보를 바탕으로 보조 콘택 패드의 위치를 정리한다.

    • 상기 콘택 패드로부터 연장되어 상기 콘택홈 하부면의 일부영역에 배치된 보조 콘택패드
  6. 6답변 생성answer_generation

    질문에 대한 답변을 추출된 문구 그대로 생성한다.

    • 상기 콘택 패드로부터 연장되어 상기 콘택홈 하부면의 일부영역에 배치된 보조 콘택패드
최종 답변 (final_answer)
상기 콘택 패드로부터 연장되어 상기 콘택홈 하부면의 일부영역에 배치된 보조 콘택패드
핵심 해석 (core_interpretation)
프로브 카드의 보조 콘택 패드는 기존 콘택 패드에서 연장되어 콘택홈 하부면의 특정 영역에 배치되는 구조를 가진다.