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박막 트랜지스터 기판, 박막 트랜지스터 기판 리페어 방법, 유기 발광 표시 장치 및 유기 발광 표시 장치 리페어 방법 document_id 1020120110691

출원번호
1020120110691
분류
전기(H섹션)
문맥 (context)
[청구항 1] 기판; 상기 기판 상에 형성되고, 활성층, 상기 활성층과 절연된 게이트 전극, 상기 게이트 전극과 이격되고 상기 활성층과 연결된 소스 전극 및 드레인 전극을 구비하는 박막 트랜지스터 상기 기판 상에 형성되고 제1 캐패시터 전극 및 제2 캐패시터 전극을 구비하는 캐패시터 상기 제1 캐패시터 전극에 전압을 인가하도록 상기 제1 캐패시터 전극과 연결된 제1 배선 상기 제2 캐패시터 전극에 전압을 인가하도록 상기 제2 캐패시터 전극과 연결된 제2 배선 상기 제1 캐패시터 전극 및 제2 캐패시터 전극과 이격된 제1 도전 패턴층 상기 제1 도전 패턴층과 이격되고 상기 제1 도전 패턴층과 중첩되도록 형성된 제2 도전 패턴층 상기 제1 도전 패턴층과 연결되고 상기 제2 도전 패턴층과 이격되고 상기 제2 배선과 적어도 일 영역에서 중첩되는 제1 도선 패턴; 및 상기 제2 도전 패턴층과 연결되고 상기 제1 도전 패턴층 및 상기 제1 도선 패턴과 이격되고 상기 제1 배선과 적어도 일 영역에서 중첩되는 제2 도전 패턴을 구비하는 박막 트랜지스터 기판 [청구항 2] 제1 항에 있어서,상기 제1 도전 패턴층은 상기 제1 캐패시터 전극과 동일한 층에 상기 제1 캐패시터 전극과 동일한 재료형성되는박막 트랜지스터 기판. [청구항 3] 제1 항에 있어서,상기 제2 도전 패턴층은 상기 제2 캐패시터 전극과 동일한 층에 상기 제2 캐패시터 전극과 동일한 재료형성되는박막 트랜지스터 기판. [청구항 4] 제1 항에 있어서,상기 제1 도전 패턴층은 상기 게이트 전극과 동일한 층에 상기 게이트 전극과 동일한 재료형성되는박막 트랜지스터 기판. [청구항 5] 제1 항에 있어서,상기 제2 도전 패턴층은 상기 소스 전극 또는 드레인 전극과 동일한 층에 상기 소스 전극 또는 드레인 전극과 동일한 재료형성되는박막 트랜지스터 기판. [청구항 6] 제1 항에 있어서,상기 제1 캐패시터 전극과 상기 제2 캐패시터 전극 사이에 파티클 기타 이물이 배치되어 상기 캐패시터에 쇼트 불량이 발생한 경우,상기 캐패시터로의 전압 인가를 차단하고,상기 제1 도전 패턴층 및 상기 제2 도전 패턴층이 상기 캐패시터의 기능을 대신하여 리페어 캐패시터형성하는박막 트랜지스터 기판. [청구항 7] 제6 항에 있어서,상기 제1 배선의 영역 중 상기 제2 도선 패턴과 중첩되는 영역보다 상기 제1 캐패시터 전극과 가까운 영역에 제1 절단부가 형성되고, 상기 제2 배선의 영역 중 상기 제1 도선 패턴과 중첩되는 영역보다 상기 제2 캐패시터 전극과 가까운 영역에 제2 절단부가형성되는박막 트랜지스터 기판. [청구항 8] 제7 항에 있어서,상기 제1 도선 패턴과 상기 제2 배선이 중첩되는 영역에 상기 제1 도선 패턴과 상기 제2 배선을 연결하도록 형성된 제1 웰딩부; 및상기 제2 도선 패턴과 상기 제1 배선이 중첩되는 영역에 상기 제2 도선 패턴과 상기 제1 배선을 연결하도록 형성된제2 웰딩부를포함하는박막 트랜지스터 기판. [청구항 9] 제1 항에 있어서,상기 제1 도전 패턴층 또는 상기 제2 도전 패턴층은 상기 캐패시터에 쇼트 불량이 발생하지 않은 경우 더미 패턴의 기능수행하는박막 트랜지스터 기판. [청구항 13] 기판; 상기 기판 상에 형성되고 제1 전극, 제2 전극 및 상기 제1 전극과 제2 전극 사이에 배치되고 적어도 유기 발광층을 구비하는 중간층을 포함하는 유기 발광 소자 상기 기판 상에 형성되고 제1 캐패시터 전극 및 제2 캐패시터 전극을 구비하는 캐패시터 상기 제1 캐패시터 전극에 전압을 인가하도록 상기 제1 캐패시터 전극과 연결된 제1 배선 상기 제2 캐패시터 전극에 전압을 인가하도록 상기 