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후면 조명된 이미지 센서들 document_id 1020117011521

출원번호
1020117011521
분류
전기(H섹션)
문맥 (context)
[청구항 2] 제1항에 있어서,상기 투과성 도전층은 ito층, zo층, sno층 및 zto층으로 이루어진 그룹으로부터 선택되는 층을 포함하는, 후면조명된이미지 센서. [청구항 3] 제1항에 있어서,상기 투과성 도전성층은 ito층을 포함하며, 상기 ito층은 co, ti, w, mo 및 cr로 구성되는 불순물들의 그룹으로부터 선택되는 불순물로 도핑되는, 후면조명된이미지 센서. [청구항 4] 제1항에 있어서,상기 투과성 도전성층은 zo층을 포함하며, 상기 zo층은 mg, zr, 및 li으로 구성되는 불순물들의 그룹으로부터 선택되는 불순물로 도핑되는, 후면조명된이미지 센서. [청구항 5] 제1항에 있어서,상기 투과성 도전층은 10 nm 내지 500 nm의 두께를 갖도록 형성되는, 후면조명된이미지 센서. [청구항 6] 제1항에 있어서,상기 투과성 도전층은 폴리실리콘층, 귀금속층, 또는 둘 모두를 포함하는, 후면조명된이미지 센서. [청구항 7] 제1항에 있어서,상기 투과성 도전성층은 1 nm 내지 40 nm의 두께를 갖는 폴리실리콘층을 포함하는, 후면조명된이미지 센서. [청구항 8] 제1항에 있어서,상기 투과성 도전성층은 귀금속층을 포함하며, 상기 귀금속층은 au 또는 pt를 포함하는, 후면조명된이미지 센서. [청구항 9] 제1항에 있어서,상기 투과성 도전성층은 0.1 nm 내지 1 nm의 두께를 갖는 귀금속층을 포함하는, 후면조명된이미지 센서. [청구항 10] 제1항에 있어서,상기 후면 패시베이션층은 다중층 구조물을 포함하며, 상기 다중층 구조물은 상이한 굴절률들을 갖는 물질들로부터 형성되는 층들을 포함하는, 후면조명된이미지 센서. [청구항 11] 제1항에 있어서,상기 후면 패시베이션층은 상기 제1 기판보다 낮은 굴절률을 갖는 층을 포함하는, 후면조명된이미지 센서. [청구항 12] 제1항에 있어서,상기 제1 기판은 p-타입 도전성 물질을 포함하는, 후면조명된이미지 센서. [청구항 13] 제1항에 있어서,상기 정렬 키는 도전성 금속을 포함하는, 후면조명된이미지 센서. [청구항 14] 제1항에 있어서,상기 전면 패시베이션층에 결합되는 제2 기판을 더 포함하는, 후면조명된이미지 센서. [청구항 15] 제14항에 있어서,상기 제1 기판 및 상기 제2 기판 각각은 벌크 기판, 에피택셜 기판, 또는 실리콘-온-절연체(soi: silicon-on-insulator) 기판을 포함하는, 후면조명된이미지 센서. [청구항 16] 제1항에 있어서,상기 정렬 키에 음의 전압 (-)을 제공하도록 구성되는 전압 공급장치를 더 포함하는, 후면조명된이미지 센서. [청구항 17] 제1항에 있어서,상기 정렬 키에 양의 전압 (+)을 제공하도록 구성되는 전압 공급장치를 더 포함하는, 후면조명된이미지 센서. [청구항 19] 제18항에 있어서,상기 도전성 정렬 키는 상기 수광 엘리먼트로부터 측방으로 이동된 위치에 상기 기판을 통해 연장되는, 후면조명된이미지 센서. [청구항 20] 제18항에 있어서,상기 상호접속층은 패터닝된 금속층들 및 패터닝된 절연층들의 적층된 구성을 포함하는, 후면조명된이미지 센서. [청구항 21] 제18항에 있어서,상기 도전성 패드는 상기 상호접속층의 맨 뒤의 패터닝된 금속층에 배치되는, 후면조명된이미지 센서. [청구항 22] 제21항에 있어서,상기 기판의 후면과 상기 투과성 도전성층 사이에 배치되는 패시베이션층을 더 포함하는, 후면조명된이미지 센서. [청구항 23] 제18항에 있어서,상기 투과성 도전성층은 ito층을 포함하며, 상기 ito층은 co, ti, w, mo 및 cr로 구성되는 불순물들의 그룹으로부터 선택되는 불순물로 도핑되는, 후면조명된이미지 센서. [청구항 24] 제18항에 있어서,상기 투과성 도전성층은 zo층을 포함하며, 상기 zo층은 mg, zr 및 li로 구성되는 불순물들의 그룹으로부터 선택되는 불순물로 도핑되는, 후면조명된이미지 센서. [청구항 26] 제25항에 있어서,상기 도전성 정렬 키는 상기 수광 엘리먼트로부터 측방으로 이동된 위치에 상기 기판을 통해 연장되는, 후면조명된이미지 센서. [청구항 27] 제25항에 있어서,상기 상호접속층은 패터닝된 금속층들 및 패터닝된 절연층들의 적층된 구성물을 포함하는, 후면조명된이미지 센서. [청구항 28] 제27항에 있어서,상기 도전성 패드는 상기 상호접속층의 맨 뒤의 패터닝된 금속층에 배치되는, 후면조명된이미지 센서. [청구항 29] 제25항에 있어서,상기 기판의 후면과 상기 투과성 도전성층 사이에 배치되는 패시베이션층을 더 포함하는, 후면조명된이미지 센서. [청구항 30] 제25항에 있어서,상기 투과성 도전성층은 ito층을 포함하며, 상기 ito층은 co, ti, w, mo 및 cr로 구성되는 불순물들의 그룹으로부터 선택되는 불순물로 도핑되는, 후면조명된이미지 센서. [청구항 31] 제25항에 있어서,상기 투과성 도전성층은 zo층을 포함하며, 상기 zo층은 mg, zr 및 li로 구성되는 불순물들의 그룹으로부터 선택되는 불순물로 도핑되는, 후면조명된이미지 센서.
지시문 (instruction)
주어진 본문을 읽고 관련 정보를 분석하여 질문에 답하라.
질문 (question)
후면조명된 이미지 센서에서 투과성 도전층이 ito층인 경우, 해당 ito층을 도핑할 수 있는 불순물들은 무엇인가?
추론 과정 (compact_reasoning)
  1. 1과제 해석task_interpretation

