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청구항 목록 (server1). 청구항 텍스트의 태그를 그대로 표시합니다. "가공데이터"를 누르면 해당 출원의 CoT 가공 결과가 팝업으로 열립니다.

초기화 COMPONENT RELATION_* RELATION_SEP PATENT_ITEM
출원번호청구항순번청구항 텍스트 (XML)청구항 속성
1019997012484 4 4 <ANY>δ축전류지령치 * 와 δ축전류치 또는 δ축전류추정치 의 편차를 입력받고 δ축전압 지령치 us *</ANY><RELATION_10>를 출력하는</RELATION_10> <COMPONENT>δ축전류제어기</COMPONENT>, 독립항-공개공보 가공데이터
1019997012484 4 5 <ANY>2차 자속의 크기에 관계된 2차 계자전류의 지령치 imr* 와 축전류 또는 축전류추정치 의 편차를 제 2 편차로서 입력받고 축전압지령치 us *</ANY><RELATION_10>를 출력하는</RELATION_10> <COMPONENT>축전류제어기</COMPONENT>, 독립항-공개공보 가공데이터
1019997012484 4 6 <ANY>상기 전압지령치 usδ* ,us * 를 상기 전압지령치의 크기와 위상</ANY><RELATION_71>으로 변환하는</RELATION_71> <COMPONENT>극좌표변환기</COMPONENT>, 독립항-공개공보 가공데이터
1019997012484 4 7 <ANY>상기 제 1 및 제 2 편차를 입력받고 슬립각주파수지령치</ANY> <RELATION_26>를 결정하는</RELATION_26> <COMPONENT>슬립각주파수 연산기</COMPONENT>, 독립항-공개공보 가공데이터
1019997012484 4 8 <ANY>상기 속도추정치 와 상기 슬립각주파수지령치 를 가산함으로써 결정된 -δ좌표축의 회전속도</ANY><RELATION_436206>를 각도로 변환하는</RELATION_436206> <COMPONENT>적분기</COMPONENT>, 독립항-공개공보 가공데이터
1019997012484 4 9 <ANY>상기 극좌표변환기의 출력과 상기 적분기로부터 출력된 -δ회전좌표축의 위치를 입력받고, pwm신호를 생성하여 상기 유도전동기</ANY><RELATION_163>를 구동하는</RELATION_163> <COMPONENT>인버터회로</COMPONENT>, 독립항-공개공보 가공데이터
1019997012484 4 10 <ANY>고정자전류 isu, isv로부터 3상전류를 검출하고 상기 검출된 3상전류</ANY><RELATION_436205>를 2상교류전류로 변환하는</RELATION_436205> <COMPONENT>3상2상 변환기,</COMPONENT> 및 독립항-공개공보 가공데이터
1019997012484 4 11 <ANY>상기 2상교류전류로부터 -δ좌표축의 위치를 이용하여 좌표변환된 , 와 상기 전압지령치 us *, usδ*를 입력받고, 소정의 연산을 수행하고, -δ좌표계의 상기 고정자전류의 추정치 , 및 유도기전력의 추정치 , 를 출력하는</ANY> <COMPONENT>고정자전류 및 유도기전력추정기</COMPONENT><RELATION_3>를 포함하는</RELATION_3> 것<RELATION_SEP>을 특징으로 하는</RELATION_SEP> <PATENT_ITEM>유도전동기 제어장치</PATENT_ITEM> 독립항-공개공보 가공데이터
1020000000031 1 1 <ANY>헤드와 서셉터를 구비하는</ANY> <PATENT_ITEM>화학 기상 성장 장치</PATENT_ITEM><RELATION_PRE><RELATION_2>에 있어서</RELATION_2></RELATION_PRE>, 독립항-공개공보 가공데이터
1020000000031 1 2 <ANY>상기 서셉터에 설치되며 초음파</ANY><RELATION_3605>를 발사하는</RELATION_3605> <COMPONENT>다수개의 초음파 송신 수단들</COMPONENT>; 및 독립항-공개공보 가공데이터
1020000000031 1 3 <ANY>상기 헤드에 설치되며 상기 초음파 송신 수단에서 발사되는 초음파를 수신하여 상기 헤드와 상기 서셉터 사이의 갭을 측정하는</ANY> <COMPONENT>다수개의 센서들</COMPONENT><RELATION_6>을 구비하는</RELATION_6> 것<RELATION_SEP>을 특징으로 하는</RELATION_SEP> <PATENT_ITEM>화학 기상 성장 장치</PATENT_ITEM> 독립항-공개공보 가공데이터
1020000001176 14 1 <ANY>전자부품기판의 기판단자가 노출되도록 상기 전자부품기판의 양측단부는 이동이 자유롭게 삽입된 유지 홈</ANY><RELATION_13>이 형성된</RELATION_13> <COMPONENT>인서트</COMPONENT>와, 독립항-공개공보 가공데이터
1020000001176 14 2 <ANY>상기 전자부품기판의 기판단자가 노출되도록, 상기 인서트를 유지하는</ANY> <COMPONENT>트레이 프레임</COMPONENT><RELATION_15>을 가지는</RELATION_15> 것<RELATION_SEP>을 특징으로 하는</RELATION_SEP> <PATENT_ITEM>전자부품 기판시험용 트레이</PATENT_ITEM> 독립항-공개공보 가공데이터
1020000001176 18 1 <COMPONENT>제 14항의 전자부품기판 시험용 트레이</COMPONENT>와 독립항-공개공보 가공데이터
1020000001176 18 2 <ANY>전자부품기판의 기판단자가 착탈</ANY><RELATION_436270>이 자유롭게 삽입된</RELATION_436270> <COMPONENT>시험용 소켓</COMPONENT>과, 독립항-공개공보 가공데이터
1020000001176 18 3 <ANY>상기 전자부품기판이 전자부품기판 시험용 트레이 내에 장착된 상태에서, 전자부품기판의 기판단자를 시험용 소켓내에 밀어 넣는</ANY> <COMPONENT>보드 푸셔</COMPONENT><RELATION_15>를 가지는</RELATION_15> 것<RELATION_SEP>을 특징으로 하는</RELATION_SEP> <PATENT_ITEM>전자부품기판의 시험장치</PATENT_ITEM> 독립항-공개공보 가공데이터
1020000001176 1 1 <ANY>시험전 및 시험후의 전자부품기판을 격납하는 격납부와, 상기 시험전의 전자부품기판을 시험하는 측정부</ANY><RELATION_2315>를 적어도 구비하고</RELATION_2315>, 독립항-공개공보 가공데이터
1020000001176 1 2 <COMPONENT>(1) 상기 격납부</COMPONENT>에는, 독립항-공개공보 가공데이터
1020000001176 1 3 <ANY>제1 트레이가 독립하여 상하방향</ANY><RELATION_926>으로 수납된</RELATION_926> <COMPONENT>제1 트레이 수납부</COMPONENT>와, 독립항-공개공보 가공데이터
1020000001176 1 4 <ANY>제2 트레이가 독립하여 상하방향</ANY><RELATION_926>으로 수납된</RELATION_926> <COMPONENT>제2 트레이 수납부</COMPONENT>와, 독립항-공개공보 가공데이터
11061–11080번째 행