CoT 데이터셋 뷰어
원천데이터

특허 지식베이스 원천데이터

청구항 목록 (server1). 청구항 텍스트의 태그를 그대로 표시합니다. "가공데이터"를 누르면 해당 출원의 CoT 가공 결과가 팝업으로 열립니다.

초기화 COMPONENT RELATION_* RELATION_SEP PATENT_ITEM
출원번호청구항순번청구항 텍스트 (XML)청구항 속성
1019990051163 5 6 <ANY>상기 제 2 필터링부에서 여파되어 출력되는 무전기용 rf신호의 전력</ANY><RELATION_433585>을 송신전력으로 증폭하는</RELATION_433585> <COMPONENT>제 2 증폭부와</COMPONENT> 독립항-공개공보 가공데이터
1019990051163 5 7 <ANY>상기 제 2 증폭부</ANY><RELATION_575>에서 출력되는</RELATION_575> <COMPONENT>무전기용 rf 송신신호를 인터페이싱하는 무전기용 듀플렉서와</COMPONENT> 독립항-공개공보 가공데이터
1019990051163 5 8 <ANY>상기 무전기용 듀플렉서에서 인터페이싱된 무전기용 rf 신호와 상기 이동통신 단말기용 듀플렉서에서 인터페이싱되는 단말기용 rf신호를 각각 분리하여 각각 안테나를 통해 방사하는</ANY> <COMPONENT>rf신호 분리 및 송신부</COMPONENT><RELATION_1>를 포함하여</RELATION_1> 구성됨<RELATION_SEP>을 특징으로 하는</RELATION_SEP> <PATENT_ITEM>무전기 겸용 이동통신 단말기의 rf 송신장치</PATENT_ITEM> 독립항-공개공보 가공데이터
1019990052058 1 1 <ANY>챠지패킷들을 전달하는</ANY> <PATENT_ITEM>전하전송장치</PATENT_ITEM><RELATION_PRE><RELATION_2>에 있어서</RELATION_2></RELATION_PRE> 독립항-공개공보 가공데이터
1019990052058 1 2 <ANY>제 1 폭을 가지며, 상기 챠지패킷들을 형성하는 전하량에 따라서 포텐셜레벨</ANY> <RELATION_622993>이 변화되는</RELATION_622993> <COMPONENT>플로팅확산영역</COMPONENT>과 독립항-공개공보 가공데이터
1019990052058 1 3 <ANY>제 1 폭보다 큰 제 2 폭을 갖는 전달서브영역과, 상기 전달서브영역보다 상기 플로팅확산영역에 인접하고 상기 제 2 폭에서 상기 제 1 폭으로 감소된 경계서브영역</ANY><RELATION_3>을 포함하는</RELATION_3> <COMPONENT>전하전송영역</COMPONENT>과; 그리고 독립항-공개공보 가공데이터
1019990052058 1 4 <ANY>상기 전하전송영역과 용량결합되어, 상기 전하전송영역내에 포텐셜웰들과 상기 포텐셜웰들사이의 포텐셜배리어를 생성하고, 구동신호에 응답하여 상기 포텐셜웰들을 통해 상기 챠지패킷들을 순차적으로 전달하는</ANY> <COMPONENT>복수개의 전하전송전극</COMPONENT><RELATION_8>을 구비하고</RELATION_8>, 독립항-공개공보 가공데이터
1019990052058 1 5 <ANY>상기 경계서브영역은 나머지 위치들보다 상기 플로팅확산영역에 인접한</ANY> <COMPONENT>위치</COMPONENT><RELATION_25>를 가지며</RELATION_25>, 독립항-공개공보 가공데이터
1019990052058 1 6 <ANY>최종 전하전송전극은 상기 복수개의 전하전송전극에 포함되고, 상기 경계서브영역과 용량결합되어, 상기 위치에 최종 포텐셜웰을 생성하고, 상기 구동신호에 응답하여 상기 챠지패킷들을 상기 포텐셜웰들중의 하나로부터 상기 최종 포텐셜웰을 통해</ANY> <COMPONENT>상기 플로팅확산영역으로 연속적</COMPONENT><RELATION_124>으로 전달하는</RELATION_124> 것<RELATION_SEP>을 특징으로 하는</RELATION_SEP> <PATENT_ITEM>전하전송장치</PATENT_ITEM> 독립항-공개공보 가공데이터