    후면조명된 이미지 센서의 투과성 도전층이 ito층일 때, 이를 도핑할 수 있는 불순물의 종류를 찾는 것이다.

  2. 2정보 추출information_extraction

    청구항 3, 23, 30에서 ito층의 도핑 불순물에 관한 정보를 추출한다.

    • 상기 ito층은 co, ti, w, mo 및 cr로 구성되는 불순물들의 그룹으로부터 선택되는 불순물로 도핑되는
  3. 3근거 선택evidence_selection

    ito층의 도핑 불순물로 명시된 'co, ti, w, mo 및 cr' 구절을 선택한다.

    • co, ti, w, mo 및 cr
  4. 4논리 통합logical_integration

    추출된 불순물 목록(co, ti, w, mo, cr)이 질문에서 요구하는 ito층의 도핑 불순물 조건과 일치함을 확인한다.

  5. 5결론 도출conclusion_formulation

    ito층을 도핑할 수 있는 불순물은 co, ti, w, mo, cr이다.

  6. 6답변 생성answer_generation

    질문에 대한 답변으로 불순물 목록을 나열한다.

최종 답변 (final_answer)
co, ti, w, mo, cr
핵심 해석 (core_interpretation)
후면조명된 이미지 센서의 투과성 도전층 중 ito층의 전기적 특성을 조절하기 위해 사용될 수 있는 특정 불순물(co, ti, w, mo, cr)의 구성을 정의하고 있다.