제2 캐패시터 전극과 연결된 제2 배선 상기 제1 캐패시터 전극 및 제2 캐패시터 전극과 이격된 제1 도전 패턴층 상기 제1 도전 패턴층과 이격되고 상기 제1 도전 패턴층과 중첩되도록 형성된 제2 도전 패턴층 상기 제1 도전 패턴층과 연결되고 상기 제2 도전 패턴층과 이격되고 상기 제2 배선과 적어도 일 영역에서 중첩되는 제1 도선 패턴; 및 상기 제2 도전 패턴층과 연결되고 상기 제1 도전 패턴층 및 상기 제1 도선 패턴과 이격되고 상기 제1 배선과 적어도 일 영역에서 중첩되는 제2 도전 패턴을 구비하는 유기 발광 표시 장치 [청구항 14] 제13 항에 있어서,상기 제1 도전 패턴층은 상기 제1 캐패시터 전극과 동일한 층에 상기 제1 캐패시터 전극과 동일한 재료형성되는유기 발광 표시 장치. [청구항 15] 제13 항에 있어서,상기 제2 도전 패턴층은 상기 제2 캐패시터 전극과 동일한 층에 상기 제2 캐패시터 전극과 동일한 재료형성되는유기 발광 표시 장치. [청구항 16] 제13 항에 있어서,상기 기판 상에 형성된 활성층, 상기 활성층과 절연된 게이트 전극, 상기 게이트 전극과 이격되고 상기 활성층과 연결된 소스 전극 및 드레인 전극을 구비하는 박막 트랜지스터를 더 포함하고,상기 제1 도전 패턴층은 상기 게이트 전극과 동일한 층에 상기 게이트 전극과 동일한 재료형성되는유기 발광 표시 장치. [청구항 17] 제13 항에 있어서,상기 기판 상에 형성된 활성층, 상기 활성층과 절연된 게이트 전극, 상기 게이트 전극과 이격되고 상기 활성층과 연결된 소스 전극 및 드레인 전극을 구비하는 박막 트랜지스터를 더 포함하고,상기 제2 도전 패턴층은 상기 소스 전극 또는 드레인 전극과 동일한 층에 상기 소스 전극 또는 드레인 전극과 동일한 재료형성되는유기 발광 표시 장치. [청구항 18] 제13 항에 있어서,상기 제1 캐패시터 전극과 상기 제2 캐패시터 전극 사이에 파티클 기타 이물이 배치되어 상기 캐패시터에 쇼트 불량이 발생한 경우,상기 캐패시터로의 전압 인가를 차단하고,상기 제1 도전 패턴층 및 상기 제2 도전 패턴층이 상기 캐패시터의 기능을 대신하여 리페어 캐패시터형성하는유기 발광 표시 장치. [청구항 19] 제18 항에 있어서,상기 제1 배선의 영역 중 상기 제2 도선 패턴과 중첩되는 영역보다 상기 제1 캐패시터 전극과 가까운 영역에 제1 절단부가 형성되고, 상기 제2 배선의 영역 중 상기 제1 도선 패턴과 중첩되는 영역보다 상기 제2 캐패시터 전극과 가까운 영역에 제2 절단부가형성되는유기 발광 표시 장치. [청구항 20] 제19 항에 있어서,상기 제1 도선 패턴과 상기 제2 배선이 중첩되는 영역에 상기 제1 도선 패턴과 상기 제2 배선을 연결하도록 형성된 제1 웰딩부; 및상기 제2 도선 패턴과 상기 제1 배선이 중첩되는 영역에 상기 제2 도선 패턴과 상기 제1 배선을 연결하도록 형성된제2 웰딩부를포함하는유기 발광 표시 장치. [청구항 21] 제13 항에 있어서,상기 캐패시터는 상기 유기 발광 표시 장치의 화상이 구현되는표시 영역또는상기표시 영역주변의회로 영역배치된것을특징으로 하는유기 발광 표시 장치. [청구항 22] 제13 항에 있어서,상기 캐패시터는 상기 유기 발광 표시 장치의 화상이 구현되는표시 영역또는상기표시 영역주변의회로 영역배치된것을특징으로 하는유기 발광 표시 장치. [청구항 23] 제13 항에 있어서,상기 제1 도전 패턴층 또는 상기 제2 도전 패턴층은 상기 캐패시터에 쇼트 불량이 발생하지 않은 경우 더미 패턴의 기능수행하는유기 발광 표시 장치.
지시문 (instruction)
주어진 본문을 읽고 관련 정보를 분석하여 질문에 답하라.
질문 (question)
박막 트랜지스터 기판에서 제1 캐패시터 전극과 제2 캐패시터 전극 사이에 이물이 배치되어 쇼트 불량이 발생했을 때, 캐패시터의 기능을 대신하여 리페어 캐패시터를 형성하는 구성 요소들은 무엇인가?
추론 과정 (compact_reasoning)
  1. 1과제 해석task_interpretation

