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인터페이스 다이와 복수의 다이 스택들 사이에서 동시 통신을 가능하게 하는 장치들, 스태킹된 장치들에서의 인터리빙된 도전성 경로들, 및 이를 형성 및 동작하는 방법들 document_id 1020127028240

출원번호
1020127028240
분류
전기(H섹션)
문맥 (context)
[청구항 2] 제1항에 있어서,상기 제 1 다이 스택 및 상기 제 2 다이 스택의 각 다이는 복수의 메모리 분할(parition)들을 포함하는, 인터페이스 다이와 복수의 다이 스택 사이에서 동시 통신가능하게 하는장치. [청구항 3] 제1항에 있어서,상기 도전성 경로들의 제 2 서브세트의 적어도 일부 도전성 경로들은 상기 제 2 다이 스택 내의 다이들에 대한 명령 또는 어드레스 신호들의 전달을 가능하게 하는 구성요소들에 인터리빙되어 전기적으로 결합되는, 인터페이스 다이와 복수의 다이 스택 사이에서 동시 통신가능하게 하는장치. [청구항 4] 제2항에 있어서,상기 인터페이스 다이는 복수의 제어 회로들을 포함하며, 상기 복수의 제어 회로들 각각은 상기 복수의 도전성 경로들에 포함된 하나 이상의 통신 경로들을 통해 상기 복수의 메모리 분할들 중 수직 배치된 적어도 일부와 통신하도록 구성되는, 인터페이스 다이와 복수의 다이 스택 사이에서 동시 통신가능하게 하는장치. [청구항 5] 제4항에 있어서,상기 통신 경로들의 적어도 일부는 관통 실리콘 비아들 (through silicon vias)을 포함하는, 인터페이스 다이와 복수의 다이 스택 사이에서 동시 통신가능하게 하는장치. [청구항 7] 제6항에 있어서,상기 복수의 도전성 경로들에 포함된 제 3 도전성 경로를 더 포함하며, 상기 제 3 도전성 경로는 상기 인터페이스 다이의 제 3 회로 구성요소에 상기 제 1 다이의 제 2 회로 구성요소 및 상기 제 2 다이의 제 2 회로 구성요소를 결합하는, 인터페이스 다이와 복수의 다이 스택 사이에서 동시 통신가능하게 하는장치. [청구항 8] 제6항에 있어서,상기 복수의 도전성 경로들에 포함된 제 3 도전성 경로 - 상기 제 3 도전성 경로는 상기 인터페이스 다이의 제 3 회로 구성요소에 상기 제 1 다이의 제 2 회로 구성요소를 결합함 - ; 및복수의 도전성 경로들에 포함된 제 4 도전성 경로 - 상기 제 4 도전성 경로는 상기 인터페이스 다이의 제 4 회로 구성요소에 상기 제 2 다이의 제 2 회로 구성요소를 결합함 - 를 더 포함하는, 인터페이스 다이와 복수의 다이 스택 사이에서 동시 통신가능하게 하는장치. [청구항 9] 제6항에 있어서,상기 제 1 다이의 상기 제 1 회로 구성요소는 상기 인터페이스 다이의 상기 제 1 회로 구성요소와 통신하며 그와 동시에 상기 제 2 다이의 상기 제 2 회로 구성요소는 상기 인터페이스 다이의 상기 제 2 회로 구성요소와 통신하도록 구성되는, 인터페이스 다이와 복수의 다이 스택 사이에서 동시 통신가능하게 하는장치. [청구항 10] 제6항에 있어서,스택은 제 3 다이 및 제 4 다이를 포함하고, 상기 제 1 도전성 경로는 제 4 다이를 통과하며 상기 제 3 다이의 제 1 회로 구성요소, 상기 제 1 다이의 상기 제 1 회로 구성요소, 및 상기 인터페이스 다이의 제 1 제어 회로 사이의 통신을 제공하고, 상기 제 2 도전성 경로는 상기 제 3 다이를 통과하며 상기 제 4 다이의 제 1 회로 구성요소, 상기 제 2 다이의 상기 제 1 회로 구성요소, 및 상기 인터페이스 다이의 제 2 제어 회로 사이의 통신을 제공하는, 인터페이스 다이와 복수의 다이 스택 사이에서 동시 통신가능하게 하는장치. [청구항 11] 제6항에 있어서,스택은 제 3 다이 및 제 4 다이를 포함하고, 상기 복수의 도전성 경로들에 포함된 제 3 도전성 경로는 상기 제 1 다이, 상기 제 2 다이 및 상기 제 4 다이를 통과하며 상기 인터페이스 다이의 제 3 회로 구성요소에 상기 제 3 다이의 제 1 회로 구성요소를 결합하고, 상기 복수의 도전성 경로들에 포함된 제 4 도전성 경로는 상기 제 1 다이, 상기 제 2 다이 및 상기 제 3 다이를 통과하며 상기 인터페이스 다이의 제 4 회로 구성요소에 상기 제 4 다이의 제 1 회로 구성요소를 결합하는, 