가공데이터 · 특허 지식베이스

실리콘 코팅된 가스 공급 도관들을 포함하는 시스템들 및 코팅들을 실시하기 위한 방법 document_id 1020120122702

출원번호
1020120122702
분류
전기(H섹션)
문맥 (context)
[청구항 2] 제 1 항에 있어서,상기 보호 실리콘 층은 약 1 마이크로미터 두께미만인,플라즈마 에칭 시스템. [청구항 3] 제 2 항에 있어서,상기 보호 실리콘 층은 약 0.85 마이크로미터미만인,플라즈마 에칭 시스템. [청구항 4] 제 1 항에 있어서,상기 산화철에 대한 상기 산화 크롬의 비는 상기 패시베이션된결합 층에서 약 2 보다 큰, 플라즈마 에칭 시스템. [청구항 5] 제 4 항에 있어서,상기 패시베이션된 결합 층은 약 1 마이크로미터 두께미만인,플라즈마 에칭 시스템. [청구항 6] 제 1 항에 있어서,상기 스테인리스 강 층은 316l 스테인리스강으로 이루어지는,플라즈마 에칭 시스템. [청구항 7] 제 1 항에 있어서,상기 스테인리스 강 층은 316l vim/var 스테인리스강으로 이루어지는,플라즈마 에칭 시스템. [청구항 8] 제 1 항에 있어서,상기 가스 공급 도관은 주름형 벨로우즈 (corrugated bellows) 를 포함하고, 상기 주름형 벨로우즈는 내식층을 갖는 구조포함하는,플라즈마 에칭 시스템. [청구항 9] 제 8 항에 있어서,상기 주름형 벨로우즈의 굽힘은 약 ±10°미만제한되는,플라즈마 에칭 시스템. [청구항 10] 제 1 항에 있어서,상기 가스 공급 도관은 열 영향 구역을 포함하고, 상기 열 영향 구역은 상기 내식층을 갖는 구조포함하는,플라즈마 에칭 시스템. [청구항 11] 제 1 항에 있어서,상기 가스 공급 도관은 인젝터 블록을 포함하고, 상기 인젝터 블록은 상기 내식층을 갖는 구조포함하는,플라즈마 에칭 시스템. [청구항 12] 제 1 항에 있어서,상기 가스 공급 도관은 마이크로피트 (microfit) 를 포함하고, 상기 마이크로피트는 상기 내식층을 갖는 구조포함하는,플라즈마 에칭 시스템. [청구항 13] 제 1 항에 있어서,상기 내식층을 갖는 구조는 제 2 보호 실리콘 층 및 제 2 패시베이션된 결합 층 및 스테인리스 강 층을 포함하고;상기 외부 환경 접촉 표면은 상기 제 2 보호 실리콘 층에 의해 형성되고;상기 제 2 패시베이션된 결합 층은 상기 제 2 보호 실리콘 층과 상기 스테인리스 강 층 사이배치되는,플라즈마 에칭 시스템.
지시문 (instruction)
주어진 본문을 읽고 관련 정보를 분석하여 질문에 답하라.
질문 (question)
플라즈마 에칭 시스템에서 내식층을 갖는 구조가 포함될 경우, 해당 구조를 구성하는 각 층의 배치 관계와 외부 환경 접촉 표면을 형성하는 층은 무엇인가?
추론 과정 (compact_reasoning)
  1. 1과제 해석task_interpretation

    플라즈마 에칭 시스템 내 내식층을 갖는 구조의 구성 층별 배치 관계와 외부 환경 접촉 표면을 형성하는 층을 파악해야 한다.

  2. 2정보 추출information_extraction

    청구항 13에서 내식층을 갖는 구조의 구성 요소인 제 2 보호 실리콘 층, 제 2 패시베이션된 결합 층, 스테인리스 강 층을 추출한다.

    • 상기 내식층을 갖는 구조는 제 2 보호 실리콘 층 및 제 2 패시베이션된 결합 층 및 스테인리스 강 층을 포함하고
  3. 3근거 선택evidence_selection

    배치 관계와 외부 접촉 표면을 명시한 청구항 13의 구절을 선택한다.

    • 상기 외부 환경 접촉 표면은 상기 제 2 보호 실리콘 층에 의해 형성되고;상기 제 2 패시베이션된 결합 층은 상기 제 2 보호 실리콘 층과 상기 스테인리스 강 층 사이배치되는
  4. 4논리 통합logical_integration

    제 2 패시베이션된 결합 층이 제 2 보호 실리콘 층과 스테인리스 강 층 사이에 위치하므로, 층의 순서는 스테인리스 강 층 - 제 2 패시베이션된 결합 층 - 제 2 보호 실리콘 층 순으로 배치됨을 알 수 있다.

    • 상기 제 2 패시베이션된 결합 층은 상기 제 2 보호 실리콘 층과 상기 스테인리스 강 층 사이배치되는
  5. 5결론 도출conclusion_formulation

    외부 환경 접촉 표면은 제 2 보호 실리콘 층이며, 배치 관계는 제 2 패시베이션된 결합 층이 제 2 보호 실리콘 층과 스테인리스 강 층 사이에 위치하는 구조이다.

    • 상기 외부 환경 접촉 표면은 상기 제 2 보호 실리콘 층에 의해 형성되고;상기 제 2 패시베이션된 결합 층은 상기 제 2 보호 실리콘 층과 상기 스테인리스 강 층 사이배치되는
  6. 6답변 생성answer_generation

    질문에 대하여 구성 층의 배치 관계와 외부 접촉 표면 층을 명확히 기술하여 답변을 생성한다.

최종 답변 (final_answer)
내식층을 갖는 구조는 제 2 보호 실리콘 층, 제 2 패시베이션된 결합 층, 그리고 스테인리스 강 층을 포함한다. 이들의 배치 관계는 제 2 패시베이션된 결합 층이 제 2 보호 실리콘 층과 스테인리스 강 층 사이에 위치하는 구조이며, 외부 환경 접촉 표면을 형성하는 층은 제 2 보호 실리콘 층이다.
핵심 해석 (core_interpretation)
플라즈마 에칭 시스템의 내식성을 확보하기 위해 스테인리스 강 층 위에 패시베이션된 결합 층과 보호 실리콘 층을 순차적으로 배치하여 외부 환경과 접촉하도록 설계된 구조에 관한 것이다.