1019990052501 1 1 <ANY>다양한 시험 환경</ANY><RELATION_21>을 제공하는</RELATION_21> <COMPONENT>외부 인터페이스 모드</COMPONENT>와 독립항-공개공보 가공데이터
1019990052501 1 2 <ANY>각 dte 사이에 연결되어 상기 dte의 연동을 통한 기능 시험을 수행하는</ANY> <COMPONENT>웬 시험 장치</COMPONENT><RELATION_3>를 포함하는</RELATION_3> 것<RELATION_SEP>을 특징으로 하는</RELATION_SEP> <PATENT_ITEM>디티이 연동이 가능한 웬 시험 장치</PATENT_ITEM> 독립항-공개공보 가공데이터
1019990052501 6 1 <ANY>dte 또는 dce와의 기계적인 인터페이스를 제공하는 웬 시험 장치</ANY><RELATION_PRE><RELATION_2>에 있어서</RELATION_2></RELATION_PRE>, 독립항-공개공보 가공데이터
1019990052501 6 2 <ANY>외부 장비 연동 상태에 따라 제어 신호와 클럭 신호 및 데이터 신호의 연결 상태</ANY><RELATION_530>를 전환하는</RELATION_530> <COMPONENT>연결 상태 전환부와</COMPONENT> 독립항-공개공보 가공데이터
1019990052501 6 3 <ANY>외부 인터페이스 모드에 따라 클럭 신호와 반송 검출 신호 및 데이터 신호 등에 대한 신호 특성</ANY><RELATION_70>을 조절하는</RELATION_70> <COMPONENT>라인 구동 및 수신부와</COMPONENT> 독립항-공개공보 가공데이터
1019990052501 6 4 <ANY>wan 시험 장치의 동작 모드에 따라 클럭 신호와 반송 검출 신호를 분주하거나, 상기 반송 검출 신호와 수신 데이터 신호의 에러 패턴</ANY><RELATION_16>을 제어하는</RELATION_16> <COMPONENT>제어 로직부</COMPONENT>와 독립항-공개공보 가공데이터
1019990052501 6 5 <ANY>wan 시험 장치의 연동 상태나 외부 인터페이스 상태 등과 같은 각종 동작 모드</ANY><RELATION_3760>를 셋팅하는</RELATION_3760> <COMPONENT>동작 모드 셋팅부와</COMPONENT> 독립항-공개공보 가공데이터
1019990052501 6 6 <ANY>상기 제어 로직부의 클럭 신호 분주를 위한 클럭 소스</ANY><RELATION_21>를 제공하는</RELATION_21> <COMPONENT>클럭 소스부와</COMPONENT> 독립항-공개공보 가공데이터
1019990052501 6 7 <ANY>wan 시험 장치의 인터페이스 모드 및 제어 신호에 대한 상태를 표시해 주는</ANY> <COMPONENT>디스플레이부</COMPONENT><RELATION_69>를 더 포함하는</RELATION_69> 것<RELATION_SEP>을 특징으로 하는</RELATION_SEP> <PATENT_ITEM>디티이 연동이 가능한 웬 시험 장치</PATENT_ITEM> 독립항-공개공보 가공데이터
1019990052617 1 1 <ANY>피가공물의 피가공면에 대해 자외선을 조사하여 그 세정 또는 개질</ANY><RELATION_120>을 수행하기 위한</RELATION_120> <PATENT_ITEM>자외선의 조사장치</PATENT_ITEM>로서, 독립항-공개공보 가공데이터
1019990052617 1 2 <ANY>상기 피가공면의 최대 직경 이상의 길이</ANY><RELATION_112010>를 갖는 유전체 배리어</RELATION_112010> <COMPONENT>방전램프</COMPONENT>와, 독립항-공개공보 가공데이터
10241–10260번째 행