문맥 (context)
[청구항 2]
청구항 1에 있어서,상기 개개의 제2 리드들은 l-형태를 갖고 대응하는 개개의 제1 리드들을 물리적접촉하는,마이크로전자 다이 패키지들의 스택드 시스템.
[청구항 3]
청구항 1에 있어서,상기 개개의 제2 리드들은 c-형태를 갖고 상기 제2 케이싱의 옆측부쪽으로 돌출하는 단(段)으로 된(tiered) 부분포함하는,마이크로전자 다이 패키지들의 스택드 시스템.
[청구항 4]
청구항 1에 있어서,상기 개개의 제2 리드들은 상기 제2 케이싱의 하측부결합되는,마이크로전자 다이 패키지들의 스택드 시스템.
[청구항 5]
청구항 1에 있어서,상기 제2 다이 패키지의 하측부는, 인터포져(interposer) 기판과 관련된 금속 범프 패드에 결합되는 패키지 본드더 포함하는,마이크로전자 다이 패키지들의 스택드 시스템.
[청구항 6]
청구항 1에 있어서,상기 커넥터들은, 상기 제2 외부면들의 제2 부분 및 상기 제1 외부면들의 제1 부분으로부터 외향하여 옆돌출하는,마이크로전자 다이 패키지들의 스택드 시스템.
[청구항 7]
청구항 6에 있어서,상기 커넥터들은, 상기 제1 및 제2 다이 패키지들 사이에서, 상기 제2 케이싱의 옆측부쪽더 연장하는,마이크로전자 다이 패키지들의 스택드 시스템.
[청구항 8]
청구항 1에 있어서,상기 제2 케이싱의 옆측부는 경사진 옆모습(sloped profile)을 갖고, 상기 리드들의 내부면 영역들은 갭(gap)만큼 상기 옆측부이격되는,마이크로전자 다이 패키지들의 스택드 시스템.
[청구항 9]
청구항 1에 있어서,상기 제2 다이 패키지의 개개의 제2 리드들은, 상기 제1 다이 패키지의 대응하는 개개의 제1 리드들로부터 수직 갭들만큼 분리되어 있고, 개개의 커넥터들은, 대응하는 제1 및 제2 리드들의 쌍들 사이의 수직 갭들을 가교(bridge)하는 땜납 링크포함하는,마이크로전자 다이 패키지들의 스택드 시스템.
[청구항 10]
청구항 1에 있어서,상기 제1 다이는 제1 옆 치수(lateral dimension)를 갖고 상기 제2 다이는 상기 제1 옆 치수와는 상이한 제2 옆 치수를 가지며, 상기 제1 및 제2 케이싱들은 동등한 옆 치수들갖는,마이크로전자 다이 패키지들의 스택드 시스템.
[청구항 13]
청구항 12에 있어서,부분은 상기 제2 케이싱의 옆측부쪽으로 내향하여 실질적으로 경사지고, 상기 제2 리드들은 대응하는 제1 리드들을 직접적접촉하는,마이크로전자 다이 패키지들의 스택드 시스템.
[청구항 14]
청구항 12에 있어서,개개의 금속 땜납 커넥터들은, 개개의 각진 부분들을 대응하는 제1 리드의 면부착시키는,마이크로전자 다이 패키지들의 스택드 시스템.
[청구항 16]
청구항 15에 있어서,상기 금속 땜납 범프들은 또한, 상기 제2 마이크로전자 디바이스의 개개의 제2 리드들에, 상기 제2 케이싱의 옆측부로부터 멀리 떨어져 대체로 면하는 각진 부분의 면부착되는,마이크로전자 디바이스들의 스택드 시스템.
[청구항 17]
청구항 15에 있어서,상기 단으로 된 부분은, 대응하는 제1 리드로부터 60 미크론까지의 수직 거리분리되어 있는,마이크로전자 디바이스들의 스택드 시스템.
[청구항 18]
청구항 15에 있어서,부분은 상기 옆부분에 대해 실질적수직한,마이크로전자 디바이스들의 스택드 시스템.
[청구항 20]
청구항 19에 있어서,상기 커넥터는, 금속 땜납 라인 및 금속 땜납 범프 중 적어도 하나포함하는,디바이스.
[청구항 21]
청구항 20에 있어서,개개의 컨택트들은 l-형태를 갖고 상기 제1 및 제2 면들 중 적어도 하나가 젖음면(wetting surface)으로서상기커넥터부착되도록구성되는,디바이스.
[청구항 22]
청구항 20에 있어서,개개의 컨택트들이, 상기 각진 부분으로부터 상기 케이싱 면쪽으로 내향하여 연장하는 단으로 된 부분을 포함하는, c-형태를 갖고, 상기 단으로 된 부분은 상기 옆부분으로부터 멀리 떨어져 대체로 면하며 젖음면으로서 상기 커넥터와 부착되도록 구성되는 제3 면갖는,디바이스.
지시문 (instruction)
주어진 본문을 읽고 관련 정보를 분석하여 질문에 답하라.
질문 (question)
마이크로전자 다이 패키지들의 스택드 시스템에서, 제2 리드들이 제1 리드들로부터 수직 갭(vertical gaps)만큼 분리되어 있을 때, 이 수직 갭들을 가교(bridge)하는 커넥터의 구성은 무엇인가?
추론 과정 (compact_reasoning)
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1과제 해석
task_interpretation제2 리드와 제1 리드 사이의 수직 갭을 가교하는 커넥터의 구체적인 구성 성분을 찾는 것이다.
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2정보 추출
information_extraction청구항 9에서 제2 리드가 제1 리드로부터 수직 갭만큼 분리되어 있고, 커넥터가 이 갭을 가교한다는 내용을 확인한다.
- 상기 제2 다이 패키지의 개개의 제2 리드들은, 상기 제1 다이 패키지의 대응하는 개개의 제1 리드들로부터 수직 갭들만큼 분리되어 있고, 개개의 커넥터들은, 대응하는 제1 및 제2 리드들의 쌍들 사이의 수직 갭들을 가교(bridge)하는 땜납 링크포함하는
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3근거 선택
evidence_selection커넥터의 구성을 직접적으로 명시한 '땜납 링크' 구절을 선택한다.
- 개개의 커넥터들은, 대응하는 제1 및 제2 리드들의 쌍들 사이의 수직 갭들을 가교(bridge)하는 땜납 링크포함하는
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4논리 통합
logical_integration질문에서 요구하는 '수직 갭을 가교하는 커넥터의 구성'은 청구항 9에 따라 '땜납 링크'임을 논리적으로 연결한다.
- 개개의 커넥터들은, 대응하는 제1 및 제2 리드들의 쌍들 사이의 수직 갭들을 가교(bridge)하는 땜납 링크포함하는
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5결론 도출
conclusion_formulation커넥터의 구성은 땜납 링크이다.
- 땜납 링크
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6답변 생성
answer_generation추출된 핵심 용어인 '땜납 링크'를 최종 답변으로 생성한다.
- 땜납 링크
최종 답변 (final_answer)
땜납 링크
핵심 해석 (core_interpretation)
스택드 다이 패키지 시스템에서 제1 리드와 제2 리드 사이의 수직적 간격을 전기적으로 연결하기 위해 땜납 링크를 커넥터로 사용함을 나타낸다.