인터페이스 다이와 복수의 다이 스택 사이에서 동시 통신가능하게 하는장치. [청구항 12] 제7항에 있어서,상기 제 1 다이의 상기 제 2 회로 구성요소 및 상기 제 2 다이의 상기 제 2 회로 구성요소는 명령 회로들 또는 어드레싱 회로들을 포함하며, 상기 제어 회로의 상기 제 3 회로 구성요소는 명령 회로 또는 어드레싱 회로를 포함하는, 인터페이스 다이와 복수의 다이 스택 사이에서 동시 통신가능하게 하는장치. [청구항 13] 제8항에 있어서,상기제 1, 제 2, 제 3, 및 제 4 도전성 경로들은 인터리빙되는, 인터페이스 다이와 복수의 다이 스택 사이에서 동시 통신가능하게 하는장치. [청구항 14] 제11항에 있어서,상기제 1, 제 2, 제 3 및 제 4 도전성 경로들은 상기 제 1, 제 2, 제 3 및 제 4 다이들 및 상기 인터페이스 다이의 복수의 메모리 볼트들(memory vaults)을 형성하도록 인터리빙되는, 인터페이스 다이와 복수의 다이 스택 사이에서 동시 통신가능하게 하는장치. [청구항 15] 제10항에 있어서,상기 제 1 도전성 경로, 상기 제 1 다이의 상기 제 1 회로 구성요소, 상기 제 3 다이의 상기 제 1 회로 구성요소 및 상기 제 1 제어 회로는 제 1 볼트를 형성하며, 상기 제 2 도전성 경로, 상기 제 2 다이의 상기 제 1 회로 구성요소, 상기 제 4 다이의 상기 제 1 회로 구성요소 및 상기 제 2 제어 회로는 제 2 볼트를 형성하는, 인터페이스 다이와 복수의 다이 스택 사이에서 동시 통신가능하게 하는장치. [청구항 16] 제10항에 있어서,복수의 볼트들을 더 포함하며, 각각의 볼트는 상기 스택 내의 교번하는 다이들, 및 적어도 하나의 도전성 경로에 의해 상기 스택 내의 상기 교번하는 다이들에 통신가능하게 결합된 상기 인터페이스 다이의 하나 이상의 제어 회로들을 포함하는, 인터페이스 다이와 복수의 다이 스택 사이에서 동시 통신가능하게 하는장치. [청구항 17] 제11항에 있어서,상기 제 1 다이의 상기 제 1 회로 구성요소와 상기 제 2 다이의 상기 제 1 회로 구성요소와 상기 제 3 다이의 상기 제 1 회로 구성요소와 상기 제 4 다이의 상기 제 1 회로 구성요소는 명령 또는 어드레스 회로들을 각각 포함하며, 상기 제 1, 제 2, 제 3, 및 제 4 도전성 경로들은 인터리빙되는, 인터페이스 다이와 복수의 다이 스택 사이에서 동시 통신가능하게 하는장치. [청구항 19] 제18항에 있어서,상기 복수의 도전성 경로들에 포함되며 상기 인터페이스 다이에 상기 제 1 다이 및 상기 제 2 다이를 결합하는 제 3 도전성 경로를 더 포함하는, 인터페이스 다이와 복수의 다이 스택 사이에서 동시 통신가능하게 하는장치. [청구항 20] 제18항에 있어서,상기 복수의 도전성 경로들에 포함되며 상기 제 1 다이의 명령 회로 또는 어드레스 회로에 상기 인터페이스 다이의 명령 회로 또는 어드레싱 회로를 결합하도록 상기 제 2 다이를 통과하는 제 3 도전성 경로, 및상기 복수의 도전성 경로들에 포함되며 상기 제 2 다이의 명령 회로 또는 어드레스 회로에 상기 인터페이스 다이의 상기 명령 회로 또는 어드레싱 회로를 결합하도록 상기 제 1 다이를 통과하는 제 4 도전성 경로를 더 포함하는, 인터페이스 다이와 복수의 다이 스택 사이에서 동시 통신가능하게 하는장치. [청구항 21] 제19항에 있어서,상기 제 3 도전성 경로는 상기 제 1 다이의 명령 회로 또는 어드레스 회로 및 상기 제 2 다이의 명령 회로 또는 어드레스 회로에 상기 인터페이스 다이의 명령 회로 또는 어드레싱 회로를 결합하는, 인터페이스 다이와 복수의 다이 스택 사이에서 동시 통신가능하게 하는장치. [청구항 23] 제20항에 있어서,상기 제 3 도전성 경로 및 상기 제 4 도전성 경로가 상기 복수의 스택들 각각의 상기 제 1 다이 및 상기 제 2 다이 사이에서 인터리빙되는, 인터페이스 다이와 복수의 다이 스택 사이에서 동시 통신가능하게 하는장치. [청구항 24] 제23항에 있어서,상기제 3 및 제 4 도전성 경로들은 상기 복수의 스택들 각각의 상기 제 1 다이와 제 2 다이에 동시 명령 또는 어드레스 시그널링을 가능하게 하는, 인터페이스 다이와 복수의 다이 스택 사이에서 동시 통신가능하게 하는장치. [청구항 26] 제25항에 