문맥 (context)
[청구항 1]
제1 반도체층을 갖는 제1 박막 트랜지스터
상기 제1 반도체층과는 다른 반도체 물질로 이루어진 제2 반도체층을 갖는 제2 박막 트랜지스터; 및
상기 제1 반도체층과 상기 제2 반도체층 사이의 절연막 상에 구비되거나, 상기 제1 반도체층 상에 덮여진 베리어층을 포함하고,
상기 베리어층은 al 2 o 3 , sialon, tio x , tao x , hfo x , lao x , 고저항 산화물 반도체 중 어느 하나 이상을 포함하는 박막 트랜지스터 기판
[청구항 2]
제 1 항에 있어서,상기 제1 반도체층이 폴리 실리콘 반도체를 포함하고, 상기 제2 반도체층이 상기 고저항 산화물 반도체 보다 저항이 낮은 산화물 반도체포함하는박막 트랜지스터 기판.
[청구항 3]
제 2 항에 있어서,기판 상에 구비된 차광층; 상기 차광층을 덮는 버퍼층; 및 상기 버퍼층과 상기 절연막 사이에 구비되어 상기 제1 반도체층을 덮는 제1 게이트 절연막; 상기 베리어층 상에 구비된 제2 중간 절연막; 및 상기 제2 중간 절연막 상에 구비된 보호막을 더 포함하고,상기 베리어층이 상기 절연막 상구비된박막 트랜지스터 기판.
[청구항 4]
제 3 항에 있어서,상기 제1 박막 트랜지스터는 상기 제1 게이트 절연막을 사이에 두고 상기 제1 반도체층과 중첩되는 제1 게이트 전극; 상기 제2 중간 절연막, 상기 베리어층, 상기 절연막, 및 상기 게이트 절연막을 관통하는 제1 콘택홀을 통해 상기 제1 반도체층의 소스 영역에 접촉된 제1 소스 전극; 상기 제2 중간 절연막, 상기 베리어층, 상기 절연막, 및 상기 게이트 절연막을 관통하는 제2 콘택홀을 통해 상기 제1 반도체층의 드레인 영역에 접촉된 제1 드레인 전극포함하는박막 트랜지스터 기판.
[청구항 5]
제 4 항에 있어서,상기 제2 박막 트랜지스터는 제2 게이트 절연막을 사이에 두고 상기 제2 반도체층과 중첩되는 제2 게이트 전극; 상기 제2 중간 절연막을 관통하는 제3 콘택홀을 통해 상기 제2 반도체층의 소스 영역에 접촉된 제2 소스 전극; 상기 제2 중간 절연막을 관통하는 제4 콘택홀을 통해 상기 제2 반도체층의 드레인 영역에 접촉된 제2 드레인 전극포함하는박막 트랜지스터 기판.
[청구항 6]
제 2 항에 있어서,기판 상에 구비된 차광층; 상기 차광층을 덮는 버퍼층; 및 상기 베리어층과, 상기 절연막 사이에 구비된 제1 게이트 절연막; 상기 절연막 상에 구비된 제2 중간 절연막; 및 상기 제2 중간 절연막 상에 구비된 보호막을 더 포함하고,상기 베리어층이 상기 제1 반도체층덮는박막 트랜지스터 기판.
[청구항 7]
제 6 항에 있어서,상기 제1 박막 트랜지스터는 상기 제1 게이트 절연막을 사이에 두고 상기 제1 반도체층과 중첩되는 제1 게이트 전극; 상기 제2 중간 절연막, 상기 절연막, 상기 게이트 절연막 및 상기 베리어층을 관통하는 제1 콘택홀을 통해 상기 제1 반도체층의 소스 영역에 접촉된 제1 소스 전극; 상기 제2 중간 절연막, 상기 절연막, 상기 게이트 절연막 및 상기 베리어층을 관통하는 제2 콘택홀을 통해 상기 제1 반도체층의 드레인 영역에 접촉된 제1 드레인 전극포함하는박막 트랜지스터 기판.