    캐패시터에 쇼트 불량이 발생했을 때, 그 기능을 대신하여 리페어 캐패시터를 형성하는 구성 요소가 무엇인지 찾는 것이다.

  2. 2정보 추출information_extraction

    청구항 6에서 캐패시터에 쇼트 불량이 발생한 경우의 동작과 구성 요소를 확인한다.

    • 상기 제1 캐패시터 전극과 상기 제2 캐패시터 전극 사이에 파티클 기타 이물이 배치되어 상기 캐패시터에 쇼트 불량이 발생한 경우
    • 상기 제1 도전 패턴층 및 상기 제2 도전 패턴층이 상기 캐패시터의 기능을 대신하여 리페어 캐패시터형성하는
  3. 3근거 선택evidence_selection

    리페어 캐패시터를 형성한다고 명시된 구절을 선택한다.

    • 상기 제1 도전 패턴층 및 상기 제2 도전 패턴층이 상기 캐패시터의 기능을 대신하여 리페어 캐패시터형성하는
  4. 4논리 통합logical_integration

    쇼트 불량 시 캐패시터의 기능을 대신하는 주체는 제1 도전 패턴층과 제2 도전 패턴층임을 알 수 있다.

    • 상기 제1 도전 패턴층 및 상기 제2 도전 패턴층이 상기 캐패시터의 기능을 대신하여 리페어 캐패시터형성하는
  5. 5결론 도출conclusion_formulation

    질문에 대한 답변으로 제1 도전 패턴층과 제2 도전 패턴층을 도출한다.

  6. 6답변 생성answer_generation

    추출된 구성 요소를 바탕으로 최종 답변을 작성한다.

최종 답변 (final_answer)
상기 제1 도전 패턴층 및 상기 제2 도전 패턴층
핵심 해석 (core_interpretation)
캐패시터에 이물로 인한 쇼트 불량이 발생할 경우, 미리 형성된 제1 도전 패턴층과 제2 도전 패턴층이 리페어 캐패시터 역할을 수행하여 기능을 대체한다.