있어서,상기 제 1 도전성 경로는 상기 제 2 다이를 통과하고, 상기 제 2 도전성 경로는 상기 제 1 다이를 통과하고, 상기 제 3 도전성 경로는 상기 제 2 다이를 통과하고, 상기 제 4 도전성 경로는 상기 제 1 다이를 통과하는, 인터페이스 다이와 복수의 다이 스택 사이에서 동시 통신가능하게 하는장치. [청구항 27] 제25항에 있어서,상기 인터페이스 다이의 제 3 어드레싱 회로에 상기 제 3 다이의 어드레스 회로 및 상기 제 4 다이의 어드레스 회로를 결합하는, 상기 도전성 경로들의 제 2 세트에 포함된 제 7 도전성 경로를 더 포함하는, 인터페이스 다이와 복수의 다이 스택 사이에서 동시 통신가능하게 하는장치. [청구항 28] 제25항에 있어서,상기 인터페이스 다이의 제 3 어드레싱 회로와 상기 제 3 다이의 어드레스 회로를 결합하는, 상기 도전성 경로들의 제 2 세트에 포함된 제 7 도전성 경로, 및상기 인터페이스 다이의 제 4 어드레싱 회로와 상기 제 4 다이의 어드레스 회로를 결합하는, 상기 도전성 경로들의 제 2 세트에 포함된 제 8 도전성 경로를 더 포함하는, 인터페이스 다이와 복수의 다이 스택 사이에서 동시 통신가능하게 하는장치. [청구항 45] 제44항에 있어서,상기 복수의 관통 실리콘 비아는 제 3 관통 실리콘 비아를 포함하고, 상기 제 1 다이의 상기 제 3 관통 실리콘 비아, 상기 제 2 다이의 상기 제 3 관통 실리콘 비아 및 상기 제 3 다이의 상기 제 3 관통 실리콘 비아는 서로 전기적으로 연결되고, 상기 제 1, 제 2 및 제 3 다이들의 상기 제 3 관통 실리콘 비아들 각각은 평면에서 볼 때 서로 중첩되도록 위치되는, 인터페이스 다이와 복수의 다이 스택 사이에서 동시 통신가능하게 하는반도체 디바이스. [청구항 46] 제44항에 있어서,제 4 다이를 더 포함하고, 상기 다이 스택은 상기 제 4 다이 상에 위치되는, 인터페이스 다이와 복수의 다이 스택 사이에서 동시 통신가능하게 하는반도체 디바이스. [청구항 47] 제46항에 있어서,상기 제 4 다이는 상기 제 1 다이, 상기 제 2 다이 및 상기 제 3 다이로의 그리고 그로부터의 통신들을 제어하는 제어 회로를 포함하는, 인터페이스 다이와 복수의 다이 스택 사이에서 동시 통신가능하게 하는반도체 디바이스. [청구항 48] 제46항에 있어서,상기 제 4 다이는 인터페이스를 포함하는, 인터페이스 다이와 복수의 다이 스택 사이에서 동시 통신가능하게 하는반도체 디바이스. [청구항 49] 제46항에 있어서,상기 제 4 다이는 평면에서 볼때의 면적이 상기 제 1 다이, 상기 제 2 다이 및 상기 제 3 다이 각각보다 더 큰, 인터페이스 다이와 복수의 다이 스택 사이에서 동시 통신가능하게 하는반도체 디바이스. [청구항 50] 제44항에 있어서,스택은 상기 제 3 다이 상에 스태킹된 제 4 다이를 더 포함하고,상기 제 4 다이는,입력-출력 회로; 및상기 제 3 다이의 제 2 관통 실리콘 비아 및 상기 입력-출력 회로에 전기적으로 연결된 제 1 단자, 그리고 상기 입력-출력 회로에 연결되지 않고 상기 제 3 다이의 상기 제 1 관통 실리콘 비아에 전기적으로 결합되는 제 2 단자를 포함하는 복수의 단자를 포함하고,상기 제 1 단자는 상기 제 3 다이의 상기 제 2 관통 실리콘 비아에 전기적으로 연결되고, 상기 제 2 단자는 상기 제 3 다이의 상기 제 1 관통 실리콘 비아에 전기적으로 연결되는, 인터페이스 다이와 복수의 다이 스택 사이에서 동시 통신가능하게 하는반도체 디바이스. [청구항 51] 제44항에 있어서,상기제 1, 상기 제 2 및 상기 제 3 다이들의 상기 제 2 관통 실리콘 비아들 각각은 상기 제 1, 상기 제 2 및 상기 제 3 다이 중 하나를 통과하는 경로 관통 실리콘 비아(path through silicon via)를 포함하는, 인터페이스 다이와 복수의 다이 스택 사이에서 동시 통신가능하게 하는반도체 디바이스. [청구항 52] 제51항에 있어서,상기 제 1 다이의 상기 경로 관통 실리콘 비아는 상기 제 1 다이에 연결되지 않고, 상기 제 2 다이의 상기 경로 관통 실리콘 비아는 상기 제 2 다이에 연결되지 않고, 상기 제 3 다이의 상기 경로 관통 실리콘 비아는 상기 제 3 다이에 연결되지 않는, 인터페이스 다이와 