문단 (context)
Silicon 검증은 Silicon Characterization으로 표현되며 IP가 가지는 제반 전기적 성능을 도출하는 과정이라고 볼 수 있다. 일부에서는 Test라는 표현을 쓰기도 하지만 Test는 성능 도출 보다 Pass/Fail을 가리는 목적이 보다 강하므로 Characterization 이라는 표현이 적절할 것이라 본다. Silicon Characterization은 모든 성능 파라미터를 Measurement를 통해 도출하는 것이 목표가 되어야 하며 Measurement를 함에 있어 제약사항이 있다면 해당 사항을 기술하여 Risk Management가 될 수 있도록 해야 한다. Silicon Characterization을 함에 있어 PVT(Process, Voltage, Temperature)에 따른 성능 Variation이 도출되어야 하며 만일 Corner Lot 미진행 등으로 Process Variation을 확인하지 못한 경우라면 이에 대한 Limitation을 기술하도록 한다.
기계독해 질의응답 4건
| question_id | 질문 | 답변 불가 | 정답 |
|---|---|---|---|
| 981273 | IP가 가지는 제반 전기적 성능을 도출하는 과정으로 볼 수 있는 게 뭐야 | 가능 | Silicon 검증 |
| 981274 | 무엇을 IP가 지니는 제반 전기적 기능을 도출하는 과정으로 볼 수 있지 | 가능 | Silicon 검증 |
| 981275 | IP의 제반 전기적 성능을 이끌어내는 과정이 뭘까 | 가능 | Silicon 검증 |
| 981276 | IP가 가지는 고유 주소를 도출하는 과정으로 볼 수 있는 게 무엇인가 | 불가 | Silicon 검증 |