[청구항 8]
제 7 항에 있어서,상기 제2 박막 트랜지스터는 제2 게이트 절연막을 사이에 두고 상기 제2 반도체층과 중첩되는 제2 게이트 전극; 상기 제2 중간 절연막을 관통하는 제3 콘택홀을 통해 상기 제2 반도체층의 소스 영역에 접촉된 제2 소스 전극; 상기 제2 중간 절연막을 관통하는 제4 콘택홀을 통해 상기 제2 반도체층의 드레인 영역에 접촉된 제2 드레인 전극포함하는박막 트랜지스터 기판.
지시문 (instruction)
주어진 본문을 읽고 관련 정보를 분석하여 질문에 답하라.
질문 (question)
베리어층이 제1 반도체층 상에 덮여 있는 경우, 제1 박막 트랜지스터의 소스 및 드레인 전극이 관통해야 하는 층들은 무엇인가?
추론 과정 (compact_reasoning)
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1과제 해석
task_interpretation베리어층이 제1 반도체층 상에 덮여 있는 구조에서, 제1 박막 트랜지스터의 소스 및 드레인 전극이 관통해야 하는 층들을 식별해야 한다.
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2정보 추출
information_extraction베리어층이 제1 반도체층을 덮는 경우에 대한 구성은 청구항 6에 기술되어 있으며, 해당 조건에서의 전극 관통 구조는 청구항 7에 명시되어 있다.
- 상기 베리어층이 상기 제1 반도체층덮는박막 트랜지스터 기판
- 상기 제2 중간 절연막, 상기 절연막, 상기 게이트 절연막 및 상기 베리어층을 관통하는 제1 콘택홀을 통해 상기 제1 반도체층의 소스 영역에 접촉된 제1 소스 전극; 상기 제2 중간 절연막, 상기 절연막, 상기 게이트 절연막 및 상기 베리어층을 관통하는 제2 콘택홀을 통해 상기 제1 반도체층의 드레인 영역에 접촉된 제1 드레인 전극
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3근거 선택
evidence_selection청구항 7에서 제1 소스 전극과 제1 드레인 전극이 관통하는 층들을 명시한 구절을 선택한다.
- 상기 제2 중간 절연막, 상기 절연막, 상기 게이트 절연막 및 상기 베리어층을 관통하는 제1 콘택홀을 통해 상기 제1 반도체층의 소스 영역에 접촉된 제1 소스 전극; 상기 제2 중간 절연막, 상기 절연막, 상기 게이트 절연막 및 상기 베리어층을 관통하는 제2 콘택홀을 통해 상기 제1 반도체층의 드레인 영역에 접촉된 제1 드레인 전극
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4논리 통합
logical_integration청구항 7에 따르면, 소스 전극과 드레인 전극은 모두 동일하게 제2 중간 절연막, 절연막, 게이트 절연막, 그리고 베리어층을 관통하여 제1 반도체층에 접촉한다.
- 상기 제2 중간 절연막, 상기 절연막, 상기 게이트 절연막 및 상기 베리어층을 관통하는 제1 콘택홀을 통해 상기 제1 반도체층의 소스 영역에 접촉된 제1 소스 전극; 상기 제2 중간 절연막, 상기 절연막, 상기 게이트 절연막 및 상기 베리어층을 관통하는 제2 콘택홀을 통해 상기 제1 반도체층의 드레인 영역에 접촉된 제1 드레인 전극
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5결론 도출
conclusion_formulation관통해야 하는 층은 제2 중간 절연막, 절연막, 게이트 절연막, 베리어층이다.
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6답변 생성
answer_generation질문에 따라 관통해야 하는 층들을 리스트 형식으로 작성한다.
최종 답변 (final_answer)
베리어층이 제1 반도체층 상에 덮여 있는 경우 제2 중간 절연막, 절연막, 게이트 절연막, 베리어층을 관통해야만 제1 박막 트랜지스터의 소스 및 드레인 전극을 제1 반도체층에 연결할 수 있다.
핵심 해석 (core_interpretation)
베리어층이 제1 반도체층 상부에 배치된 구조에서, 제1 박막 트랜지스터의 소스 및 드레인 전극은 제2 중간 절연막, 절연막, 게이트 절연막 및 베리어층을 모두 관통하여 제1 반도체층에 연결된다.