복수의 다이 스택 사이에서 동시 통신가능하게 하는반도체 디바이스. [청구항 54] 제53항에 있어서,상기 제 2 비아는 상기 제 2 다이를 통과하는 경로 관통 실리콘 비아를 포함하는, 인터페이스 다이와 복수의 다이 스택 사이에서 동시 통신가능하게 하는반도체 디바이스. [청구항 55] 제54항에 있어서,상기 경로 관통 실리콘 비아는 회로에 연결되지 않고 상기 제 2 다이 내에 형성되는, 인터페이스 다이와 복수의 다이 스택 사이에서 동시 통신가능하게 하는반도체 디바이스. [청구항 56] 제53항에 있어서,상기 제 1 다이는 인터페이스를 포함하는, 인터페이스 다이와 복수의 다이 스택 사이에서 동시 통신가능하게 하는반도체 디바이스. [청구항 57] 제53항에 있어서,상기 제 1 다이는 평면에서 볼때의 면적이 상기 제 2 다이 및 상기 제 3 다이 각각보다 더 큰, 인터페이스 다이와 복수의 다이 스택 사이에서 동시 통신가능하게 하는반도체 디바이스. [청구항 58] 제53항에 있어서,상기 제 2 다이 및 상기 제 3 다이 각각은 상기 제 1 표면 상에 형성된 제 3 단자를 포함하고, 상기 제 2 다이의 상기 제 3 단자는 상기 제 2 다이 내에 형성된 제 3 관통 실리콘 비아를 통해 상기 제 3 다이의 상기 제 3 단자에 전기적으로 연결되고, 상기 제 3 관통 실리콘 비아는 상기 제 2 다이의 상기 제 3 단자 및 상기 제 3 다이의 상기 제 3 단자와 중첩하도록 위치되는, 인터페이스 다이와 복수의 다이 스택 사이에서 동시 통신가능하게 하는반도체 디바이스. [청구항 60] 제59항에 있어서,상기 다이들은 제 3 다이를 더 포함하고,상기 제 3 다이는,제 3 io 회로;상기 제 3 io 회로에 전기적으로 연결된 제 5 단자;상기 제 5 단자로부터 이격되어 위치된 제 6 단자;상기 제 5 단자와 수직으로 정렬되고 그로부터 전기적으로 절연된 제 5 tsv - 상기 제 5 tsv는 상기 제 6 단자에 전기적으로 연결됨 - ; 및상기 제 6 단자와 수직으로 정렬되고 그로부터 전기적으로 절연된 제 6 tsv - 상기 제 6 tsv는 상기 제 5 단자에 전기적으로 연결됨 - ;를 포함하고,상기 제 1 다이, 상기 제 2 다이, 및 상기 제 3 다이는, 상기 제 1 다이의 상기 제 2 tsv 및 상기 제 1 단자, 상기 제 2 다이의 상기 제 4 tsv 및 상기 제 3 단자, 그리고 상기 제 3 다이의 상기 제 6 tsv 및 상기 제 5 단자가 서로 수직으로 정렬되도록, 그리고 상기 제 1 다이의 상기 제 1 tsv 및 상기 제 2 단자, 상기 제 2 다이의 상기 제 3 tsv 및 상기 제 4 단자, 그리고 상기 제 3 다이의 상기 제 5 tsv 및 상기 제 6 단자가 서로 수직으로 정렬되도록 서로 스태킹되며, 상기 제 2 다이는 상기 제 1 다이와 상기 제 3 다이 사이에 끼워지는, 인터페이스 다이와 복수의 다이 스택 사이에서 동시 통신가능하게 하는장치. [청구항 61] 제59항에 있어서,상기 다이들은 인터페이스 다이를 더 포함하고, 상기 제 1 다이 및 상기 제 2 다이는, 상기 제 1 다이가 상기 제 2 다이와 상기 인터페이스 다이 사이에 끼워지도록 상기 인터페이스 다이 위에 스태킹되는, 인터페이스 다이와 복수의 다이 스택 사이에서 동시 통신가능하게 하는장치. [청구항 62] 제61항에 있어서,상기 제 1 다이의 상기제 1 및 제 2 단자들은 상기 인터페이스 다이와 접촉하는, 인터페이스 다이와 복수의 다이 스택 사이에서 동시 통신가능하게 하는장치. [청구항 63] 제60항에 있어서,상기 다이들은 인터페이스 다이를 더 포함하고, 상기 제 1 다이, 상기 제 2 다이, 및 상기 제 3 다이는, 상기 제 1 다이가 상기 제 2 다이와 상기 인터페이스 다이 사이에 끼워지도록 상기 인터페이스 다이 위에 스태킹되는, 인터페이스 다이와 복수의 다이 스택 사이에서 동시 통신가능하게 하는장치.
지시문 (instruction)
주어진 본문을 읽고 관련 정보를 분석하여 질문에 답하라.
질문 (question)
청구항 10항 및 15항의 내용을 바탕으로, 제1 볼트(first vault)를 형성하기 위해 결합되는 구성요소들은 무엇인가?
추론 과정 (compact_reasoning)
  1. 1과제 해석task_interpretation

