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스페이서층을 가지는 발광 다이오드 document_id 1020100113666

출원번호
1020100113666
분류
전기(H섹션)
문맥 (context)
[청구항 2] 청구항 1에 있어서,상기 스페이서층은 in을 포함하되, 상기 in의 함량은 상기 활성영역의 장벽층에서의 in 함량보다는 낮고 상기 우물층에서의 in 함량보다는 높은 것특징으로 하는발광 다이오드. [청구항 3] 청구항 1에 있어서,상기 활성영역은 ingan층을 포함하는다중양자우물구조인것을특징으로 하는발광 다이오드. [청구항 4] 청구항 1에 있어서,상기 스페이서층nan은포함하는것을특징으로 하는발광 다이오드. [청구항 5] 청구항 4에 있어서,상기 스페이서층은 inxga11-xn(0≤x003c#1)과 inyga1-yn(0≤y003c#1)이교대적층된것을특징으로 하는발광 다이오드. [청구항 6] 청구항 1에 있어서,상기 스페이서층은 서로 교대로 적층된초격자층포함하는것을특징으로 하는발광 다이오드. [청구항 7] 청구항 1에 있어서,상기 스페이서층은 복수의 층으로 이루어지되, 상기 활성영역과 인접하는 적어도 하나의 층에는 n형 불순물이 도핑되어 있고, 그 나머지 층들은 n형 불순물이 언도핑되어 있되, 상기 n형 불순물의 도핑 농도는 상기 n형 콘택층의 불순물 도핑 농도보다 상대적으로 높은 것특징으로 하는발광 다이오드. [청구항 8] 청구항 1에 있어서,상기 스페이서층과 상기n형 콘택층사이에 형성된 중간층을 더 포함하되,상기 중간층은 상기 n형 콘택층의 불순물 도핑 농도보다 상대적으로 높고, 상기 스페이서층에서의 상기 n형 불순물 농도보다는 상대적으로 낮게 n형 불순물이 도핑된층포함하는것을특징으로 하는발광 다이오드. [청구항 9] 청구항 8에 있어서,상기 중간층nan은포함하는것을특징으로 하는발광 다이오드. [청구항 10] 청구항 9에 있어서,상기n형 algan층은 상기 활성영역에 가까울수록 al의 조성이 점차로또는단계적지는것을특징으로 하는발광 다이오드. [청구항 11] 청구항 9에 있어서,상기n형 algan층은 algan/gan 또는 algan/ingan의다층막구조형성된것을특징으로 하는발광 다이오드. [청구항 12] 청구항 9에 있어서,상기 중간층은 상기 스페이서층과 n형 algan층사이더포함하는것을특징으로 하는발광 다이오드. [청구항 13] 청구항 9에 있어서,상기 중간층은 상기 n형 algan층과 상기 n형 콘택층 사이에 언도핑된 gan층, 로우 도핑된 n-gan층중적어도하나더포함하는것을특징으로 하는발광 다이오드. [청구항 14] 청구항 1에 있어서,상기 활성영역과 상기p형 콘택층 사이에 형성된 p형 클래드층더포함하는것을특징으로 하는발광 다이오드. [청구항 15] 청구항 13에 있어서,상기p형클래드층포함하는것을특징으로 하는발광 다이오드. [청구항 16] 청구항 15에 있어서,상기p형 algan층은 algan/gan 또는 algan/ingan의다층막구조형성된것을특징으로 하는발광 다이오드. [청구항 17] 청구항 16에 있어서,상기p형 algan층은 상기 활성영역에 인접한층형성된것을특징으로 하는발광 다이오드, [청구항 18] 청구항 16에 있어서,상기p형 algan층은 상기 활성영역에 인접한 상기 algan층이 상기 p형 클래드층내의 다른 층들에 비하여 얇은 것특징으로 하는발광 다이오드. [청구항 19] 청구항 15에 있어서,상기p형 algan층은 상기 p형 콘택층으로 가면서 al의 조성이 점차로또는단계적지는것을특징으로 하는발광 다이오드. [청구항 20] 청구항 14에 있어서,상기 활성영역과 상기p형 클래드층사이더포함하는것을특징으로 하는발광 다이오드. [청구항 21] 청구항 20에 있어서,상기inaln층은 inn/aln의초격자구조형성된것을특징으로 하는발광 다이오드. [청구항 22] 청구항 21에 있어서,의 초격자 구조에서 inn층에 p형불순물도핑된것을특징으로 하는발광 다이오드.
지시문 (instruction)
주어진 본문을 읽고 관련 정보를 분석하여 질문에 답하라.
질문 (question)
스페이서층과 n형 콘택층 사이에 형성된 중간층의 n형 불순물 도핑 농도는 스페이서층 및 n형 콘택층의 도핑 농도와 비교하여 어떠한 관계를 갖는가?
추론 과정 (compact_reasoning)
  1. 1과제 해석task_interpretation

    스페이서층과 n형 콘택층 사이의 중간층의 n형 불순물 도핑 농도가 스페이서층 및 n형 콘택층의 도핑 농도와 비교하여 어떤 관계인지 파악해야 한다.

  2. 2정보 추출information_extraction

    청구항 8에서 중간층의 n형 불순물 도핑 농도에 관한 정보를 추출한다.

    • 상기 중간층은 상기 n형 콘택층의 불순물 도핑 농도보다 상대적으로 높고, 상기 스페이서층에서의 상기 n형 불순물 농도보다는 상대적으로 낮게 n형 불순물이 도핑된층
  3. 3근거 선택evidence_selection

    중간층의 농도가 n형 콘택층보다 높고, 스페이서층보다 낮다는 직접적인 구절을 선택한다.

    • 상기 중간층은 상기 n형 콘택층의 불순물 도핑 농도보다 상대적으로 높고, 상기 스페이서층에서의 상기 n형 불순물 농도보다는 상대적으로 낮게
  4. 4논리 통합logical_integration

    추출된 정보를 바탕으로 중간층의 농도는 n형 콘택층보다는 높고, 스페이서층보다는 낮은 중간적인 농도 관계임을 도출한다.

  5. 5결론 도출conclusion_formulation

    중간층의 n형 불순물 도핑 농도는 n형 콘택층의 농도보다는 높고, 스페이서층의 농도보다는 낮은 관계를 가진다.

  6. 6답변 생성answer_generation

    질문에 대해 도출된 결론을 바탕으로 최종 답변을 작성한다.

최종 답변 (final_answer)
중간층의 n형 불순물 도핑 농도는 n형 콘택층의 불순물 도핑 농도보다는 상대적으로 높고, 스페이서층에서의 n형 불순물 농도보다는 상대적으로 낮다.
핵심 해석 (core_interpretation)
스페이서층과 n형 콘택층 사이에 도핑 농도가 중간 단계인 중간층을 형성하여 불순물 농도를 단계적으로 조절하는 기술적 구성을 나타낸다.