    청구항 10항과 15항을 참조하여 제1 볼트(first vault)를 구성하는 구성요소들을 추출해야 한다.

  2. 2정보 추출information_extraction

    청구항 15항에서 제1 볼트를 형성하는 구성요소들을 명시하고 있다.

    • 상기 제 1 도전성 경로, 상기 제 1 다이의 상기 제 1 회로 구성요소, 상기 제 3 다이의 상기 제 1 회로 구성요소 및 상기 제 1 제어 회로는 제 1 볼트를 형성하며
  3. 3근거 선택evidence_selection

    제1 볼트 형성에 직접적으로 기여하는 네 가지 구성요소를 선택한다.

    • 상기 제 1 도전성 경로, 상기 제 1 다이의 상기 제 1 회로 구성요소, 상기 제 3 다이의 상기 제 1 회로 구성요소 및 상기 제 1 제어 회로
  4. 4논리 통합logical_integration

    청구항 10항의 맥락을 통해 각 구성요소(제1 도전성 경로, 제1 다이의 제1 회로 구성요소, 제3 다이의 제1 회로 구성요소, 제1 제어 회로)가 제1 볼트의 구성 요소임을 확인한다.

  5. 5결론 도출conclusion_formulation

    추출된 구성요소들을 리스트 형식으로 정리하여 답변을 구성한다.

  6. 6답변 생성answer_generation

    질문에 대한 최종 답변을 작성한다.

최종 답변 (final_answer)
제 1 도전성 경로, 상기 제 1 다이의 상기 제 1 회로 구성요소, 상기 제 3 다이의 상기 제 1 회로 구성요소, 상기 제 1 제어 회로
핵심 해석 (core_interpretation)
본 발명은 인터페이스 다이와 다이 스택 간의 통신을 위해 도전성 경로, 각 다이의 회로 구성요소 및 인터페이스 다이의 제어 회로를 결합하여 메모리 볼트를 형성하는 기술에 관한 것이다.